[實用新型]一種用于單層微波電容器容損測試的夾具

有效

• 申請號: 201920976807.7
• 申請日: 2019-06-26
• 公開（公告）號: CN210376522U
• 公開（公告）日: 2020-04-21
• 發明（設計）人: 林澤清;曾小力;潘甲東
• 申請（專利權）人: 福建毫米電子有限公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26;G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 泉州君典專利代理事務所(普通合伙) 35239
• 代理人: 傅家強

1.一種用于單層微波電容器容損測試的夾具，其特征在于：包括底座、測試探針、支架和驅動機構，底座設置有用于放置單層微波電容器的放置槽，測試探針與放置槽相對可在第一位置與第二位置之間升降移動地設置在支架上，驅動機構連接并驅動測試探針升降移動，所述放置槽的底面設置有銅排，銅排連接有線纜，當測試探針在第一位置時，測試探針位于放置槽的上方，當測試探針在第二位置時，測試探針下降至放置槽中，單層微波電容器夾緊在銅排與測試探針之間。

2.根據權利要求1所述的一種用于單層微波電容器容損測試的夾具，其特征在于：驅動機構包括設置在支架上沿豎直方向延伸的滑軌、設置在滑軌上可上下滑動的滑塊和驅動滑塊上下移動的驅動裝置，所述支架包括設置在放置槽上方與滑塊連接的連桿，所述測試探針設置在連桿上。

3.根據權利要求2所述的一種用于單層微波電容器容損測試的夾具，其特征在于：所述驅動裝置包括設置在支架上可旋轉的轉動盤、一端與轉動盤活動連接另一端與所述連桿活動連接的連接件、連接并驅動轉動盤轉動的驅動件和設置在驅動盤上限制測試探針處于第一位置或第二位置的限位塊。

4.根據權利要求3所述的一種用于單層微波電容器容損測試的夾具，其特征在于：所述連接件的中部形成有彎曲部，所述支架的頂面形成有讓位孔，所述轉動盤可轉動地設置在讓位孔中，當驅動件驅動轉動盤順時針轉動至限位塊卡在支架頂面時，測試探針處于第一位置，當驅動件驅動轉動盤逆時針向下轉動至限位塊卡在彎曲部時，測試探針處于第二位置。

5.根據權利要求3所述的一種用于單層微波電容器容損測試的夾具，其特征在于：所述驅動件為與轉動盤連接的操作手柄。

6.根據權利要求2至5任一項所述的一種用于單層微波電容器容損測試的夾具，其特征在于：所述測試探針包括殼體、探針、壓縮彈簧和導線，殼體設置在所述連桿上；探針可上下移動設置在殼體中；壓縮彈簧纏繞在探針外周面，一端與探針外壁連接另一端與殼體內壁連接；導線一端伸入殼體中與探針連接，另一端向外延伸。

7.根據權利要求1至5任一項所述的一種用于單層微波電容器容損測試的夾具，其特征在于：所述底座的側面設置有向內延伸至與放置槽連通的讓位孔，讓位孔的底面與放置槽的底面相平，所述銅排一端置于放置槽中，另一端置于讓位孔中。

8.根據權利要求1至5任一項所述的一種用于單層微波電容器容損測試的夾具，其特征在于：所述放置槽為方形槽。

9.根據權利要求1至5任一項所述的一種用于單層微波電容器容損測試的夾具，其特征在于：所述底座為聚四氟乙烯底座。

10.根據權利要求1至5任一項所述的一種用于單層微波電容器容損測試的夾具，其特征在于：還包括底盤，所述支架和底座均設置在底盤上。