[實用新型]一種物體三維形貌測量裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201920937394.1
• 申請日: 2019-06-20
• 公開（公告）號: CN209820424U
• 公開（公告）日: 2019-12-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李勇;魏一振;張卓鵬
• 申請（專利權(quán)）人: 杭州光粒科技有限公司
• 主分類號: G01B11/25
• 分類號: G01B11/25
• 代理公司: 33235 杭州華知專利事務(wù)所(普通合伙)
• 代理人: 張德寶

1.一種物體三維形貌測量裝置，其特征在于，包括：模板、支撐架和相機，所述模板設(shè)置于所述支撐架上，所述模板具有預(yù)設(shè)圖案，其用于接收外界陽光的照射并在相對側(cè)形成陰影圖案，所述陰影圖案投影在被測物體上，所述相機拍攝被所述陰影圖案覆蓋的被測物體以得到對應(yīng)的變形圖案，基于所述變形圖案對所述被測物體的三維形貌進(jìn)行測量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種物體三維形貌測量裝置，其特征在于，所述物體三維形貌測量裝置還包括：至少一個反射鏡，沿光線傳播方向，至少一個反射鏡設(shè)置于所述模板的前端，通過至少一個反射鏡改變陽光的照射路線，并使改變后的陽光照射在具有預(yù)設(shè)圖案的模板上。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種物體三維形貌測量裝置，其特征在于，所述物體三維形貌測量裝置還包括：至少一個反射鏡，沿光線傳播方向，至少一個反射鏡設(shè)置于所述模板與被測物體之間，通過至少一個反射鏡改變所述陰影圖案的投影路線，并使改變后的陰影圖案投影在所述被測物體上。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種物體三維形貌測量裝置，其特征在于，所述物體三維形貌測量裝置還包括：至少兩個反射鏡，沿光線傳播方向，第一部分反射鏡設(shè)置于所述模板的前端，通過第一部分反射鏡改變陽光的照射路線，并使改變后的陽光照射在具有預(yù)設(shè)圖案的模板上；第二部分反射鏡設(shè)置于所述模板與被測物體之間，通過第二部分反射鏡改變所述陰影圖案的投影路線，并使改變后的陰影圖案投影在所述被測物體上。

5.根據(jù)權(quán)利要求2至4任意一項所述的一種物體三維形貌測量裝置，其特征在于，所述反射鏡設(shè)置于所述支撐架上。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種物體三維形貌測量裝置，其特征在于，所述物體三維形貌測量裝置還包括云臺，所述模板和/或所述反射鏡通過所述云臺設(shè)置于所述支撐架上。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種物體三維形貌測量裝置，其特征在于，所述物體三維形貌測量裝置還包括電控旋轉(zhuǎn)臺，所述反射鏡設(shè)置于所述電控旋轉(zhuǎn)臺，所述電控旋轉(zhuǎn)臺設(shè)置于所述云臺上，通過所述電控旋轉(zhuǎn)臺控制所述反射鏡旋轉(zhuǎn)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種物體三維形貌測量裝置，其特征在于，所述預(yù)設(shè)圖案為散斑圖案、正弦條紋圖案、周期性柵欄圖案的一種或幾種。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種物體三維形貌測量裝置，其特征在于，所述相機為兩個，且兩個相機之間的間距根據(jù)人眼瞳距來設(shè)定。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種物體三維形貌測量裝置，其特征在于，所述物體三維形貌測量裝置采用傅里葉變換輪廓術(shù)和/或相移法對被測物體進(jìn)行三維形貌測量。