[實用新型]集成電路測試儀

有效

• 申請號: 201920626868.0
• 申請日: 2019-05-05
• 公開（公告）號: CN210051856U
• 公開（公告）日: 2020-02-11
• 發明（設計）人: 馮長江;段榮霞;李楠;郎賓;黃天辰;劉美全;濮霞;陶炳坤
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍陸軍工程大學
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 13128 石家莊輕拓知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 王占華

本實用新型公開了一種集成電路測試儀，涉及芯片測試裝置技術領域。所述測試儀包括單片計算模塊，存儲模塊通過存儲空間分配器與所述計算模塊雙向連接；I/O擴展模塊與所述計算模塊雙向連接；地址產生模塊的第一輸入端與的輸入端與所述計算模塊的輸出端連接，所述地址產生模塊的輸出端分別與按鍵模塊的輸入端、驅動器的第一輸入端以及I/O擴展模塊的輸入端連接；所述驅動器模塊的第二輸入端與所述I/O擴展模塊的輸出端連接，所述驅動器的輸出端與被測器件安裝插座的輸入端連接；顯示模塊與所述計算模塊的信號輸出端連接；數據產生模塊與所述計算模塊的信號輸入端連接。所述測試儀能夠實現對多種芯片進行測試，功能多樣，使用方便。

技術領域

本實用新型涉及芯片測試裝置技術領域，尤其涉及一種集成電路測試儀。

背景技術

隨著數字信號處理技術的飛速發展，數字集成電路的應用也越來越廣泛。各類電子產品，比如計算機、工業自動化設備、部隊電子技術保障設備、電子儀器儀表、數字通信設備、電子繼電保護裝置等電路構成都用到數字集成電路。當對這些設備進行維護和檢測時，能夠實時測量數字集成電路的性能，就可以便捷的對設備定期維護或排除故障；科研機構、高等院校、新產品開發部，在進行產品試驗和產品開發時，也需要對數字集成電路進行功能測試，提高工作效率，縮短新產品開發的流程；各質檢、計量、銷售等部門需要檢驗新購數字集成器件的質量；因此采取可靠的測試儀器，判斷數字集成電路的好壞就變的尤為重要。

數字集成電路發展非常迅速，產品的種類愈來愈多，常用的數字集成電路有通用型的集成電路（中小規模集成電路）產品、單片機、特定用途的集成電路產品等。大部分的電子產品都用到通用型的集成電路，可以說它無處不在，得到了廣泛的應用。通用型集成電路按電路結構來分，可分成雙極型（TTL型）和單極型（CMOS型）兩大類。常用的TTL型集成電路有TTL54/55/74數字電路系列， CMOS數字集成電路常用的有CMOS4000系列。因此設計一套測試儀，能夠可靠的測試這些常用系列集成電路和單片機的性能非常必要和重要。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題是如何提供一種能夠實現對多種芯片進行測試的集成電路測試儀。

為解決上述技術問題，本實用新型所采取的技術方案是：一種集成電路測試儀，其特征在于：包括單片計算模塊，存儲模塊通過存儲空間分配器與所述計算模塊雙向連接，所述存儲模塊用于存儲所述測試儀的運行程序以及測試和采集的數據；I/O擴展模塊與所述計算模塊雙向連接，用于將所述計算模塊產生的測試數據輸出到外圍模塊，并將外圍設備產生的信號輸入到所述計算模塊進行處理；地址產生模塊的第一輸入端與的輸入端與所述計算模塊的輸出端連接，所述地址產生模塊的輸出端分別與按鍵模塊的輸入端、驅動器的第一輸入端以及I/O擴展模塊的輸入端連接，用于產生與其相連接的模塊所需的地址信號；所述驅動器模塊的第二輸入端與所述I/O擴展模塊的輸出端連接，所述驅動器的輸出端與被測器件安裝插座的輸入端連接；所述按鍵模塊與所述計算模塊雙向連接，用于輸入控制命令；顯示模塊與所述計算模塊的信號輸出端連接，用于顯示所述計算模塊輸出的數據；數據產生模塊與所述計算模塊的信號輸入端連接，用于根據被測芯片的型號選通相應驅動，加載對應的測試數據；穩壓電源與所述測試儀中需要供電的模塊的電源輸入端連接，用于為其提供工作電源。

進一步的技術方案在于：所述單片計算模塊包括8031型單片機芯片U1，所述U1的31腳接地，所述U1的19腳分為兩路，第一路與晶振的一端連接，第二路與電容C1的一端連接，所述U1的18腳分為兩路，第一與晶振的另一端，第二路與電容C2的一端連接，電容C1的一端與電容C2的另一端連接；電源VCC分為兩路，第一路與電阻R1的一端連接，第二路與二極管D的陰極連接，二極管D的陽極與電阻R1的另一端連接后分為兩路，第一路經電容接地，第二路與或非門74LS02的輸入端連接，所述或非門74LS02的輸出端與所述U1的9腳連接，所述U1的32腳-39腳與地址鎖存器芯片74LS373的輸入端連接，所述地址鎖存器芯片74LS373的輸出端與數據存儲芯片2764的輸入端連接。