[實用新型]一種降低中心針接觸電阻的測試射頻頭新型結構

有效

• 申請號: 201920585666.6
• 申請日: 2019-04-26
• 公開（公告）號: CN210109162U
• 公開（公告）日: 2020-02-21
• 發明（設計）人: 黃鑫;傅依常;傅玉榮
• 申請（專利權）人: 谷連精密機械(深圳)有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350
• 代理人: 湯東鳳

1.一種降低中心針接觸電阻的測試射頻頭新型結構，包括法蘭(1)、絕緣體(2)、針管(3)、第一彈簧(4)、導電圓珠(5)、針軸(6)、襯套(7)、第二彈簧(8)、外導體(9)和接觸頭(10)，其特征在于：所述法蘭(1)套接在絕緣體(2)的頂部，所述絕緣體(2)的內部豎直設置有針管(3)，所述針管(3)的內部空腔設置有第一彈簧(4)，所述針管(3)的底部嵌入安裝有針軸(6)，所述針軸(6)的外側套接有襯套(7)，所述襯套(7)的外部套接有第二彈簧(8)，所述第二彈簧(8)設置在外導體(9)的內部，所述外導體(9)的底部嵌入安裝有接觸頭(10)。

2.根據權利要求1所述的一種降低中心針接觸電阻的測試射頻頭新型結構，其特征在于：所述第一彈簧(4)的底部與針軸(6)的頂部之間設置有導電圓珠(5)。

3.根據權利要求1所述的一種降低中心針接觸電阻的測試射頻頭新型結構，其特征在于：所述導電圓珠(5)的直徑與針管(3)的內徑相同。

4.根據權利要求1所述的一種降低中心針接觸電阻的測試射頻頭新型結構，其特征在于：所述針軸(6)的尾部位于接觸頭(10)內部，且針軸(6)的頂部為斜面。

5.根據權利要求1所述的一種降低中心針接觸電阻的測試射頻頭新型結構，其特征在于：所述第二彈簧(8)的底部套接在接觸頭(10)的頂部。

6.根據權利要求1所述的一種降低中心針接觸電阻的測試射頻頭新型結構，其特征在于：所述外導體(9)豎直固定安裝在絕緣體(2)的底部。