[實用新型]一種全自動熱解析樣品盤裝置

有效

• 申請號: 201921031848.5
• 申請日: 2019-07-03
• 公開（公告）號: CN210322541U
• 公開（公告）日: 2020-04-14
• 發明（設計）人: 趙孟衛
• 申請（專利權）人: 上海思達分析儀器有限責任公司
• 主分類號: G01N1/44
• 分類號: G01N1/44
• 代理公司: 上海昱澤專利代理事務所(普通合伙) 31341
• 代理人: 孟波

1.一種全自動熱解析樣品盤裝置，其特征在于，包括第一樣品盤、第二樣品盤、樣品盤底盤、中心轉軸和驅動盤，所述第一樣品盤下設有第二樣品盤，所述第二樣品盤下設有樣品盤底盤，所述全自動熱解析樣品盤裝置中央設有中心轉軸，所述第一樣品盤上均勻設有數個第一樣品管夾持槽，所述第二樣品盤上均勻設有數個第二樣品管夾持槽，所述第一樣品管夾持槽與第二樣品管夾持槽對應設置，所述樣品盤底盤上均勻設有數個樣品盤底盤驅動槽，所述樣品盤底盤與驅動盤連接，所述驅動盤上設有小圓柱體和半圓形柱體。

2.根據權利要求1所述的一種全自動熱解析樣品盤裝置，其特征在于，所述第一樣品盤上均勻設有數個第一凹槽，所述第一凹槽與第一樣品管夾持槽連接，所述第二樣品盤上均勻設有數個第二凹槽，所述第二凹槽與第二樣品管夾持槽連接，所述第一凹槽與第二凹槽對應設置。

3.根據權利要求2所述的一種全自動熱解析樣品盤裝置，其特征在于，所述樣品盤底盤上還設有第三凹槽，所述樣品盤底盤驅動槽與第三凹槽連接。

4.根據權利要求3所述的一種全自動熱解析樣品盤裝置，其特征在于，所述第三凹槽為半圓形凹槽。