[實用新型]一種數據中心溫度檢測系統有效
| 申請號: | 201920553686.5 | 申請日: | 2019-04-22 |
| 公開(公告)號: | CN209745427U | 公開(公告)日: | 2019-12-06 |
| 發明(設計)人: | 王曉蘭;劉孝趙;蔣中;徐艷;張慶芳 | 申請(專利權)人: | 蘇州經貿職業技術學院 |
| 主分類號: | G01K11/32 | 分類號: | G01K11/32;G01K1/02 |
| 代理公司: | 31236 上海漢聲知識產權代理有限公司 | 代理人: | 黃超宇;胡晶<國際申請>=<國際公布>= |
| 地址: | 215009 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 本實用新型 若干服務器 光纖 測溫光纖 待測設備 監控系統 數據中心 測溫 主機 高速數據采集卡 光時域反射測量 空間溫度分布 溫度檢測系統 溫度信息采集 波分復用器 服務器設備 光電轉換器 光學濾波器 溫度分布圖 放大電路 光纖測溫 拉曼散射 設備內部 實時測量 溫度顯示 依次連接 報警器 激光器 測量點 工控機 靈敏 直觀 穿過 鋪設 保證 | ||
本實用新型公開了一種數據中心溫度檢測系統,包括測溫主機和處于數據中心被測區域的待測設備,待測設備包括若干服務器和測溫光纖,測溫光纖鋪設穿過若干服務器設備內部,用以保證所測溫度能最真實反映服務器設備運行的溫度;測溫主機包括依次連接的激光器、波分復用器WDM、光學濾波器、光電轉換器、放大電路、高速數據采集卡、工控機、監控系統和報警器。本實用新型綜合利用光纖拉曼散射效應和光時域反射測量技術來實時測量光纖沿線空間溫度分布情況,可實現對任意指定測量點進行實時精確的溫度信息采集。光纖測溫靈敏、實時,通過監控系統可以實時將光纖沿路的溫度顯示出來,得出溫度分布圖,直觀有效。
技術領域
本實用新型涉及溫度檢測技術領域,特別涉及一種數據中心溫度檢測系統。
背景技術
數據中心機房服務器密度極高,高密度設備會產生大量熱量,極易發生過熱現象。過熱的溫度不但大大減少設備的使用壽命,當溫度達到極限值的 90%時,服務器就會自動關閉以防止嚴重的損失,而這樣的自動關閉也會損失重要的信息。
故而需要實時監測數據中心的溫度,特別是設備個體的溫度。在任何情況下,均不允許服務器等設備在超出其工作溫度以外的范圍運行。對于局部過熱區域可以適當增加小型制冷設備,對于沒有必要開啟的設備要及時關閉,盡量在不增加數據中心運行成本的條件下,保持機房數據中心內部的恒溫狀態。因此,對數據中心的溫度監測,既保障設備的安全運行,又能將能耗控制在較低水平。
傳統的各類電子溫度傳感器的測溫物理范圍極為有限,大型的數據中心需要在數據中心各個戰略位置部署傳感器,所需傳感器數量眾多,部署成本極高,組網也很復雜。
本實用新型的方案便是針對上述問題對現有數據中心溫度檢測系統進行的改進。
實用新型內容
為了克服現有技術中的不足,本實用新型提供一種數據中心溫度檢測系統,使用單根光纖實現溫度監測,光纖既是傳輸介質,又是傳感單元,光纖鋪設可以遍及整個數據中心內部,覆蓋監測區域,無測量盲區。不僅可以大大降低測溫成本,光纖測溫技術具備良好的實時性、連續性和穩定性。
為了達到上述實用新型目的,解決其技術問題所采用的技術方案如下:
一種數據中心溫度檢測系統,包括測溫主機和處于數據中心被測區域的待測設備,其中:
所述待測設備包括若干服務器和測溫光纖,所述測溫光纖鋪設穿過若干所述服務器設備內部,用以保證所測溫度能最真實反映服務器設備運行的溫度;
所述測溫主機包括依次連接的激光器、波分復用器WDM、光學濾波器、光電轉換器、放大電路、高速數據采集卡、工控機、監控系統和報警器:
所述激光器產生有效激光脈沖經所述波分復用器WDM耦合到所述測溫光纖中并沿所述測溫光纖向數據中心被測區域傳播,光在光纖中傳播過程中發生拉曼散射現象,所產生的斯托克斯光和反斯托克斯光會沿所述測溫光纖反向傳播,再次經過所述波分復用器WDM進入到所述光學濾波器,所述光學濾波器分別提取斯托克斯光和反斯托克斯光,并有效抑制其他干擾散射光,提取的斯托克斯光和反斯托克斯光分兩路分別進入所述光電轉換器,將光信號轉換成電信號,后經過所述放大電路,再被所述高速數據采集卡采集,并轉換成數字信號傳送給工控機,所述工控機利用斯托克斯光和反斯托克斯光強的比值可以實時獲得沿光纖分布的若干服務器的準確溫度信息,另外基于光在光纖中的傳播速度和回波時間可以實現對異常點的精確定位,并通過所述監控系統顯示溫度分布情況進而得出溫度分布圖,當沿光纖分布的溫度有高于數據中心溫度上限值時,通過所述報警器顯示報警信息。
進一步的,若干所述服務器呈M行*N列形式布置,任意所述服務器的坐標可以[m,n]表示,m是該服務器所在的行數,n是該服務器所在的列數。
進一步的,所述測溫主機所測的異常點位置長度假設為L,則:
L=[k×(N-1)+h]×m+(n-1)×k
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