[實用新型]一種可用于XPS檢測系統和原位反應系統的樣品托有效
| 申請號: | 201920879695.3 | 申請日: | 2019-06-12 |
| 公開(公告)號: | CN210514132U | 公開(公告)日: | 2020-05-12 |
| 發明(設計)人: | 趙嘉峰;高筱 | 申請(專利權)人: | 費勉儀器科技(南京)有限公司;費勉儀器科技(上海)有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/2273 | 分類號: | G01N23/2273;G01N23/2204 |
| 代理公司: | 上海精晟知識產權代理有限公司 31253 | 代理人: | 馮子玲 |
| 地址: | 210000 江蘇省南*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 xps 檢測 系統 原位 反應 樣品 | ||
本實用新型提供了一種可用于XPS檢測系統和原位反應系統的樣品托,用于解決現有技術中在XPS檢測系統和原位反應系統之間的樣品接口不一,需要在XPS檢測系統和原位反應系統之間人工傳遞樣品操作復雜、容易污染樣品的技術問題,包括:XPS檢測系統樣品架、轉接托、壓片和樣品托架;所述轉接托設置凹槽,可拆卸地固定于所述XPS檢測系統樣品架上;所述壓片固定至所述轉接托,所述壓片設置為,當所述樣品托架插入所述凹槽時,所述壓片壓緊所述樣品托架,將所述樣品托架固定在所述凹槽中。實施本實用新型的技術方案可實現在不同的XPS檢測系統或者原位反應系統之間進行進行樣品傳遞的技術效果。
技術領域
本實用新型涉及XPS檢測領域,特別涉及一種可用于XPS檢測系統和原位反應系統的樣品托。
背景技術
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子,可以通過測量光電子的能量,以光電子的動能為橫坐標,相對強度為縱坐標作出出光電子能譜圖,根據光電子能譜圖,可以判斷待測物的組成。廣泛應用于分析無機化合物、合金、半導體、聚合物、元素、催化劑、玻璃、陶瓷、染料、紙、墨水、木材、化妝品、牙齒、骨骼、移植物、生物材料、油脂、膠水等。
原位反應是一種新興的合成技術,其工藝簡單,材料性能優異、產品成本低、可近終形成型等而成為當今復合材料研究領域的前沿課題之一。該技術的原理是根據材料設計的要求,選擇適當的反應劑(氣相、液相或粉末固相),在適當的溫度下,借助于基體金屬或合金和它們之間的化學反應,原位生成尺寸十分細小,分布均勻的增強相。
但是一方面由于X射線作為一種具有高輻射強度的電磁波,若人體長期暴露在X射線之下,對人體的傷害極大,易于誘發如癌癥等嚴重疾病,另一方面在原位反應過程中會使用高溫高壓的手段進行處理,而處于高溫狀態的樣品作為一種危險源,可能會在實驗室意外中對人體造成傷害。故一般在XPS檢測與原位反應中一般在隔離室內采用自動化手段對樣品進行操作。
現階段,雖然在XPS檢測與原位反應系統中已經基本實現了自動化操作,但由于XPS檢測系統與原位反應系統之間的樣品接口不一,導致在不同的XPS檢測系統或者原位反應系統之間轉移樣品時不得不人工進行轉移,這樣一方面不可避免的導致人體暴露在X射線的輻射之下,不利于人體健康,另一方面在轉移的過程中容易造成樣本污染,故如何克服在不同的XPS檢測系統或者原位反應系統之間的樣品接口不一的弊端,從而實現在不同的XPS檢測系統或者原位反應系統之間進行樣品的傳遞成為該領域一個亟待解決的問題。
實用新型內容
為了解決上述技術問題,本實用新型中披露了一種可用于XPS檢測系統和原位反應系統的樣品托,本實用新型的技術方案是這樣實施的:
一種可用于XPS檢測系統和原位反應系統的樣品托包括:XPS檢測系統樣品架、轉接托、壓片和樣品托架;所述轉接托設置凹槽,可拆卸地固定于所述XPS檢測系統樣品架上;所述壓片固定至所述轉接托,所述壓片設置為,當所述樣品托架插入所述凹槽時,所述壓片壓緊所述樣品托架,將所述樣品托架固定在所述凹槽中。
優選地,所述樣品托架包括抓取端,所述抓取端設置抓取結構。
優選地,所述抓取結構為圓孔。
優選地,所述XPS檢測系統樣品架和所述轉接托設置螺孔,所述轉接托通過螺釘或螺栓固定于所述XPS檢測系統樣品架上。
優選地,所述壓片的材料為耐高溫、低蒸氣壓的彈性金屬材料,為以下各項中的至少一者:鈹銅、鐵鈷鎳合金、鎳鉻合金、鎳鉻鉬合金或蒙乃爾合金。
優選地,所述壓片點焊在所述轉接托上。
優選地,所述XPS檢測系統樣品架設置插槽,所述插槽貫穿所述XPS檢測系統樣品架。
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