[實用新型]一種普克爾盒消光比檢測裝置

有效

• 申請號: 201920570036.1
• 申請日: 2019-04-25
• 公開（公告）號: CN209745803U
• 公開（公告）日: 2019-12-06
• 發明（設計）人: 鄭煜
• 申請（專利權）人: 武漢華族激光技術有限公司
• 主分類號: G01N21/21
• 分類號: G01N21/21
• 代理公司: 11429 北京中濟緯天專利代理有限公司
• 代理人: 鄧佳<國際申請>=<國際公布>=<進入國

本實用新型的一種普克爾盒消光比檢測裝置，包括光源、調質組件、第二偏振片、反射鏡和探頭，調質組件與第二偏振片處于光源的出射方向，且第二偏振片與光源的發射方向呈45度角設置，且反射鏡設置在第二偏振片的上方以獲取S偏振光，探頭分別裝設在第二偏振片和反射鏡的輸出端。本實用新型通過采用光源、調質組件、第二偏振片、反射鏡和探頭相結合的結構，將普克爾盒放置在調質組件與第二偏振片之間，利用光源發射出測試光，經過調質組件進行調質后，進入普克爾盒中，分別利用第二偏振片和反射鏡以獲取P偏振光和S偏振光，并通過探頭以獲取P偏振光和S偏振光的幅值，從而以準確得到普克爾盒的消光比。

技術領域

本實用新型涉及普克爾盒性能檢測裝置，更具體地，涉及一種普克爾盒消光比檢測裝置。

背景技術

目前在建的幾臺用于慣性約束聚變(ICF)研究的高功率固體激光器，均采用新型的等離子體電極普克爾盒作為光開關，這種普克爾盒利用晶體兩側氣體放電形成的高電導率透明等離子體作電極，可以用薄晶體制成大口徑電光開關。

當普克爾盒內的電光晶體中由于端面電壓的不均勻性，在晶體不同的半徑上會有不同的消光比，當把晶體作為開關用到激光器中后，由于激光光束有一定的半徑，在激光器關門時會產生漏光，從而影響了激光束輸出質量。為了激光器的輸出光束質量，確保激光束的輸出效果，急需發明一種可準確獲取普克爾盒的封裝效果的儀器，從而實現對普克爾盒封裝質量控制。

實用新型內容

本實用新型提供一種結構簡單、測量方便的用于獲取普克爾盒消光比參數的檢測裝置，以解決上現有環狀電極晶體端面電壓不均勻性造成對普克爾盒消光比的影響。

根據本實用新型的一個方面，提供一種普克爾盒消光比檢測裝置，包括光源、調質組件、第二偏振片、反射鏡和探頭，所述調質組件與所述第二偏振片處于所述光源的出射方向，且所述第二偏振片與所述光源的發射方向呈45度角設置，且所述反射鏡設置在所述第二偏振片的上方以獲取S偏振光，所述探頭分別裝設在所述第二偏振片和所述反射鏡的輸出端，所述普克爾盒裝設在所述調質組件與所述第二偏振片之間。

在上述方案基礎上優選，所述探頭為PD探頭或功率探頭。

在上述方案基礎上優選，所述調質組件為偏振片。

在上述方案基礎上優選，所述光源與所述調質組件之間還裝設有光高調節件。

在上述方案基礎上優選，所述光高調節件包括安裝座、入射光調節座和出射光調節座，所述入射光調節座滑動式裝設在所述安裝座上，所述出射光調節座固定在所述安裝座上，并在所述入射光調節座上裝設有第一反射鏡片，所述出射光調節座上裝設有第二反射鏡片，且所述第一反射鏡片與所述第二反射鏡片之間的夾角呈45度。

在上述方案基礎上優選，所述安裝座的高度方向上均勻設有多個調節孔，所述入射光調節座上設有腰型長孔，且所述入射光調節座通過鎖緊栓裝設在所述安裝座的調節孔內。

在上述方案基礎上優選，所述安裝座上設有滑軌，所述入射光調節座上設有滑槽，所述入射光調節座通過所述滑槽與所述滑軌相連。

本實用新型的一種普克爾盒消光比檢測裝置，通過采用光源、調質組件、第二偏振片、反射鏡和探頭相結合的結構，將普克爾盒放置在調質組件與第二偏振片之間，利用光源發射出測試光，經過調質組件進行調質后，進入普克爾盒中，分別利用第二偏振片和反射鏡以獲取P偏振光和S偏振光，并通過探頭以獲取P偏振光和S偏振光的幅值，從而以準確得到普克爾盒的消光比。

附圖說明

圖1為本實用新型的普克爾盒消光比檢測裝置的原理圖；

圖2為本實用新型的光高調節件的結構圖。

具體實施方式