[實(shí)用新型]一種基于FPGA電氣信號(hào)檢測(cè)的主板自檢裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201920851247.2 | 申請(qǐng)日: | 2019-06-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN210863959U | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-06-26 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 fpga 電氣 信號(hào) 檢測(cè) 主板 自檢 裝置 | ||
本實(shí)用新型提供了一種基于FPGA電氣信號(hào)檢測(cè)的主板自檢裝置,包括主板以及設(shè)置于所述主板上的ADC、FPGA、CPU和外掛FLASH;所述FPGA通過(guò)ADC與主板的主板信號(hào)接口連接,所述外掛FLASH和CPU分別與FPGA連接。本實(shí)用新型的主板自檢裝置,實(shí)現(xiàn)全面集中自檢,無(wú)需外接儀器,降低設(shè)備成本與人工成本,同時(shí)實(shí)現(xiàn)可回溯。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電氣信號(hào)檢測(cè),尤其涉及一種基于FPGA電氣信號(hào)檢測(cè)的主板自檢裝置。
背景技術(shù)
電子設(shè)備主板的電氣信號(hào)檢測(cè)是檢驗(yàn)主板是否達(dá)到設(shè)計(jì)要求及保證主板信號(hào)完整性的必要途徑。尤其是對(duì)于核心設(shè)備,關(guān)鍵信號(hào)質(zhì)量是否滿(mǎn)足要求,不僅可能影響到設(shè)備當(dāng)前使用功能,更是關(guān)系到設(shè)備能否長(zhǎng)期穩(wěn)定可靠的工作。
設(shè)備出廠前,一般都有出廠測(cè)試,不過(guò)都是對(duì)設(shè)備各個(gè)接口的功能性測(cè)試及簡(jiǎn)單的電壓、頻率等參數(shù)測(cè)試,只能保證當(dāng)前某些接口功能是正常的,而如果要對(duì)電氣信號(hào)進(jìn)行完整的質(zhì)量分析和協(xié)議分析,利用外部?jī)x器對(duì)量產(chǎn)中每個(gè)主板進(jìn)行逐一測(cè)試是難以實(shí)現(xiàn)的。現(xiàn)有主板電氣信號(hào)檢測(cè)需要連接外部設(shè)備,在工廠大量生產(chǎn)中若要配齊測(cè)試設(shè)備,則設(shè)備成本較高,且需要工人利用外部設(shè)備進(jìn)行測(cè)試操作,工人需要熟練掌握相關(guān)儀器測(cè)量技術(shù),這對(duì)一線(xiàn)工人操作能力要求較高,人力成本較高,若采用抽檢方式檢測(cè),則存在漏檢的可能,若采用全檢,則工時(shí)耗費(fèi)多,效率低。另外,傳統(tǒng)的這種主板電氣信號(hào)檢測(cè)結(jié)果保存和回溯不方便,且只能實(shí)現(xiàn)對(duì)電氣信號(hào)的簡(jiǎn)單比較,比如電壓是否達(dá)標(biāo),電流是否超標(biāo)等,無(wú)法對(duì)信號(hào)完整性進(jìn)行分析,也不能實(shí)現(xiàn)邏輯協(xié)議的分析。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題,在于提供一種基于FPGA電氣信號(hào)檢測(cè)的主板自檢裝置,實(shí)現(xiàn)全面集中自檢,無(wú)需外接儀器,降低設(shè)備成本與人工成本,同時(shí)實(shí)現(xiàn)可回溯。
本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是這樣實(shí)現(xiàn)的:一種基于FPGA電氣信號(hào)檢測(cè)的主板自檢裝置,包括主板以及設(shè)置于所述主板上的ADC、FPGA、CPU和外掛FLASH;
所述FPGA通過(guò)ADC與主板的主板信號(hào)接口連接,所述外掛FLASH和CPU分別與FPGA連接。
進(jìn)一步的,所述FPGA包括I/O接口、模擬寄存器、定時(shí)器、計(jì)數(shù)器、譯碼器、第一SPI接口、第二SPI接口和中斷接口;
所述ADC一端與主板的主板信號(hào)接口連接,另一端與所述I/O接口連接,所述模擬寄存器一端與所述I/O接口連接,另一端分別與定時(shí)器、計(jì)數(shù)器和譯碼器連接,所述FPGA通過(guò)第一SPI接口與外掛FLASH連接,通過(guò)第二SPI接口與CPU連接,并通過(guò)中斷接口與CPU連接。
進(jìn)一步的,所述ADC與主板的主板信號(hào)接口的連接引腳包括I2S、I2C和RMII。
進(jìn)一步的,所述FPGA通過(guò)中斷接口與一警示LED連接。
進(jìn)一步的,所述FPGA型號(hào)為L(zhǎng)ATTICE LFE3-35EA-FN484或XILINXXCZU7EV-FFVC-1156-2-E。
本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于:
1、利用主板上的FPGA對(duì)主板關(guān)鍵信號(hào)的讀取與分析,實(shí)現(xiàn)主板本身自檢,無(wú)需借助外部?jī)x器,無(wú)需人工干預(yù),減少設(shè)備成本投入的同時(shí)降低人工成本;
2、將主板大量關(guān)鍵信號(hào)集中接到FPGA進(jìn)行自檢,通過(guò)中斷及總線(xiàn)向CPU進(jìn)行傳遞信息,可實(shí)現(xiàn)電氣信號(hào)的集中和全面檢測(cè),檢測(cè)效率高;
3、通過(guò)FPGA測(cè)量電氣信號(hào)并自動(dòng)記錄到FLASH中,斷電后信息不丟失,實(shí)現(xiàn)自檢數(shù)據(jù)可查閱,可回溯;
4、利用主板上的FPGA中定時(shí)器、計(jì)時(shí)器以及譯碼器對(duì)主板自檢信號(hào)進(jìn)行質(zhì)量分析,可獲取信號(hào)的完整性以及邏輯協(xié)議的分析依據(jù)。
附圖說(shuō)明
下面參照附圖結(jié)合實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說(shuō)明。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線(xiàn)路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線(xiàn)或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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