[實(shí)用新型]一種閃爍晶體的符合時(shí)間性能的檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201920502046.1
• 申請(qǐng)日: 2019-04-12
• 公開（公告）號(hào): CN209946404U
• 公開（公告）日: 2020-01-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 屈春蕾;祁建偉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 無錫通透光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G01T7/00
• 分類號(hào): G01T7/00
• 代理公司: 32262 無錫市朗高知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 趙華

本實(shí)用新型公開了一種閃爍晶體的符合時(shí)間性能的檢測(cè)裝置，包括符合探頭，數(shù)據(jù)采集卡，放射源固定夾具，暗盒，暗盒為避光帶可拆卸盒蓋的暗盒，所述符合探頭、數(shù)據(jù)采集卡、放射源固定夾具設(shè)置在暗盒內(nèi)，符合探頭設(shè)有兩個(gè)，兩個(gè)符合探頭之間距離可調(diào)整，放射源固定夾具設(shè)置在兩個(gè)符合探頭之間，放射源固定夾具在X，Y，Z，三個(gè)方向均可調(diào)節(jié)移動(dòng)距離，放射源固定夾具上固定放射源，檢測(cè)裝置設(shè)有USB供電口和USB數(shù)據(jù)傳輸口，本檢測(cè)裝置具有體積小，工作電壓低，成本低廉，便于操作，可移動(dòng)等特點(diǎn)，既可以測(cè)試單根晶體條還可以測(cè)試晶體陣列。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于晶體材料檢測(cè)領(lǐng)域，尤其涉及一種閃爍晶體的符合時(shí)間性能的檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)

閃爍晶體材料廣泛的應(yīng)用輻射探測(cè)以及輻射成像等領(lǐng)域，在輻射成像領(lǐng)域，PET設(shè)備對(duì)閃爍晶體的時(shí)間性能要求十分嚴(yán)格，因此PET設(shè)備廠商往往需要閃爍晶體廠商提供其生產(chǎn)的晶體條以及晶體陣列的符合時(shí)間性能。傳統(tǒng)的使用需要高壓(1000V以上)才能工作的PMT和價(jià)格昂貴的高速示波器或采集卡的符合時(shí)間檢測(cè)設(shè)備，體積大，工作電壓高，成本昂貴，不易操作。

在申請(qǐng)?zhí)枮椋篊N201811575889.0·，申請(qǐng)日為:2018-12-22名稱為：一種閃爍晶體測(cè)試裝置的專利中，公開了一種閃爍晶體測(cè)試裝置，包括推進(jìn)部件、裝載部件、耦合部件和探測(cè)部件，推進(jìn)部件具有推桿和與推桿連接的驅(qū)動(dòng)器；裝載部件包括裝載主體和晶體測(cè)試單元，晶體測(cè)試單元設(shè)置于裝載主體上；耦合部件呈筒狀，耦合部件上設(shè)置有第一耦合視窗，裝載部件設(shè)置于耦合部件內(nèi)部，推進(jìn)部件固定于耦合部件的一端，推桿抵觸裝載主體；探測(cè)部件包括光電轉(zhuǎn)換器件和與光電轉(zhuǎn)換器件連接的電子學(xué)讀出裝置，探測(cè)部件設(shè)置于耦合部件的另一端，探測(cè)部件上設(shè)置有與第一耦合視窗匹配的第二耦合視窗，晶體測(cè)試單元中的閃爍晶體與光電轉(zhuǎn)換器件耦合。

發(fā)明內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的就是為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷而提供一種閃爍晶體的符合時(shí)間性能的檢測(cè)裝置。

本實(shí)用新型的的目的可以通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)：

一種閃爍晶體的符合時(shí)間性能的檢測(cè)裝置，包括符合探頭4，數(shù)據(jù)采集卡2，放射源固定夾具3，暗盒1，所述暗盒1為避光帶可拆卸盒蓋的暗盒，所述符合探頭4、數(shù)據(jù)采集卡2、放射源固定夾具3設(shè)置在暗盒1內(nèi)，所述符合探頭4設(shè)有兩個(gè)，兩個(gè)符合探頭4之間距離可調(diào)整，所述放射源固定夾具3設(shè)置在兩個(gè)符合探頭4之間，所述放射源固定夾具3在X，Y，Z，三個(gè)方向均可調(diào)節(jié)移動(dòng)距離，所述放射源固定夾具3上固定放射源305，所述檢測(cè)裝置設(shè)有USB供電口和USB數(shù)據(jù)傳輸口。

優(yōu)選的，每個(gè)所述符合探頭4由一個(gè)8x8SiPM陣列和前端電子學(xué)系統(tǒng)構(gòu)成，所述前端電子學(xué)系統(tǒng)包含位置編碼電路，TDC電路，ADC電路以及FPGA。

優(yōu)選的，所述放射源305為Na-22或Ge-68或F-18。

優(yōu)選的，兩個(gè)所述符合探頭4分別設(shè)置在探頭移動(dòng)座402上，兩個(gè)探頭移動(dòng)座402底部固定在滑移軌道404左右移動(dòng)，所述探頭移動(dòng)座402底部通過左右滑塊403沿著滑移軌道404移動(dòng)。

更優(yōu)選的，所述放射源固定夾具3設(shè)有放射源固定座301。

更優(yōu)選的，所述放射源固定座301底部設(shè)有可伸縮固定桿302。

更優(yōu)選的，所述可伸縮固定桿302通過第一滑塊沿著垂直軌道303滑動(dòng)，所述垂直軌道303通過第二滑塊304固定在滑移軌道404上并沿著滑移軌道404滑動(dòng)，所述垂直軌道303的滑動(dòng)方向與滑移軌道404的滑動(dòng)方向垂直。

本實(shí)用新型的有益效果：

本檢測(cè)裝置具有體積小，工作電壓低，成本低廉，便于操作，可移動(dòng)，既可以測(cè)試單根晶體條還可以測(cè)試晶體陣列。

附圖說明

圖1為一種閃爍晶體的符合時(shí)間性能的檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。