[實用新型]測距裝置以及測距模塊

有效

• 申請號: 201920533163.4
• 申請日: 2019-04-18
• 公開（公告）號: CN210092078U
• 公開（公告）日: 2020-02-18
• 發明（設計）人: 尾山雄介;菊地健;大鳥居英;大谷榮二;森田寬
• 申請（專利權）人: 索尼公司;索尼半導體解決方案公司
• 主分類號: H01L25/16
• 分類號: H01L25/16;G01S7/481;G01S17/08
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 崔迎賓;李雪春

1.一種測距裝置，其特征在于，具備：

透鏡；

電路基板；

發光基板，具有發光元件；以及

受光基板，具有單體或者二維狀配置的受光元件，

所述發光基板經由第一凸塊與所述電路基板連接，

所述受光基板經由第二凸塊與所述電路基板連接，

所述透鏡的光軸、所述發光元件的光軸以及所述受光元件的中心軸配置在同軸上。

2.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，

所述電路基板、所述發光基板以及所述受光基板相對于所述透鏡按照所述電路基板、所述發光基板、所述受光基板的順序配置，

所述受光元件的受光面積大于所述發光元件的發光面積。

3.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，

所述電路基板在所述發光元件與所述透鏡之間具有第一開口部。

4.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，

所述電路基板在所述受光元件與所述透鏡之間具有第二開口部。

5.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，

所述透鏡配置在透鏡基板上，

所述透鏡基板層疊于所述電路基板。

6.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，

所述受光元件是雪崩光電二極管或單光子雪崩二極管。

7.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，

所述電路基板具有對所述發光元件進行控制的發光控制部。

8.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，

所述電路基板具有時間計測部，該時間計測部計測從所述發光元件照射光到所述受光元件接收到所述光為止的時間。

9.根據權利要求8所述的測距裝置，其特征在于，

所述電路基板具有距離計算部，該距離計算部基于由所述時間計測部計測出的時間，計算距被照射所述光的物體的距離。

10.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，

所述透鏡由多個透鏡構成。

11.根據權利要求10所述的測距裝置，其特征在于，

所述多個透鏡的材料不同。

12.根據權利要求10所述的測距裝置，其特征在于，

所述多個透鏡通過層疊形成有透鏡的多個透鏡基板而形成。

13.根據權利要求10所述的測距裝置，其特征在于，

作為所述多個透鏡的一個，具有環形形狀的透鏡。

14.根據權利要求12所述的測距裝置，其特征在于，

將所述發光元件的光射出的方向設為上方，

所述多個透鏡基板中最上部的透鏡基板不具有從上表面向上方突出的凸部。

15.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，

將所述發光元件的光射出的方向設為上方，

在所述透鏡的上方還具備直徑比所述透鏡大的聚光透鏡。

16.根據權利要求15所述的測距裝置，其特征在于，

所述聚光透鏡和所述透鏡構成為通過平行光耦合。

17.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，

所述透鏡固定在有機基板上。

18.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，

所述電路基板具有電路層和布線層，

對所述受光元件施加電壓的布線僅通過所述電路基板的所述布線層。