[實用新型]一種LED特征參量自動采集系統

有效

• 申請號: 201920498482.6
• 申請日: 2019-04-14
• 公開（公告）號: CN210222188U
• 公開（公告）日: 2020-03-31
• 發明（設計）人: 石頡;申海鋒;田昌前;趙德宇
• 申請（專利權）人: 蘇州科技大學
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01M11/02
• 代理公司: 北京科家知識產權代理事務所(普通合伙) 11427
• 代理人: 陳娟

本實用新型公開了一種LED特征參量自動采集系統，用于對LED樣品進行特征參量采集，包括LED試驗機構、控制模塊、執行機構、檢測模塊、存儲模塊、顯示模塊、電源模塊，所述LED試驗機構包括水平放置的測試臺架、設置于測試臺架上的機械臂，所述電源模塊為LED樣品供電，所述LED樣品放置于測試臺架上，所述的機械臂通過旋轉操作和伸縮操作帶動檢測模塊對LED樣品的特征參量進行檢測，所述測試臺架在LED樣品側設置有短接機構，所述短接機構適于對LED樣品進行短接。本實用新型結構簡單，控制結構和動作機構可靠穩定，能夠消除累計誤差，測試精準持續，非常利于推廣使用。

技術領域

本實用新型屬于光電器件測試技術領域，尤其涉及一種LED特征參量自動采集系統。

背景技術

發光二極管，即發光LED器件是半導體二極管的一種，可以把電能轉化成光能。LED具有效率高、光色純、應用靈活、光線質量高等優異特點，發光二極管在許多光電控制設備中用作光源，在電子設備中用作信號顯示器。

然而LED在使用過程中，由于電流及外界環境的影響，其會不可避免的發生老化。LED的老化主要包括芯片的老化以及封裝的老化。芯片的老化機理，包括熱量積累導致的熱機械應力加強、芯片裂紋擴大，工藝不良導致的芯片粘結層完全脫離粘結面等。封裝的老化機理主要是高溫與潮濕導致封裝材料劣化，水汽滲入封裝材料內部，導致引線變質、PCB銅線銹蝕，隨水汽引入的可動導電離子會駐留在芯片表面，從而造成漏電。老化的LED燈發光效率會大大降低，光色的純度下降，甚至發生燒毀。

但是LED的老化不易直接觀察判斷，由于應用數量巨大，也不易通過全部檢測來判斷。作為現代化節能環保的燈具，一旦發生老化或燒毀，電路將失去指示功能，對維修工作帶來巨大的影響。這種現象對于某些重要電路，存在重大的安全隱患。

現有技術中，LED測試技術包括LED電壓測量、電流測量、分光檢測技術等。其中，LED樣品參數的選擇和測量關系到檢測的可靠性和穩定性，如用傳統的方法，老化試驗過程太長，而且電參數的采集也受到各種因素的影響。為此，選擇一種參數進行有效測量，并為其提供配套的參量自動采集系統，是一種可靠的思路。

鑒于此，本實用新型提出了一種LED壽命特征參量的自動采集系統，該特征參量為光通量，能夠根據設定的周期采集并存儲LED的光通量，成功地解決上述問題。

實用新型內容

實用新型目的：本實用新型提出一種LED特征參量自動采集系統，能夠根據設定的周期采集并存儲LED的光通量，參量穩定，測量控制可靠，以解決現有技術中存在的問題。

實用新型內容：一種LED特征參量自動采集系統，對LED樣品進行特征參量采集，包括LED試驗機構、控制模塊、執行機構、檢測模塊、存儲模塊、顯示模塊、電源模塊，所述LED試驗機構包括水平放置的測試臺架、設置于測試臺架上的機械臂，所述電源模塊為LED供電，所述LED樣品放置于測試臺架上，所述測試臺架在LED樣品側設置有短接機構，所述短接機構適于對LED進行短接。LED試驗機構可以單獨控制，也可結合其他測試系統進行測試，短接機構短接方式直接而可靠，能夠實現單個LED自動短接功能，并保證被測LED不間斷供電。

具體的，所述測試臺架為圓盤形，并開有原點定位孔；所有LED樣品為串聯連接，并按照同心、等半徑、均勻角度安裝在測試臺架的圓盤的相應位置。相比直線形的測試機構，圓盤形的臺架便于對LED進行操作和和復位，行程小，占用資源少，精度高。

進一步，所述執行機構包括旋轉執行機構、伸縮執行機構，所述旋轉執行機構和伸縮執行機構分別設置于機械臂上，旋轉執行機構驅動機械臂進行旋轉操作；機械臂的伸縮執行機構上安裝有檢測模塊。

更進一步，所述控制模塊控制旋轉執行機構按照預設的速度或角度旋轉，旋轉至LED樣品上方時，控制模塊控制旋轉執行機構停止旋轉；驅動伸縮執行機構將檢測模塊推送至LED樣品附近的預設位置，檢測相應LED樣品的特征參量，并以存儲模塊記錄。