[實(shí)用新型]一種基于BIM的測繪放樣裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201920752117.3
• 申請(qǐng)日: 2019-05-23
• 公開（公告）號(hào): CN209877972U
• 公開（公告）日: 2019-12-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 葛成才;張迎秋;楊立輝;芮和平;夏文君;芮健;張婷
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 馬鞍山市雷銘網(wǎng)絡(luò)科技有限公司
• 主分類號(hào): G01C15/00
• 分類號(hào): G01C15/00;G01C9/06
• 代理公司: 34102 蚌埠鼎力專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司
• 代理人: 王琪

本實(shí)用新型公開了一種基于BIM的測繪放樣裝置，涉及測繪技術(shù)領(lǐng)域。該基于BIM的測繪放樣裝置，包括底座，所述底座的頂部設(shè)置有支撐桿，所述支撐桿的頂端固定連接有測繪機(jī)構(gòu)，所述測繪機(jī)構(gòu)底部的兩側(cè)均設(shè)置有線圈塊，所述支撐桿的背部通過螺栓固定連接有刻度盤，所述支撐桿的正表面固定連接有檢測機(jī)構(gòu)，所述檢測機(jī)構(gòu)的兩側(cè)均固定連接有水平桿，所述水平桿兩側(cè)的頂部均固定連接有與線圈塊配合設(shè)置的永磁體。該基于BIM的測繪放樣裝置，通過檢測機(jī)構(gòu)的改良，以及線圈塊、限制螺栓和刻度盤等部件的配合使用，使得測繪放樣裝置工作時(shí)可以很好的對(duì)當(dāng)前測繪機(jī)構(gòu)的水平程度進(jìn)行監(jiān)控，無需額外增加算法以及多次測繪操作對(duì)傾斜的角度進(jìn)行補(bǔ)償。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及測繪技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種基于BIM的測繪放樣裝置。

背景技術(shù)

測繪就是測量和繪圖，以計(jì)算機(jī)技術(shù)、光電技術(shù)、網(wǎng)絡(luò)通訊技術(shù)、空間科學(xué)、信息科學(xué)為基礎(chǔ)，以全球?qū)Ш叫l(wèi)星定位系統(tǒng)(GNSS)、遙感(RS)、地理信息系統(tǒng)(GIS)為技術(shù)核心，將地面已有的特征點(diǎn)和界線通過測量手段獲得反映地面現(xiàn)狀的圖形和位置信息，供工程建設(shè)的規(guī)劃設(shè)計(jì)和行政管理之用，測量放樣作為一項(xiàng)測繪技術(shù)來說，就是對(duì)任一空間物體的三維定位測量，它的具體工作，均反映在對(duì)距離、角度(方向)、高程三個(gè)量的測定上，不論采用什么樣的方法放樣，總是離不開運(yùn)用各類不同的儀具將這三個(gè)量測量的結(jié)果，在施工現(xiàn)場予以標(biāo)定。放樣是工程測量研究的主要內(nèi)容之一。

在現(xiàn)有技術(shù)中，測繪放樣裝置工作時(shí)難以很好的對(duì)當(dāng)前測繪機(jī)構(gòu)的水平程度進(jìn)行監(jiān)控，需要額外增加算法以及多次測繪操作對(duì)傾斜的角度進(jìn)行補(bǔ)償，降低工作效率的同時(shí)增加了操作的難度，給使用者的使用帶來不便。

實(shí)用新型內(nèi)容

(一)解決的技術(shù)問題

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型提供了一種基于BIM的測繪放樣裝置，解決了在現(xiàn)有技術(shù)中，測繪放樣裝置工作時(shí)難以很好的對(duì)當(dāng)前測繪機(jī)構(gòu)的水平程度進(jìn)行監(jiān)控，需要額外增加算法以及多次測繪操作對(duì)傾斜的角度進(jìn)行補(bǔ)償?shù)膯栴}。

(二)技術(shù)方案

為實(shí)現(xiàn)以上目的，本實(shí)用新型通過以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn)：一種基于BIM的測繪放樣裝置，包括底座，所述底座的頂部設(shè)置有支撐桿，所述支撐桿的頂端固定連接有測繪機(jī)構(gòu)，所述測繪機(jī)構(gòu)底部的兩側(cè)均設(shè)置有線圈塊，所述支撐桿的背部通過螺栓固定連接有刻度盤，所述支撐桿的正表面固定連接有檢測機(jī)構(gòu)，所述檢測機(jī)構(gòu)的兩側(cè)均固定連接有水平桿，所述水平桿兩側(cè)的頂部均固定連接有與線圈塊配合設(shè)置的永磁體。

所述檢測機(jī)構(gòu)包括檢測外殼，所述檢測外殼上貫穿設(shè)置有定位桿，所述定位桿與支撐桿固定連接，所述定位桿的表面套設(shè)有檢測電阻，所述檢測電阻上鑲嵌有絕緣塊，所述檢測外殼內(nèi)腔的頂部固定連接有電刷，所述電刷與絕緣塊的表面接觸，所述電刷串聯(lián)于檢測電阻的電路中。

優(yōu)選的，所述線圈塊通電后產(chǎn)生的磁場方向與永磁體的磁場方向相反。

優(yōu)選的，所述水平桿正表面的兩側(cè)均貫穿設(shè)置有限制螺栓，所述刻度盤上開設(shè)有與限制螺栓配合設(shè)置的限制槽。

優(yōu)選的，所述檢測機(jī)構(gòu)的頂部設(shè)置有擋雨板。

優(yōu)選的，所述檢測外殼的內(nèi)壁鑲嵌有橡膠球，且橡膠球與檢測電阻的表面接觸。

(三)有益效果

本實(shí)用新型提供了一種基于BIM的測繪放樣裝置。具備以下有益效果：該基于BIM的測繪放樣裝置，通過檢測機(jī)構(gòu)的改良，以及線圈塊、限制螺栓和刻度盤等部件的配合使用，使得測繪放樣裝置工作時(shí)可以很好的對(duì)當(dāng)前測繪機(jī)構(gòu)的水平程度進(jìn)行監(jiān)控，無需額外增加算法以及多次測繪操作對(duì)傾斜的角度進(jìn)行補(bǔ)償，提高工作效率的同時(shí)降低了操作的難度，方便了使用者的使用。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型檢測機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。