[實用新型]一種型號為ELEMENT GD輝光放電質譜儀測試小尺寸樣品用樣品臺

有效

• 申請號: 201920691812.3
• 申請日: 2019-05-15
• 公開（公告）號: CN210923569U
• 公開（公告）日: 2020-07-03
• 發明（設計）人: 李建德;高麗榮;徐艷艷;趙秀芳;王小虎;張意;豐丹丹;蔣麗微;張鵬;張譽文
• 申請（專利權）人: 國家硅材料深加工產品質量監督檢驗中心東海研究院
• 主分類號: G01N27/68
• 分類號: G01N27/68
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型屬于輝光放電質譜法測試技術領域，尤其是涉及一種型號為ELEMENT GD輝光放電質譜儀測試小尺寸樣品用樣品臺。包括高純銅樣品臺本體，所述的高純銅樣品臺本體上開有凹槽，所述的凹槽中設有焊錫。優點在于：通過在高純銅本體開設凹槽，凹槽中放入適量焊錫，可以使小尺寸樣品固定在高純銅樣品上，焊錫不會露出樣品的下表面，避免了測試時焊錫對樣品的影響。

技術領域

本實用新型涉及輝光放電質譜儀測試技術領域，尤其是涉及一種型號為ELEMENTGD輝光放電質譜儀測試小尺寸樣品用樣品臺。

背景技術

輝光放電質譜法（GDMS）被認為是目前對固體導電材料直接進行痕量及超痕量元素分析的最有效的手段。由于其可以直接固體進樣，近20年來已廣泛應用于高淳金屬、合金等材料的分析。GDMS不僅具有優越的檢測限和寬動態線性范圍的優點，而且樣品制備簡單、元素間靈敏度差異小、基體效應低。GDMS以期優越的分析性能在電子學、化學、冶金、地質以及科學等領域里得到廣泛應用，在高純金屬和半導體材料分析中已經顯示出它的優越性，發展前景十分廣闊。

美國熱電產型號為ELEMNET GD的輝光放電質譜儀對樣品的尺寸有嚴格的要求，塊狀樣品的測試面直徑要20mm~50mm之間，而濺射面只有10mm，所以塊狀樣品直徑在10mm~20mm之間的樣品則無法測試。

發明內容

本實用新型的目的是針對上述問題，提供一種設計合理，結構簡單，適用于直徑在10mm~20mm之間的樣品的輝光放電質譜儀測試用樣品臺。

為達到上述目的，本實用新型采用了下列技術方案：本型號為ELEMENT GD輝光放電質譜儀檢測小尺寸樣品用樣品臺包括高純銅樣品臺本體，所述的高純銅樣品臺本體上開有凹槽，所述的凹槽中設有焊錫。

通過在高純銅樣品臺上開設凹槽，可以測試小尺寸塊狀樣品；凹槽中放入焊錫，確保小尺寸塊狀樣品能固定在高純銅凹槽底部，焊錫面不會超過樣品下表面，避免了測試時焊錫對塊狀樣品測試的影響。

所述的高純銅樣品臺本體為兩面平行的圓柱體，高純銅樣品臺本體表面的直徑為25mm~50mm，高純銅樣品臺本體的高度為5mm~20mm。

在上述的高純銅樣品臺中，所述的凹槽為圓柱形槽，凹槽的直徑20mm，凹槽的深度≥3mm。

在上述的型號為ELEMENT GD輝光放電質譜儀測試小尺寸樣品用樣品臺中，所述的焊錫和凹槽的內側壁之間設有間隔空間，所述的間隔空間應滿用平面物體壓樣品時焊錫的延展。

與現有的技術相比，本號為ELEMENT GD輝光放電質譜儀測試小尺寸樣品用樣品臺的優點在于：通過在高純銅樣品臺本體開設凹槽，可以測試小尺寸的塊狀樣品；放入適量焊錫，確保焊錫融化凝固時能把樣品固定在高純銅樣品槽內，在壓塊狀樣品時不會超過樣品的下表面，避免了焊錫對樣品的影響。

附圖說明

圖1是本實用新型的放入塊狀樣品后的結構示意圖。

其中，1高純銅樣品臺本體、2凹槽、3焊錫。

具體實施方式

以下實施例僅處于說明性目的，而不是想要限制本實用新型的范圍。

實施例1。

如圖1所示，本實用新型的型號為ELEMENT GD輝光放電質譜儀測試小尺寸樣品用樣品臺包括高純銅樣品臺本體1，高純銅樣品臺本體1上開有凹槽2。

如圖1所示，本型號為ELEMENT GD輝光放電質譜儀測試小尺寸樣品包括高純銅樣品臺1，高純銅樣品臺1上開有凹槽2，凹槽2中設有焊錫。通過在高純銅樣品臺本體上開設凹槽2，放入適量焊錫3，可以測試小尺寸塊狀樣品。