[實(shí)用新型]一種量子芯片測(cè)試系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201920957927.2
• 申請(qǐng)日: 2019-06-21
• 公開（公告）號(hào): CN210323273U
• 公開（公告）日: 2020-04-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙勇杰;孔偉成;楊夏;朱美珍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 合肥本源量子計(jì)算科技有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種量子芯片測(cè)試系統(tǒng)，所述量子芯片測(cè)試系統(tǒng)包括：

中空?qǐng)A柱磁體，所述中空?qǐng)A柱磁體的一端設(shè)置有制冷圓盤；

其特征在于：所述量子芯片測(cè)試系統(tǒng)還包括：

屏蔽筒(1)，所述屏蔽筒(1)嵌套在所述中空?qǐng)A柱磁體內(nèi)部，且所述屏蔽筒(1)的開口朝向所述制冷圓盤設(shè)置；

支撐連接板件(2)，所述支撐連接板件(2)的一端固定連接所述制冷圓盤的中心，所述支撐連接板件(2)的另一端伸入所述屏蔽筒(1)內(nèi)，所述支撐連接板件(2)的遠(yuǎn)離所述制冷圓盤的一端設(shè)置有支撐面(23)；

封裝盒體(3)，所述封裝盒體(3)固定設(shè)置在所述支撐面(23)上，所述封裝盒體(3)內(nèi)部封裝有量子芯片，且所述量子芯片平行所述支撐面(23)設(shè)置；

所述封裝盒體(3)遠(yuǎn)離所述支撐面(23)的一側(cè)嵌裝有多個(gè)第一連接器(4)，各所述第一連接器(4)沿所述支撐連接板件(2)的長(zhǎng)度方向交錯(cuò)設(shè)置，且各所述第一連接器(4)的一端伸入所述封裝盒體(3)內(nèi)連接所述量子芯片，各所述第一連接器(4)的另一端連接第一信號(hào)傳輸線，所述第一信號(hào)傳輸線沿所述支撐連接板件(2)的長(zhǎng)度方向延伸。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的量子芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：所述支撐連接板件(2)固定連接所述制冷圓盤的一端有至少兩條平行設(shè)置的加強(qiáng)筋(21)，各所述加強(qiáng)筋(21)沿所述支撐連接板件(2)的長(zhǎng)度方向延伸，且相鄰兩所述加強(qiáng)筋(21)之間形成一信號(hào)槽(22)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的量子芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：所述封裝盒體(3)沿所述支撐連接板件(2)長(zhǎng)度方向的兩相對(duì)側(cè)均固定設(shè)置有法蘭盤(31)；

所述支撐面(23)上有兩排平行設(shè)置的固定孔(231)，各排所述固定孔(231)與所述法蘭盤(31)對(duì)應(yīng)設(shè)置并固定連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的量子芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：兩排所述固定孔(231)之間的所述支撐面(23)上設(shè)置有貫穿所述支撐連接板件(2)的第一避讓孔(232)，所述封裝盒體(3)的底部嵌裝在所述第一避讓孔(232)內(nèi)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的量子芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：所述中空?qǐng)A柱磁體的平行所述支撐面(23)的軸向切面為第一切面；

所述量子芯片平行所述第一切面設(shè)置，且位于所述第一切面上或者所述第一切面的附近±5mm范圍內(nèi)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的量子芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：所述屏蔽筒(1)和所述中空?qǐng)A柱磁體間隙配合。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的量子芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：所述封裝盒體(3)的第一側(cè)上嵌裝有一個(gè)第二連接器(5)；

其中：所述第一側(cè)為所述封裝盒體(3)的垂直所述支撐面(23)、垂直所述支撐連接板件(2)長(zhǎng)度方向、且靠近所述制冷圓盤的一側(cè)；

所述第二連接器(5)的一端伸入所述封裝盒體(3)內(nèi)連接所述量子芯片，所述第二連接器(5)的另一端連接第二信號(hào)傳輸線，所述第二信號(hào)傳輸線沿所述支撐連接板件(2)的長(zhǎng)度方向延伸。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的量子芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：所述中空?qǐng)A柱磁體和所述制冷圓盤之間還設(shè)置有第一過濾組件(6)；

所述第一信號(hào)傳輸線和第二信號(hào)傳輸線均接入所述第一過濾組件(6)的輸入端，所述第一過濾組件(6)的輸出端連接量子芯片測(cè)試機(jī)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的量子芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：所述第一過濾組件(6)包括散熱支撐架(61)和第一過濾器組件(62)；

所述散熱支撐架(61)垂直設(shè)置在所述制冷圓盤上，并朝向所述中空?qǐng)A柱磁體延伸；

所述第一過濾器組件(62)設(shè)置在所述散熱支撐架(61)上。