[實用新型]一種利用激光干涉測量位移的裝置

有效

• 申請號: 201920602271.2
• 申請日: 2019-04-29
• 公開（公告）號: CN209945261U
• 公開（公告）日: 2020-01-14
• 發明（設計）人: 肖建平;毛黎明
• 申請（專利權）人: 江西正沃信息科技有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 11411 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 鄭自群

本實用新型公開了一種利用激光干涉測量位移的裝置，涉及位移測量技術領域，包括殼體，所述殼體的內底壁固定連接有光波接收分析儀，所述殼體的內底壁固定連接有下固定座，所述殼體的內頂壁固定連接有上固定座，所述殼體的右側面固定鑲嵌有回光濾鏡和射光濾鏡，所述殼體的內部設有分光鏡，所述分光鏡的頂端與上固定座的底面固定連接，所述分光鏡的底端與下固定座的上表面固定連接，所述殼體的上表面固定鑲嵌有第一轉筒，所述第一轉筒的頂部設有轉動輪，所述轉動輪的底面固定連接有第二轉筒，所述第二轉筒的底端與第一轉筒內側壁相接觸，所述第二轉筒的內側壁固定連接有直角圓錐鏡。本實用新型具備在裝置固定情況下對傾斜目標測量的目的。

技術領域

本實用新型涉及位移測量技術領域，更為具體地，涉及一種利用激光干涉測量位移的裝置。

背景技術

利用激光的高強度、高度方向性、空間同調性、窄帶寬和高度單色性等優點，通過干涉原理來測定物體的位移是一種較為精準的位移測量方法，而當前的激光干涉測量裝置多為單一的測量，而無法對干涉結果進行微調，導致接收到的干涉光波會產生模糊，同時普通的干涉測量裝置在經過分光鏡進行分光時，極易產生波形方向的微量變化，從而進一步影響測量結果。

在公開號為CN 207036051 U的中國專利公開了利用激光干涉測量位移的裝置，該裝置，通過單頻激光發射器，產生單頻的激光束，激光束到達分光鏡時，平均分為兩份，一份透過分光鏡經由射光濾鏡射出，同時另一束反射至直角圓錐鏡進行直角反射，射出的激光經由測量物體反射后，由回光濾鏡返回過濾，經由分光鏡與直角圓錐鏡反射會來的光束進行干涉，干涉光波進入光波接收分析儀進行分析，得到位移量。

但是單頻激光發射器發出的射線為直線，無法在裝置固定的情況下無法對傾斜的目標進行測量。因此，發明一種利用激光干涉測量位移的裝置解決上述問題很有必要。

實用新型內容

本實用新型的目的在于克服現有技術的不足，提供一種利用激光干涉測量位移的裝置，解決了裝置固定的情況下無法對傾斜的目標進行測量的問題。

本實用新型的目的是通過以下技術方案來實現的：一種利用激光干涉測量位移的裝置，包括殼體，所述殼體的內底壁固定連接有光波接收分析儀，所述殼體的內底壁固定連接有下固定座，所述殼體的內頂壁固定連接有上固定座，所述殼體的右側面固定鑲嵌有回光濾鏡和射光濾鏡，所述殼體的內部設有分光鏡，所述分光鏡的頂端與上固定座的底面固定連接，所述分光鏡的底端與下固定座的上表面固定連接，所述殼體的上表面固定鑲嵌有第一轉筒，所述第一轉筒的頂部設有轉動輪，所述轉動輪的底面固定連接有第二轉筒，所述第二轉筒的底端與第一轉筒內側壁相接觸，所述第二轉筒的內側壁固定連接有直角圓錐鏡，所述殼體的頂部設有轉動環，所述轉動環的底面固定連接有螺紋筒，所述螺紋筒的底端貫穿殼體的上表面并延伸至殼體的內部，所述螺紋筒的底部設有推動筒，所述推動筒的上表面固定連接有螺紋桿，所述螺紋桿的頂端貫穿螺紋筒的底面并延伸至螺紋筒的內部，所述推動筒的底端固定連接有單頻激光發射器，所述推動筒的外表面開設有限位槽，所述推動筒的外表面套設有限位圈，所述限位圈的內側壁固定連接有限位桿，所述限位桿與限位槽滑動連接，所述限位圈的外表面固定連接有支撐桿，所述支撐桿遠離限位圈的一端與殼體的內側壁固定連接。

優選的，螺紋筒的外表面與殼體相接觸處套設有滾動軸承，所述滾動軸承的內圈與螺紋筒的外表面固定連接。

優選的，轉動輪的外表面套設有橡膠圈，所述橡膠圈的厚度不超過兩毫米。

優選的，螺紋桿的頂端固定連接有限位塊，所述限位塊的水平長度值大于螺紋桿的水平長度值。

優選的，分光鏡的傾斜角度為四十五度。

優選的，推動筒的上表面固定連接有軟質墊，所述軟質墊的厚度為兩毫米。

本實用新型的有益效果是：