[實用新型]一種智能化探針測試平臺

有效

• 申請號: 201921113621.5
• 申請日: 2019-07-16
• 公開（公告）號: CN210514487U
• 公開（公告）日: 2020-05-12
• 發明（設計）人: 鄧章
• 申請（專利權）人: 珠海達明科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/28;G01D21/02
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 王賢義

本實用新型公開并提供了一種智能化探針測試平臺及。本實用新型包括測試控制箱體（1）、測試支撐架（2）、往復接觸測試機構（3）以及測試夾具（4），所述測試支撐架（2）豎直設置在所述測試控制箱體（1）上，所述往復接觸測試機構（3）設置在所述測試支撐架（2）上，所述測試夾具（4）設置在所述測試控制箱體（1）上并置于所述往復接觸測試機構（3）的下方，所述測試控制箱體（1）內設置有數據分析與控制中心，所述往復接觸測試機構（3）以及所述測試夾具（4）分別與所述數據分析與控制中心相連接。本實用新型適用于電子測試、光學測試以及半導體測試領域。

技術領域

本實用新型涉及一種智能化探針測試平臺。

背景技術

在電子產品生產和測試領域，PCBA的電路通斷測試和電子功能測試，需要進行扎針上電并獲取產品的電子信號。針對測試行業的探針結構、老化測試機臺、探針模組結構等，均有一批專利描述，利用探針接觸待測產品進行電阻值測量的專用模組和設備，如一種探針壽命測試儀CN201620605608.1、探針測試裝置CN02200491.2，探針使用壽命測試機CN201720702677.9以及集成電路測試探針卡的結構CN200810304545.6等。

傳統探針測試平臺注重結構設計，針對智能設備式的控制、測試、數據采集與分析并無針對性設計。傳統探針測試專利多針對探針結構、探針模組結構設計，該類創新保證了運動和扎針配合的精密性，但該類設備僅面向半自動或自動化測試要求。同時傳統測試結構多用于電子產品電路板通斷測試或電阻測試，測試功能相對較單一。傳統探針測試設備均只能作離線數據分析，對數據分析的功能過于單一，分析結果依賴于其他數據處理軟件。傳統探針測試設備并未注重數據采集與分析層面，因此未能滿足自動化設備未來擴展性的智能化需求。傳統的數據分析多針對批量數據進行常用的統計性分析，包括最大、最小值、均值、均方差。此類分析內容可以大概的反映測試結果和穩定性分布，確無法反映產品更多細致的信息。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題是克服現有技術的不足，提供一種智能化探針測試平臺。本實用新型在傳統自動化測試基礎上，增加智能數據采集模塊與智能分析模塊，對設備運行的產品數據進行實時監控與分析，當系統運行數據出現異常可進行及時預警，或提前預報維護。

本實用新型所采用的技術方案是：本實用新型中的智能化探針測試平臺包括測試控制箱體、測試支撐架、往復接觸測試機構以及測試夾具，所述測試支撐架豎直設置在所述測試控制箱體上，所述往復接觸測試機構設置在所述測試支撐架上，所述測試夾具設置在所述測試控制箱體上并置于所述往復接觸測試機構的下方，所述測試控制箱體內設置有數據分析與控制中心，所述往復接觸測試機構以及所述測試夾具分別與所述數據分析與控制中心相連接。

所述往復接觸測試機構包括步進電機、曲柄連桿、升降滑動塊以及探針壓板，所述步進電機固定設置在所述測試支撐架的背面，所述曲柄連桿的轉動端通過聯軸器與所述步進電機的輸出端相連接并置于所述測試支撐架的正面，所述測試支撐架的正面豎直設置有豎直滑軌，所述升降滑動塊適配滑動設置在所述豎直滑軌上并與所述曲柄連桿的末端相連接，所述探針壓板固定設置在所述升降滑動塊的底部，所述探針壓板的底部設置有探針測試模組，所述步進電機以及所述探針測試模組分別與所述數據分析與控制中心相連接。

所述測試支撐架的正面還設置有限位傳感器，所述限位傳感器置于所述豎直滑軌的一側，所述升降滑動塊上設置有到位橫桿，所述位橫桿置于所述限位傳感器中，所述限位傳感器與所述數據分析與控制中心相連接。

所述探針測試模組上分別設置有壓力傳感器、振動傳感器以及溫控傳感器，所述升降滑動塊上設置有運動速度及加速度傳感器，所述壓力傳感器、所述振動傳感器、所述溫控傳感器以及所述運動速度及加速度傳感器分別與所述數據分析與控制中心相連接。

所述測試控制箱體上設置有數據分析顯示屏，所述數據分析顯示屏與所述數據分析與控制中心相連接。