[實用新型]一種磁瓦外觀缺陷檢測結構

有效

• 申請號: 201920846277.4
• 申請日: 2019-06-05
• 公開（公告）號: CN210198992U
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發明（設計）人: 湯培歡
• 申請（專利權）人: 深圳至漢裝備科技有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N21/88
• 代理公司: 北京國坤專利代理事務所(普通合伙) 11491
• 代理人: 趙紅霞

本實用新型提供了一種磁瓦外觀缺陷檢測結構，包括用于拍攝磁瓦圖像的相機，在所述相機與待檢測的磁瓦之間布置有同軸的直射燈和漫射燈，所述直射燈包括由垂直于所述相機的光軸方向入射的平行光源，以及將平行光源發出的光反射為與所述相機的光軸平行且重合的反射鏡；所述漫射燈包括上下兩端分別開口的弧形罩，安裝在所述弧形罩底部且向所述弧形罩內壁方向照射的環形光源。本實用新型通過本方案設置的光照方式，能夠使當前擺放的磁瓦四周及上表面完全無光照死角，且可避免直射光源與環形光源之間的相互影響，使整個磁瓦表面的光強一致，能夠更突出磁瓦表面的缺陷位置，加快和提高后續圖像缺陷分析速度和精度。

技術領域

本實用新型涉及磁瓦檢測領域，特別涉及一種在對磁瓦進行外觀缺陷檢測時提供無死角光照效果的檢測結構。

背景技術

現有技術在對磁瓦表面進行缺陷檢測時，通常是利用單一光源或多個光源的照明方式來對待檢測的磁瓦表面進行照明，采用單一光源時容易在磁瓦的逆光面形成陰影，從而降低相機拍攝的磁瓦表面圖像質量，導致后期圖像分析時誤差較大。采用多個光源時，各光源相互之間由于直射原因，在磁瓦的直接照射點處的光強較大，而周圍光強較弱，使得明亮度不五，同樣會影響后期的圖像分析。

實用新型內容

本實用新型的目的是要提供一種在對磁瓦進行外觀缺陷檢測時，能夠提供無死角光照效果的檢測結構。

特別地，本實用新型提供了一種磁瓦外觀缺陷檢測結構，包括用于拍攝磁瓦圖像的相機，在所述相機與待檢測的磁瓦之間布置有同軸的直射燈和漫射燈，所述直射燈包括由垂直于所述相機的光軸方向入射的平行光源，以及將平行光源發出的光反射為與所述相機的光軸平行且重合的反射鏡；所述漫射燈包括上下兩端分別開口的弧形罩，安裝在所述弧形罩底部且向所述弧形罩內壁方向照射的環形光源。

在本實用新型的一個實施方式中，所述直射燈還包括矩形殼體，所述矩形殼體的相對兩端分別開有供相機取景用的拍攝孔和出光孔，所述平行光源安裝在所述拍攝孔和所述出光孔之間的側壁處，所述反射鏡的一端位于所述出光孔遠離所述平行光源的一側，相對的另一端向所述平行光源方向傾斜且越過所述拍攝孔。

在本實用新型的一個實施方式中，所述平行光源與所述反射鏡之間設置有垂直于所述相機的光軸且具備聚光效果的光學透鏡。

在本實用新型的一個實施方式中，所述弧形罩的頂部開口與所述矩形殼體的出光孔連接，所述弧形罩的底部相對的位置處設置有供所述磁瓦進入和離開的凹口。

在本實用新型的一個實施方式中，所述弧形罩的底部安裝有向中心線方向延伸的環形槽，所述環形光源安裝在所述環形槽內。

在本實用新型的一個實施方式中，在所述環形槽的底部安裝有對所述環形光源進行散熱的導熱層。

在本實用新型的一個實施方式中，所述矩形殼體與所述弧形罩通過中間帶有孔洞的連接件連接。

在本實用新型的一個實施方式中，所述連接件包括矩形且中心帶有孔洞的固定板，在所述孔洞的相對兩側邊分別設置有向同一側垂直伸出的調節板，在所述固定板上與所述調節板相對的一側安裝有兩塊相對布置的L形吊裝板，兩塊所述L形吊裝板的折邊相對且相對的折邊圍成一個圓形空心。

在本實用新型的一個實施方式中，還包括固定所述相機和所述連接件的矩形框架，所述相機通過相機架吊裝在所述矩形框架的上部，所述連接件通過固定板的四周側邊與所述矩形框架連接。

在本實用新型的一個實施方式中，所述相機架包括一塊矩形且中心帶有取景孔的搭接板，在所述取景孔的相對兩側垂直固定有具備調節槽的固定塊，在兩塊所述固定塊之間通過調節槽安裝有固定相機的吊框。

本實用新型通過本方案設置的光照方式，能夠使當前擺放的磁瓦四周及上表面完全無光照死角，且可避免直射光源與環形光源之間的相互影響，使整個磁瓦表面的光強一致，能夠更突出磁瓦表面的缺陷位置，加快和提高后續圖像缺陷分析速度和精度。