[實用新型]環(huán)形縮距天線測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201920329807.8 | 申請日： | 2019-03-15 |
| 公開（公告）號： | CN209764952U | 公開（公告）日： | 2019-12-10 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張道治 | 申請（專利權(quán)）人： | 張道治 |
| 主分類號： | G01R29/10 | 分類號： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 11355 北京泰吉知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 張雅軍;孫金瑞 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;TW |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 環(huán)形中心 反射面 單組 主反射面 饋入器 平面波 天線測試裝置 本實用新型 環(huán)形反射面 天線輻射場 多組天線 輻射場型 快速量測 三維天線 天線測試 波特性 凹陷 二維 靜區(qū) 量測 區(qū)塊 入射 反射 | ||
1.一種環(huán)形縮距天線測試裝置，其特征在于，包含：
一環(huán)形的主反射面；
至少一訊號饋入器，與所述環(huán)形的主反射面間隔設(shè)置；及
至少一輔反射面，其表面幾何形狀由所述主反射面的表面公式及所述訊號饋入器的位置共同定義，
三者相互配合用于產(chǎn)生多個不同方向入射之平面波于一測試靜區(qū)，供多個天線接收或發(fā)射之場型量測之用。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的環(huán)形縮距天線測試裝置，其特征在于，所述環(huán)形的主反射面由兩正交之曲線構(gòu)成，之一曲線的軌跡為圓線，其圓心在所述測試靜區(qū)的一中心軸線上，另一曲線的軌跡為拋物線、雙曲線、橢圓線、圓線、及可用公式表示之曲線其中之一。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的環(huán)形縮距天線測試裝置，其特征在于，所述環(huán)形的主反射面由二曲線構(gòu)成，一第一曲線為圓形曲線，圓心在測試靜區(qū)中心軸線上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的環(huán)形縮距天線測試裝置，其特征在于，所述環(huán)形的主反射面的另一第二曲線為拋物線公式。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的環(huán)形縮距天線測試裝置，其特征在于，所述環(huán)形的主反射面的另一第二曲線為雙曲線公式。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的環(huán)形縮距天線測試裝置，其特征在于，所述環(huán)形的主反射面的另一第二曲線為橢圓線公式。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的環(huán)形縮距天線測試裝置，其特征在于，所述環(huán)形的主反射面的另一第二曲線為可用公式表示之曲線。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于張道治，未經(jīng)張道治許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201920329807.8/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇：超材料電磁特性試驗裝置
- 下一篇：一種靜電傳感器
