[實用新型]一種光子注入型弱光檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201920346007.7
• 申請日: 2019-03-19
• 公開（公告）號: CN209706954U
• 公開（公告）日: 2019-11-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 馮旭東;趙振英
• 申請（專利權(quán)）人: 譜訴光電科技(蘇州)有限公司
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28
• 代理公司: 11369 北京遠(yuǎn)大卓悅知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)
• 代理人: 韓飛<國際申請>=<國際公布>=<進(jìn)入國

1.一種光子注入型弱光檢測裝置，其特征在于，包括補(bǔ)償光源、光電傳感器、光開關(guān)和電控組件；所述補(bǔ)償光源、光電傳感器和光開關(guān)與所述電控組件電性連接；其中，

所述補(bǔ)償光源發(fā)出初級光子，初級光子轉(zhuǎn)變成補(bǔ)償光子后射入所述光電傳感器，

待測光經(jīng)過光處理后進(jìn)入所述光電傳感器，所述光開關(guān)容許或阻擋待測光進(jìn)入所述光電傳感器。

2.如權(quán)利要求1所述的一種光子注入型弱光檢測裝置，其特征在于，初級光子通過混光衰減組件變成補(bǔ)償光子，所述補(bǔ)償光源連接所述混光衰減組件，所述補(bǔ)償光源發(fā)出初級光子進(jìn)入所述混光衰減組件，所述混光衰減組件將初級光子轉(zhuǎn)變?yōu)檠仄浣孛婢鶆蚍植嫉难a(bǔ)償光子，初級光子的數(shù)量大于補(bǔ)償光子的數(shù)量，補(bǔ)償光子的總能量大于所述光電傳感器的檢測限。

3.如權(quán)利要求2所述的一種光子注入型弱光檢測裝置，其特征在于，所述混光衰減組件為由若干個導(dǎo)光板組成的中空結(jié)構(gòu)，所述導(dǎo)光板包括緊貼其局部表面的漫反射層，初級光子進(jìn)入所述混光衰減組件經(jīng)漫反射層的多次反射后形成均勻分布的散射光，所述混光衰減組件中的部分散射光作為補(bǔ)償光子射向所述光電傳感器。

4.如權(quán)利要求2所述的一種光子注入型弱光檢測裝置，其特征在于，所述混光衰減組件包括若干個透光區(qū)域，初級光子從所述混光衰減組件的一側(cè)透光區(qū)域進(jìn)入，補(bǔ)償光子從所述混光衰減組件的另一側(cè)透光區(qū)域射向所述光電傳感器，進(jìn)入所述混光衰減組件中的補(bǔ)償光子與從其射出的補(bǔ)償光強(qiáng)的數(shù)量成線性關(guān)系。

5.如權(quán)利要求1所述的一種光子注入型弱光檢測裝置，其特征在于，所述光電傳感器包括感光窗口和感光組件；補(bǔ)償光子通過所述感光窗口的一側(cè)照射到所述感光組件上；待測光通過所述感光窗口的另一側(cè)照射到所述感光組件上。

6.如權(quán)利要求5所述的一種光子注入型弱光檢測裝置，其特征在于，所述補(bǔ)償光源包括功率調(diào)節(jié)電路和發(fā)光組件，所述功率調(diào)節(jié)電路連接所述電控組件。

7.如權(quán)利要求6所述的一種光子注入型弱光檢測裝置，其特征在于，所述發(fā)光組件包括單個發(fā)光器或多個發(fā)光器的組合，所述發(fā)光器發(fā)射的光譜波長范圍與所述光電傳感器響應(yīng)的波長范圍部分重疊。

8.如權(quán)利要求1所述的一種光子注入型弱光檢測裝置，其特征在于，所述光開關(guān)包括電子開關(guān)、機(jī)械開關(guān)，所述電子開關(guān)連接電控組件，所述電子開關(guān)連接儀器光學(xué)組件，所述電子開關(guān)通過電控的方式容許或阻擋待測光進(jìn)入所述儀器光學(xué)組件；所述機(jī)械開關(guān)通過移動遮擋物的方式容許或阻擋待測光進(jìn)入所述儀器光學(xué)組件。

9.如權(quán)利要求8所述的一種光子注入型弱光檢測裝置，其特征在于，所述機(jī)械開關(guān)為抽拉式機(jī)械開關(guān)，所述抽拉式機(jī)械開關(guān)包括第一擋光板、第一復(fù)位彈簧、導(dǎo)軌架、第一銜鐵和第一電吸盤；其中，

所述第一擋光板一端的局部區(qū)域延伸有一連桿，所述第一銜鐵固定設(shè)置于所述連桿的末端，所述第一復(fù)位彈簧套于所述連桿上；所述導(dǎo)軌架上設(shè)有一擋條，所述擋條設(shè)置于所述第一復(fù)位彈簧與所述第一銜鐵之間；

所述第一擋光板的兩端與所述導(dǎo)軌架的導(dǎo)軌相匹配，所述第一擋光板的兩端在所述導(dǎo)軌架的導(dǎo)軌上沿直線運(yùn)動；所述第一電吸盤固定設(shè)置于所述導(dǎo)軌架的一端，所述第一電吸盤與所述第一銜鐵相對設(shè)置并位于所述連桿的延長線上；

所述第一擋光板上設(shè)有通光孔，當(dāng)所述第一電吸盤未通電，所述第一復(fù)位彈簧推動所述第一擋光板移動，使得待測光通過所述通光孔進(jìn)入所述儀器光學(xué)組件內(nèi)；

當(dāng)所述第一電吸盤通電后，所述第一電吸盤吸引第一銜鐵，所述第一擋光板沿導(dǎo)軌運(yùn)動，所述擋條阻礙所述第一復(fù)位彈簧運(yùn)動并使其發(fā)生形變，所述第一擋光板遮擋待測光進(jìn)入所述儀器光學(xué)組件內(nèi)。

10.如權(quán)利要求9所述的一種光子注入型弱光檢測裝置，其特征在于，所述機(jī)械開關(guān)為杠桿式機(jī)械開關(guān)，所述杠桿式機(jī)械開關(guān)包括第二擋光板、固定架、支點(diǎn)圓柱、第二電吸盤和第二復(fù)位彈簧；其中，

所述支點(diǎn)圓柱固定于所述固定架上，所述第二擋光板的中部設(shè)有與所述支點(diǎn)圓柱相匹配的通孔；所述第二擋光板的一端固定設(shè)有第二銜鐵，所述第二電吸盤位于所述第二銜鐵的相對位置并固定設(shè)置于所述固定架上；

所述固定架上設(shè)有一固定塊，所述固定塊與所述第二電吸盤相鄰設(shè)置，所述固定塊將所述第二復(fù)位彈簧固定于所述固定架上；

所述第二擋光板上設(shè)有透光缺口，當(dāng)所述第二電吸盤未通電，所述第二復(fù)位彈簧帶動所述第二擋光板繞所述支點(diǎn)圓柱旋轉(zhuǎn)，使得待測光通過所述透光缺口進(jìn)入所述儀器光學(xué)組件內(nèi)；

當(dāng)所述第二電吸盤通電后，所述第二電吸盤吸引第二銜鐵，所述第二復(fù)位彈簧帶動所述第二擋光板繞所述支點(diǎn)圓柱旋轉(zhuǎn)，使得所述第二擋光板遮擋待測光進(jìn)入所述儀器光學(xué)組件內(nèi)。