[實用新型]一種激光二極管測試設備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201920641196.0
• 申請日: 2019-05-07
• 公開（公告）號: CN209878273U
• 公開（公告）日: 2019-12-31
• 發(fā)明（設計）人: 王勝利;楊波
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市矽電半導體設備有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型提出一種激光二極管測試設備。所述激光二極管測試設備包括，機架；上料部，安裝于機架；所述上料部用于放置待測激光二極管芯粒；傳料部，安裝于機架；所述傳料部用于將激光二極管芯粒傳輸?shù)筋A定的位置；第一測試部，安裝于機架；所述傳料部能夠?qū)⒓す舛O管芯粒從上料部傳輸?shù)剿龅谝粶y試部，所述第一測試部對激光二極管芯粒進行測試；第二測試部，安裝于機架；所述傳料部能夠?qū)⒓す舛O管芯粒從第一測試部傳輸?shù)降诙y試部，所述第二測試部對激光二極管芯粒進行測試；收料部，安裝于機架；所述傳料部能夠?qū)⒌诙y試部上的激光二極管芯粒傳輸?shù)绞樟喜俊?/p>

技術(shù)領域

本實用新型涉及一種激光二極管測試設備。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的激光二極管測試設備采用5個測試工位的布局，5個測試工位為常溫后端光功率測試、常溫前端光功率測試、常溫光波長測試、高溫前端光功率測試和高溫光波長測試，此種多個工位的布局使設備占用空間大，而且每個工位需要對激光二極管芯粒進行位置和角度調(diào)節(jié)，測試效率不高。

實用新型內(nèi)容

為解決上述激光二極管芯粒測試設備占用空間大，測試效率低的問題，本實用新型提出一種占用空間小、測試效率高的激光二極管測試設備方案。

本實用新型的技術(shù)方案為：所述激光二極管測試設備包括，

機架；

上料部，安裝于機架；所述上料部用于放置待測激光二極管芯粒；

傳料部，安裝于機架；所述傳料部用于將激光二極管芯粒傳輸?shù)筋A定的位置；

第一測試部，安裝于機架；所述傳料部能夠?qū)⒓す舛O管芯粒從上料部傳輸?shù)剿龅谝粶y試部，所述第一測試部對激光二極管芯粒進行測試；

第二測試部，安裝于機架；所述傳料部能夠?qū)⒓す舛O管芯粒從第一測試部傳輸?shù)降诙y試部，所述第二測試部對激光二極管芯粒進行測試；

收料部，安裝于機架；所述傳料部能夠?qū)⒌诙y試部上的激光二極管芯粒傳輸?shù)绞樟喜俊?/p>

進一步的，所述上料部、第一測試部、第二測試部和收料部沿第一直線依次排布。

進一步的，所述第一測試部為常溫測試結(jié)構(gòu)；所述第二測試部為高溫測試結(jié)構(gòu)。

進一步的，傳料部包括第一支撐部和第一取料部，所述第一支撐部連接于機架，所述第一取料部通過滑軌水平連接于第一支撐部；所述第一取料部能夠用于取放芯粒。

進一步的，所述第一測試部包括，

測試承載部，連接于機架，用于放置待測試的芯粒；

第一探針部，連接于機架，用于對放置于測試承載部的芯粒電連接；

后端光功率測試部，連接于機架，用于測試芯粒后端的發(fā)光光功率；

第一前端光功率測試部，連接于機架，用于測試芯粒的前端發(fā)光光功率；

光波長測試部，連接于機架，用于測試芯粒的前端發(fā)光波長。

進一步的，所述測試承載部設置有連接真空的吸附孔，待測試芯粒通過所述吸附孔真空吸附于測試承載部。

進一步的，所述測試承載部包括加熱部和溫度感應部，所述加熱部調(diào)節(jié)溫度使待測試的芯粒處于預設的溫度環(huán)境，所述溫度感應部用于檢測待測芯粒所處環(huán)境的溫度。

進一步的，所述第一前端光功率測試部和光波長測試部均通過滑動安裝部連接于機架。

進一步的，所述第一探針部和后端光功率測試部均通過運動安裝部連接于機架。

進一步的，所述運動安裝部通過豎向滑軌連接于機架；