[實(shí)用新型]一種試驗(yàn)用沖擊試樣V型缺口對中測量裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201920689974.3 | 申請日： | 2019-05-15 |
| 公開（公告）號： | CN210221750U | 公開（公告）日： | 2020-03-31 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張宏陽;王景麗;蔡靜;王健;張重遠(yuǎn) | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)院金屬研究所 |
| 主分類號： | G01N3/62 | 分類號： | G01N3/62 |
| 代理公司： | 沈陽晨創(chuàng)科技專利代理有限責(zé)任公司 21001 | 代理人： | 張晨 |
| 地址： | 110015 遼*** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 試驗(yàn) 沖擊 試樣 缺口 測量 裝置 | ||
1.一種試驗(yàn)用沖擊試樣V型缺口對中測量裝置，包括尺身(1)、制動螺釘(2)、游標(biāo)(3)、尺框(4)、主尺(5)、活動卡腳(6)、微動螺母(9)和微動裝置(10)，其特征在于，所述制動螺釘(2)、游標(biāo)(3)、尺框(4)、主尺(5)、活動卡腳(6)、微動螺母(9)和微動裝置(10)均關(guān)于尺身(1)中心線成對對稱設(shè)置；所述對中測量裝置還包括定位卡腳(7)和V型缺口定位塊(8)，所述定位卡腳(7)設(shè)于尺身(1)中心線位置正上方，所述V型缺口定位塊(8)設(shè)于尺身(1)中心線位置正下方，所述定位卡腳(7)和V型缺口定位塊(8)中心線與尺身(1)中心線重合，兩套主尺(5)和游標(biāo)(3)的刻度線關(guān)于尺身(1)中心線對稱設(shè)置，且零刻度線靠近尺身(1)中心線一側(cè)，所述對中測量裝置形成關(guān)于尺身(1)中心線為軸的對稱結(jié)構(gòu)。
2.按照權(quán)利要求1所述的一種試驗(yàn)用沖擊試樣V型缺口對中測量裝置，其特征在于，所述定位卡腳(7)和V型缺口定位塊(8)與尺身(1)一體成型。
3.按照權(quán)利要求2所述的一種試驗(yàn)用沖擊試樣V型缺口對中測量裝置，其特征在于，所述活動卡腳(6)與游標(biāo)(3)一體成型。
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