[實(shí)用新型]測(cè)試治具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201920512401.3 | 申請(qǐng)日: | 2019-04-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN210090561U | 公開(公告)日: | 2020-02-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳鵬;藺永祥;畢哲哲 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 伯恩光學(xué)(惠州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R27/02 | 分類號(hào): | G01R27/02 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 516221 *** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)試 | ||
本實(shí)用新型公開了一種測(cè)試治具,包括上測(cè)試板、限位板、活動(dòng)板、下測(cè)試板、萬(wàn)用表,所述上測(cè)試板的表面貼合有導(dǎo)電泡棉,所述限位板的表面開設(shè)有供所述活動(dòng)板穿過的通槽,所述活動(dòng)板的表面開設(shè)有放置蓋板的通孔,所述下測(cè)試板的表面開設(shè)有定位槽,所述定位槽與所述上測(cè)試板表面的導(dǎo)電泡棉相對(duì)應(yīng)的位置設(shè)置有定位凸臺(tái),所述定位凸臺(tái)的表面貼合有導(dǎo)電泡棉,所述定位凸臺(tái)的四角設(shè)置有彈簧,所述萬(wàn)用表連接所述上測(cè)試板表面的導(dǎo)電泡棉和所述定位凸臺(tái)表面的導(dǎo)電泡棉測(cè)試蓋板的阻抗。本實(shí)用新型的測(cè)試治具結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,制作成本低,操作方便,占用空間小,能夠快速地測(cè)試出蓋板的阻抗值,測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及工藝裝備領(lǐng)域,尤其是一種測(cè)試蓋板阻抗的測(cè)試治具。
背景技術(shù)
隨著電子產(chǎn)品如智能手機(jī)、智能手表、車載電子設(shè)備等在人們生活中得到廣泛的應(yīng)用,這些產(chǎn)品的內(nèi)部設(shè)置有多種不同功能的電子元器件。而蓋板作為電子產(chǎn)品的一種常見組件,常用于保護(hù)電子產(chǎn)品內(nèi)部元器件,也為電路的存在提供載體。通常,電路通過絲印或者噴涂的方式覆蓋在蓋板的表面。蓋板上的電路阻抗過大或者過小會(huì)影響電流的大小,導(dǎo)致電子元器件不能正常工作,為保證電子元器件處于正常工作的功率范圍內(nèi),需要對(duì)蓋板上的電路進(jìn)行阻抗測(cè)試,以判斷是否符合要求。蓋板的阻抗測(cè)試一般是通過阻抗測(cè)試儀器來(lái)測(cè)試。但是,現(xiàn)有的阻抗測(cè)試儀器普遍價(jià)格昂貴,占用空間大,調(diào)試比較麻煩,對(duì)人員的要求比較高,投入成本高。因此,有必要設(shè)計(jì)一種測(cè)試治具用于解決上述問題。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型提供了一種測(cè)試治具,尤其是一種測(cè)試蓋板阻抗的測(cè)試治具。該測(cè)試治具結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,制作成本低,操作簡(jiǎn)單方便,占用空間小,能夠快速地測(cè)試出蓋板的阻抗值,測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定。
為解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型采用下述技術(shù)方案:該測(cè)試治具,主要用于測(cè)試蓋板的阻抗,包括上測(cè)試板、限位板、活動(dòng)板、下測(cè)試板、萬(wàn)用表,所述上測(cè)試板與所述限位板相對(duì)應(yīng)的表面固定貼合有導(dǎo)電泡棉,所述限位板的表面開設(shè)有供所述活動(dòng)板穿過與所述活動(dòng)板形狀相適配的通槽,所述活動(dòng)板的表面開設(shè)有放置蓋板的通孔,所述下測(cè)試板與所述活動(dòng)板相對(duì)應(yīng)的表面開設(shè)有與所述活動(dòng)板底部形狀相適配的定位槽,所述定位槽與所述上測(cè)試板表面的導(dǎo)電泡棉相對(duì)應(yīng)的位置設(shè)置有定位凸臺(tái),所述定位凸臺(tái)的表面也貼合有導(dǎo)電泡棉,所述定位凸臺(tái)的四角設(shè)置有供所述活動(dòng)板上下活動(dòng)的彈簧,所述萬(wàn)用表連接所述上測(cè)試板表面的導(dǎo)電泡棉和所述定位凸臺(tái)表面的導(dǎo)電泡棉測(cè)試放置在所述活動(dòng)板中蓋板的阻抗。
根據(jù)本實(shí)用新型的設(shè)計(jì)構(gòu)思,本實(shí)用新型所述下測(cè)試板的定位槽中設(shè)置有用于對(duì)活動(dòng)板進(jìn)行定位的定位柱,所述定位柱位于所述定位凸臺(tái)側(cè)邊處;所述活動(dòng)板與所述定位柱對(duì)應(yīng)的位置設(shè)置有供定位柱穿過的定位孔。
根據(jù)本實(shí)用新型的設(shè)計(jì)構(gòu)思,本實(shí)用新型所述定位凸臺(tái)的形狀大小與所述活動(dòng)板表面開設(shè)的通孔形狀大小相適配。
根據(jù)本實(shí)用新型的設(shè)計(jì)構(gòu)思,本實(shí)用新型所述活動(dòng)板包括底板和固定于底板上的樣品板,所述樣品板的長(zhǎng)度小于所述底板的長(zhǎng)度,所述通孔貫穿所述底板和所述樣品板。
根據(jù)本實(shí)用新型的設(shè)計(jì)構(gòu)思,本實(shí)用新型所述通槽包括供所述樣品板穿過的樣品通槽和位于所述限位板下表面壓合在所述底板表面的底槽。
根據(jù)本實(shí)用新型的設(shè)計(jì)構(gòu)思,本實(shí)用新型所述限位板壓合在所述活動(dòng)板表面,所述樣品板穿過所述樣品通槽,所述底板位于所述底槽下方,所述限位板固定在所述下測(cè)試板上。
根據(jù)本實(shí)用新型的設(shè)計(jì)構(gòu)思,本實(shí)用新型所述限位板與所述活動(dòng)板相對(duì)應(yīng)的側(cè)邊處開設(shè)有方便蓋板取放的切口。
根據(jù)本實(shí)用新型的設(shè)計(jì)構(gòu)思,本實(shí)用新型所述上測(cè)試板是由聚苯硫醚制成。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型具有下述有益效果:
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R27-00 測(cè)量電阻、電抗、阻抗或其派生特性的裝置
G01R27-02 .電阻、電抗、阻抗或其派生的其他兩端特性,例如時(shí)間常數(shù)的實(shí)值或復(fù)值測(cè)量
G01R27-28 .衰減、增益、相移或四端網(wǎng)絡(luò),即雙端對(duì)網(wǎng)絡(luò)的派生特性的測(cè)量;瞬態(tài)響應(yīng)的測(cè)量
G01R27-30 ..具有記錄特性值的設(shè)備,例如通過繪制尼奎斯特
G01R27-32 ..在具有分布參數(shù)的電路中的測(cè)量
G01R27-04 ..在具有分布常數(shù)的電路中的測(cè)量
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
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