[實(shí)用新型]檢測(cè)組件

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201921086750.X
• 申請(qǐng)日: 2019-07-12
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN210741813U
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-06-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李昌遠(yuǎn)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 儀銳實(shí)業(yè)有限公司
• 主分類號(hào): G01M11/02
• 分類號(hào): G01M11/02
• 代理公司: 北京北新智誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11100
• 代理人: 朱麗華

本實(shí)用新型提供一種適用于檢測(cè)一光學(xué)裝置的檢測(cè)組件，其包括測(cè)試圖案單元、光源、鏡頭以及驅(qū)動(dòng)單元。光源提供光線穿透測(cè)試圖案單元。測(cè)試圖案單元和鏡頭位于同一軸在線，且位于光源和鏡頭之間。而驅(qū)動(dòng)單元用以驅(qū)動(dòng)測(cè)試圖案單元沿著軸線位移，以調(diào)整測(cè)試圖案單元和鏡頭之間的距離。

技術(shù)領(lǐng)域

本新型關(guān)于一種檢測(cè)組件，尤其指一種可調(diào)整物距的檢測(cè)組件，適用于對(duì)光學(xué)裝置進(jìn)行不同物距的光學(xué)檢測(cè)。

背景技術(shù)

科技的演進(jìn)使得光學(xué)裝置，如鏡頭或相機(jī)模塊，在尺寸、規(guī)格和使用方式上都有所改變，而由于光學(xué)裝置在出廠前都會(huì)經(jīng)過(guò)光學(xué)測(cè)試以確保其質(zhì)量，其需要測(cè)試的項(xiàng)目也跟著增加。光學(xué)檢測(cè)最早是用無(wú)窮遠(yuǎn)處對(duì)焦的設(shè)備，其利用平行光產(chǎn)生成像，可為正投影檢測(cè)或逆投影檢測(cè)；后來(lái)的近拍技術(shù)就需要光學(xué)裝置通過(guò)有限距離的對(duì)焦檢測(cè)。因此，現(xiàn)今許多光學(xué)裝置都需要經(jīng)過(guò)無(wú)窮遠(yuǎn)處和有限距離這兩種對(duì)焦檢測(cè)。

圖1A顯示公知用以檢測(cè)光學(xué)裝置的檢測(cè)裝置示意圖。檢測(cè)裝置101 具有光源130、測(cè)試圖案132、準(zhǔn)直儀140、影像傳感器110和計(jì)算裝置 160。光源130發(fā)出光線照射并穿透測(cè)試圖案132，形成圖案化光型，圖案化光型通過(guò)待測(cè)裝置120后由準(zhǔn)直儀140模擬成具無(wú)窮遠(yuǎn)處的成像照射于影像傳感器110上，而后計(jì)算裝置160擷取影像傳感器110的影像數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。

圖1B顯示另一種公知用以檢測(cè)光學(xué)裝置的檢測(cè)裝置示意圖。檢測(cè)裝置102與圖1B的檢測(cè)裝置101相似，差異在于檢測(cè)裝置102中的待測(cè)裝置120到準(zhǔn)直儀140之間的光路，產(chǎn)生的是虛像。且測(cè)試圖案132可以移到測(cè)試圖案133的位置對(duì)待測(cè)裝置120進(jìn)行不同的有限距離的對(duì)焦測(cè)試。

換言之，于公知技術(shù)中，在完成對(duì)待測(cè)裝置進(jìn)行無(wú)窮遠(yuǎn)處的對(duì)焦測(cè)試后，需要先移開(kāi)準(zhǔn)直儀，然后依需求移動(dòng)測(cè)試圖案到適當(dāng)位置以便進(jìn)行有限距離的對(duì)焦測(cè)試，且每次檢測(cè)新的待測(cè)裝置時(shí)，都需要重復(fù)上述移動(dòng)準(zhǔn)直儀及測(cè)試圖案的步驟。此作法不但費(fèi)時(shí)，也很不方便。

實(shí)用新型內(nèi)容

因此，為了克服公知技術(shù)的不足之處，本實(shí)用新型實(shí)施例所述的檢測(cè)組件利用驅(qū)動(dòng)單元調(diào)整測(cè)試圖案單元和鏡頭之間的距離，使鏡頭可以根據(jù)測(cè)試圖案的距離而投射出無(wú)窮遠(yuǎn)處的成像或有限距離的成像，以便在使用同一檢測(cè)組件的情況下對(duì)待測(cè)的光學(xué)裝置進(jìn)行無(wú)窮遠(yuǎn)處和有限距離兩種對(duì)焦檢測(cè)。

本實(shí)用新型的目的為提供一種適用于檢測(cè)一光學(xué)裝置的檢測(cè)組件，包括測(cè)試圖案單元、光源、驅(qū)動(dòng)單元以及底座。所述測(cè)試圖案單元、光源以及驅(qū)動(dòng)單元設(shè)置于所述底座上。測(cè)試圖案單元具有測(cè)試圖案，而光源具有光線以供穿透測(cè)試圖案。驅(qū)動(dòng)單元連接測(cè)試圖案單元，用以驅(qū)動(dòng)測(cè)試圖案單元沿著光線穿透測(cè)試圖案的軸線進(jìn)行位移。

本實(shí)用新型的另一目的為提供一種適用于檢測(cè)一光學(xué)裝置的檢測(cè)組件，包括測(cè)試圖案單元、光源、驅(qū)動(dòng)單元、鏡頭以及底座，其中所述測(cè)試圖案單元、光源、驅(qū)動(dòng)單元以及鏡頭設(shè)于所述底座。測(cè)試圖案單元和鏡頭位于同一軸線，且測(cè)試圖案單元位于光源和鏡頭之間。驅(qū)動(dòng)單元連接測(cè)試圖案單元且驅(qū)動(dòng)測(cè)試圖案單元沿著軸線位移，以調(diào)整測(cè)試圖案單元和鏡頭之間的距離。

可選地，所述光源設(shè)置于所述驅(qū)動(dòng)單元和所述測(cè)試圖案單元之間。

可選地，所述光源連接所述測(cè)試圖案單元，且當(dāng)所述測(cè)試圖案單元位移時(shí)，所述光源連動(dòng)的位移。

可選地，所述檢測(cè)組件更包括設(shè)置于底座之軌道，其中所述測(cè)試圖案單元設(shè)于其上且沿著軌道位移。

可選地，所述檢測(cè)組件更包括鏡頭架，用以架設(shè)一鏡頭于所述軸在線，其中所述測(cè)試圖案單元位于所述光源和鏡頭之間。另外，所述驅(qū)動(dòng)單元驅(qū)動(dòng)所述測(cè)試圖案單元沿著所述軸線位移以調(diào)整測(cè)試圖案單元和鏡頭之間的距離。

可選地，所述驅(qū)動(dòng)單元為馬達(dá)。

可選地，所述鏡頭為定焦鏡頭。