[實(shí)用新型]一種LED特征參量自動(dòng)采集系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201920498482.6
• 申請(qǐng)日: 2019-04-14
• 公開（公告）號(hào): CN210222188U
• 公開（公告）日: 2020-03-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 石頡;申海鋒;田昌前;趙德宇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州科技大學(xué)
• 主分類號(hào): G01R31/26
• 分類號(hào): G01R31/26;G01M11/02
• 代理公司: 北京科家知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11427
• 代理人: 陳娟

本實(shí)用新型公開了一種LED特征參量自動(dòng)采集系統(tǒng)，用于對(duì)LED樣品進(jìn)行特征參量采集，包括LED試驗(yàn)機(jī)構(gòu)、控制模塊、執(zhí)行機(jī)構(gòu)、檢測(cè)模塊、存儲(chǔ)模塊、顯示模塊、電源模塊，所述LED試驗(yàn)機(jī)構(gòu)包括水平放置的測(cè)試臺(tái)架、設(shè)置于測(cè)試臺(tái)架上的機(jī)械臂，所述電源模塊為L(zhǎng)ED樣品供電，所述LED樣品放置于測(cè)試臺(tái)架上，所述的機(jī)械臂通過旋轉(zhuǎn)操作和伸縮操作帶動(dòng)檢測(cè)模塊對(duì)LED樣品的特征參量進(jìn)行檢測(cè)，所述測(cè)試臺(tái)架在LED樣品側(cè)設(shè)置有短接機(jī)構(gòu)，所述短接機(jī)構(gòu)適于對(duì)LED樣品進(jìn)行短接。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，控制結(jié)構(gòu)和動(dòng)作機(jī)構(gòu)可靠穩(wěn)定，能夠消除累計(jì)誤差，測(cè)試精準(zhǔn)持續(xù)，非常利于推廣使用。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于光電器件測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種LED特征參量自動(dòng)采集系統(tǒng)。

背景技術(shù)

發(fā)光二極管，即發(fā)光LED器件是半導(dǎo)體二極管的一種，可以把電能轉(zhuǎn)化成光能。LED具有效率高、光色純、應(yīng)用靈活、光線質(zhì)量高等優(yōu)異特點(diǎn)，發(fā)光二極管在許多光電控制設(shè)備中用作光源，在電子設(shè)備中用作信號(hào)顯示器。

然而LED在使用過程中，由于電流及外界環(huán)境的影響，其會(huì)不可避免的發(fā)生老化。LED的老化主要包括芯片的老化以及封裝的老化。芯片的老化機(jī)理，包括熱量積累導(dǎo)致的熱機(jī)械應(yīng)力加強(qiáng)、芯片裂紋擴(kuò)大，工藝不良導(dǎo)致的芯片粘結(jié)層完全脫離粘結(jié)面等。封裝的老化機(jī)理主要是高溫與潮濕導(dǎo)致封裝材料劣化，水汽滲入封裝材料內(nèi)部，導(dǎo)致引線變質(zhì)、PCB銅線銹蝕，隨水汽引入的可動(dòng)導(dǎo)電離子會(huì)駐留在芯片表面，從而造成漏電。老化的LED燈發(fā)光效率會(huì)大大降低，光色的純度下降，甚至發(fā)生燒毀。

但是LED的老化不易直接觀察判斷，由于應(yīng)用數(shù)量巨大，也不易通過全部檢測(cè)來判斷。作為現(xiàn)代化節(jié)能環(huán)保的燈具，一旦發(fā)生老化或燒毀，電路將失去指示功能，對(duì)維修工作帶來巨大的影響。這種現(xiàn)象對(duì)于某些重要電路，存在重大的安全隱患。

現(xiàn)有技術(shù)中，LED測(cè)試技術(shù)包括LED電壓測(cè)量、電流測(cè)量、分光檢測(cè)技術(shù)等。其中，LED樣品參數(shù)的選擇和測(cè)量關(guān)系到檢測(cè)的可靠性和穩(wěn)定性，如用傳統(tǒng)的方法，老化試驗(yàn)過程太長(zhǎng)，而且電參數(shù)的采集也受到各種因素的影響。為此，選擇一種參數(shù)進(jìn)行有效測(cè)量，并為其提供配套的參量自動(dòng)采集系統(tǒng)，是一種可靠的思路。

鑒于此，本實(shí)用新型提出了一種LED壽命特征參量的自動(dòng)采集系統(tǒng)，該特征參量為光通量，能夠根據(jù)設(shè)定的周期采集并存儲(chǔ)LED的光通量，成功地解決上述問題。

實(shí)用新型內(nèi)容

實(shí)用新型目的：本實(shí)用新型提出一種LED特征參量自動(dòng)采集系統(tǒng)，能夠根據(jù)設(shè)定的周期采集并存儲(chǔ)LED的光通量，參量穩(wěn)定，測(cè)量控制可靠，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題。

實(shí)用新型內(nèi)容：一種LED特征參量自動(dòng)采集系統(tǒng)，對(duì)LED樣品進(jìn)行特征參量采集，包括LED試驗(yàn)機(jī)構(gòu)、控制模塊、執(zhí)行機(jī)構(gòu)、檢測(cè)模塊、存儲(chǔ)模塊、顯示模塊、電源模塊，所述LED試驗(yàn)機(jī)構(gòu)包括水平放置的測(cè)試臺(tái)架、設(shè)置于測(cè)試臺(tái)架上的機(jī)械臂，所述電源模塊為L(zhǎng)ED供電，所述LED樣品放置于測(cè)試臺(tái)架上，所述測(cè)試臺(tái)架在LED樣品側(cè)設(shè)置有短接機(jī)構(gòu)，所述短接機(jī)構(gòu)適于對(duì)LED進(jìn)行短接。LED試驗(yàn)機(jī)構(gòu)可以單獨(dú)控制，也可結(jié)合其他測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試，短接機(jī)構(gòu)短接方式直接而可靠，能夠?qū)崿F(xiàn)單個(gè)LED自動(dòng)短接功能，并保證被測(cè)LED不間斷供電。

具體的，所述測(cè)試臺(tái)架為圓盤形，并開有原點(diǎn)定位孔；所有LED樣品為串聯(lián)連接，并按照同心、等半徑、均勻角度安裝在測(cè)試臺(tái)架的圓盤的相應(yīng)位置。相比直線形的測(cè)試機(jī)構(gòu)，圓盤形的臺(tái)架便于對(duì)LED進(jìn)行操作和和復(fù)位，行程小，占用資源少，精度高。

進(jìn)一步，所述執(zhí)行機(jī)構(gòu)包括旋轉(zhuǎn)執(zhí)行機(jī)構(gòu)、伸縮執(zhí)行機(jī)構(gòu)，所述旋轉(zhuǎn)執(zhí)行機(jī)構(gòu)和伸縮執(zhí)行機(jī)構(gòu)分別設(shè)置于機(jī)械臂上，旋轉(zhuǎn)執(zhí)行機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)機(jī)械臂進(jìn)行旋轉(zhuǎn)操作；機(jī)械臂的伸縮執(zhí)行機(jī)構(gòu)上安裝有檢測(cè)模塊。

更進(jìn)一步，所述控制模塊控制旋轉(zhuǎn)執(zhí)行機(jī)構(gòu)按照預(yù)設(shè)的速度或角度旋轉(zhuǎn)，旋轉(zhuǎn)至LED樣品上方時(shí)，控制模塊控制旋轉(zhuǎn)執(zhí)行機(jī)構(gòu)停止旋轉(zhuǎn)；驅(qū)動(dòng)伸縮執(zhí)行機(jī)構(gòu)將檢測(cè)模塊推送至LED樣品附近的預(yù)設(shè)位置，檢測(cè)相應(yīng)LED樣品的特征參量，并以存儲(chǔ)模塊記錄。