[實用新型]一種檢測設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201920847376.4
• 申請日: 2019-06-04
• 公開（公告）號: CN210037646U
• 公開（公告）日: 2020-02-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 賈宇霖;張森;廖思干;劉勇
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市銀寶山新科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/01
• 代理公司: 11463 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙)
• 代理人: 王闖

1.一種檢測設(shè)備，其特征在于，包括：

檢測機構(gòu)，用于檢測工件；

檢測滑臺，能夠相對所述檢測機構(gòu)滑動，具有取放料位和檢測位；以及，

定位治具，設(shè)于所述檢測滑臺上用于對所述工件進行定位，所述定位治具與所述工件之間具有防呆配合結(jié)構(gòu)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述檢測滑臺包括檢測臺、滑軌和直線驅(qū)動件，所述檢測臺可滑動地保持于所述滑軌上，所述直線驅(qū)動件能夠驅(qū)動所述檢測臺沿所述滑軌做往復(fù)直線運動；

所述定位治具設(shè)于所述檢測臺上。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述檢測機構(gòu)為光譜檢測機構(gòu)，所述工件具有導(dǎo)光部，所述檢測機構(gòu)用于檢測所述導(dǎo)光部的發(fā)光強度。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述檢測滑臺上設(shè)有發(fā)光件，所述工件放置于所述定位治具上時，所述發(fā)光件的光自所述導(dǎo)光部中透出。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述定位治具具有與所述工件相匹配的定位槽，所述工件具有防呆結(jié)構(gòu)；

所述定位槽上設(shè)有透光槽，所述發(fā)光件的光通過所述透光槽打到所述導(dǎo)光部上。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述檢測設(shè)備具有遮光罩，所述檢測位設(shè)于所述遮光罩中。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述檢測機構(gòu)為激光檢測機構(gòu)，所述工件上設(shè)有螺釘，所述激光檢測機構(gòu)用于檢測所述工件上的螺釘有無以及螺釘?shù)陌惭b高度。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述工件上具有定位通槽，所述定位通槽為非對稱通槽，所述定位治具上設(shè)有與所述定位通槽相匹配的凸臺。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述工件上設(shè)有多排所述螺釘，所述檢測機構(gòu)具有檢測驅(qū)動件和檢測探頭，所述檢測滑臺在第一方向上做往復(fù)直線運動，所述檢測驅(qū)動件驅(qū)動所述檢測探頭在第二方向上做往復(fù)直線運動，所述第一方向與所述第二方向垂直。

10.根據(jù)權(quán)利要求1-9中任一項所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述檢測設(shè)備還包括控制器和提示件，所述控制器分別與所述檢測機構(gòu)和所述提示件電性連接，所述提示件用于顯示所述檢測機構(gòu)檢測的合格狀態(tài)。