[實(shí)用新型]一種PCB板測(cè)試儀電路有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201920567573.0 | 申請(qǐng)日： | 2019-04-24 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN209894926U | 公開（公告）日： | 2020-01-03 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 黃偉仁 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 佛山市隆中對(duì)智能科技有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01R31/28 | 分類號(hào)： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 11315 北京國(guó)昊天誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 顧惠忠 |
| 地址： | 528303 廣東省佛山市順德區(qū)容*** | 國(guó)省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 控制終端 氣動(dòng)控制單元 采集單元 供電單元 電連接 數(shù)據(jù)采集處理模塊 視點(diǎn) 控制模塊 本實(shí)用新型 電路 | ||
1.一種PCB板測(cè)試儀電路，其特征在于，包括：數(shù)據(jù)采集處理模塊(1)及電連接所述數(shù)據(jù)采集處理模塊(1)的控制模塊(2)；所述控制模塊(2)包括控制終端(21)、氣動(dòng)控制單元(22)、視點(diǎn)采集單元(23)、控制終端供電單元(24)及顯示單元(25)；所述氣動(dòng)控制單元(22)、視點(diǎn)采集單元(23)、控制終端供電單元(24)及顯示單元(25)均電連接所述控制終端(21)，所述控制終端供電單元(24)分別電連接所述氣動(dòng)控制單元(22)、視點(diǎn)采集單元(23)及顯示單元(25)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCB板測(cè)試儀電路，其特征在于，所述數(shù)據(jù)采集處理模塊(1)包括數(shù)據(jù)集成信息隔離單元(11)、交流采集單元(12)、直流采集單元(13)、電平邏輯輸出控制單元(14)及數(shù)據(jù)集成供電單元(15)；所述數(shù)據(jù)集成信息隔離單元(11)電連接所述控制終端(21)，所述交流采集單元(12)、直流采集單元(13)、電平邏輯輸出控制單元(14)及數(shù)據(jù)集成供電單元(15)均電連接所述數(shù)據(jù)集成信息隔離單元(11)，所述數(shù)據(jù)集成供電單元(15)分別電連接所述交流采集單元(12)、直流采集單元(13)及電平邏輯輸出控制單元(14)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的PCB板測(cè)試儀電路，其特征在于，所述數(shù)據(jù)采集處理模塊(1)還包括電源控制單元(16)，所述電源控制單元(16)分別電連接所述數(shù)據(jù)集成信息隔離單元(11)與數(shù)據(jù)集成供電單元(15)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCB板測(cè)試儀電路，其特征在于，所述氣動(dòng)控制單元(22)包括氣動(dòng)MCU處理器(221)、氣動(dòng)集成數(shù)據(jù)隔離器(222)、氣動(dòng)電源處理電路(223)及電壓供電轉(zhuǎn)換器(224)；所述氣動(dòng)MCU處理器(221)通過(guò)輸出輸入接口連接PCB板測(cè)試儀設(shè)備的氣動(dòng)控制裝置；所述氣動(dòng)集成數(shù)據(jù)隔離器(222)電連接所述氣動(dòng)MCU處理器(221)；所述氣動(dòng)電源處理電路(223)電連接所述氣動(dòng)MCU處理器(221)及氣動(dòng)集成數(shù)據(jù)隔離器(222)；所述電壓供電轉(zhuǎn)換器(224)電連接所述氣動(dòng)電源處理電路(223)及輸出接口。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的PCB板測(cè)試儀電路，其特征在于，所述交流采集單元(12)包括交流MCU處理器(121)、交流集成數(shù)據(jù)隔離器(122)及交流電源處理電路(123)；所述交流MCU處理器(121)電連接所述控制終端(21)；所述交流集成數(shù)據(jù)隔離器(122)電連接所述交流MCU處理器(121)；所述交流電源處理電路(123)電連接所述交流MCU處理器(121)及交流集成數(shù)據(jù)隔離器(122)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的PCB板測(cè)試儀電路，其特征在于，所述電平邏輯輸出控制單元(14)包括電平MCU處理器(141)、電平集成數(shù)據(jù)隔離器(142)及電平電源處理電路(143)；所述電平MCU處理器(141)電連接所述控制終端(21)；所述電平集成數(shù)據(jù)隔離器(142)電連接所述電平MCU處理器(141)；所述電平電源處理電路(143)電連接所述電平MCU處理器(141)及電平集成數(shù)據(jù)隔離器(142)。
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G01R 測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置；電故障的探測(cè)裝置；以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
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G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
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