[實用新型]一種超微量元素分析儀用可調節底座

有效

• 申請號: 201921081574.0
• 申請日: 2019-07-11
• 公開（公告）號: CN210534167U
• 公開（公告）日: 2020-05-15
• 發明（設計）人: 沈恒文;林旭斌;金修領;吉雙平;郝小峰;劉彤輝
• 申請（專利權）人: 江蘇艾匹克半導體設備有限公司
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00
• 代理公司: 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙) 11411
• 代理人: 黃冠華

1.一種超微量元素分析儀用可調節底座，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的頂部設置有支撐板(2)，所述支撐板(2)的頂部固定連接有分析儀本體(3)，所述底座(1)的內部開設有動力槽(4)，所述動力槽(4)內壁的頂部固定連接有電機(5)，所述電機(5)的底部固定連接有螺桿(6)，所述螺桿(6)的底部與動力槽(4)內壁的底部活動連接，所述螺桿(6)表面的頂部螺紋連接有螺套(7)，所述螺套(7)的正面通過轉軸活動連接有第一傳動桿(8)，所述第一傳動桿(8)背面的底部通過轉軸活動連接有第一連接塊(9)，所述第一連接塊(9)的底部與動力槽(4)內壁的底部滑動連接，所述第一連接塊(9)的背面通過轉軸活動連接有第二傳動桿(10)，所述第二傳動桿(10)正面的頂部通過轉軸活動連接有第二連接塊(11)，所述第二連接塊(11)的頂部固定連接有傳動板(12)，所述傳動板(12)頂部的兩側均固定連接有調節柱(13)，所述調節柱(13)的頂部與支撐板(2)的底部固定連接。

2.根據權利要求1所述的一種超微量元素分析儀用可調節底座，其特征在于：所述傳動板(12)的內部開設有配合電機(5)使用的開口(14)，所述第一連接塊(9)的底部固定連接有限位塊(15)，所述動力槽(4)內壁底部的兩側均開設有配合限位塊(15)使用的限位槽(16)。

3.根據權利要求1所述的一種超微量元素分析儀用可調節底座，其特征在于：所述調節柱(13)的表面套設有卡緊彈簧(17)，所述卡緊彈簧(17)的頂部與支撐板(2)的底部固定連接，所述卡緊彈簧(17)的底部與底座(1)的頂部固定連接。

4.根據權利要求2所述的一種超微量元素分析儀用可調節底座，其特征在于：所述限位槽(16)內壁的兩側均固定連接有防撞墊(18)，所述防撞墊(18)的底部與限位槽(16)內壁的底部固定連接。

5.根據權利要求1所述的一種超微量元素分析儀用可調節底座，其特征在于：所述調節柱(13)的表面套設有密封圈(19)，所述密封圈(19)的頂部與動力槽(4)內壁的頂部固定連接。

6.根據權利要求1所述的一種超微量元素分析儀用可調節底座，其特征在于：所述電機(5)兩側的頂部均固定連接有三角板(20)，所述三角板(20)的頂部與動力槽(4)內壁的頂部固定連接。