[實用新型]一種高同測數的垂直探針卡

有效

• 申請號: 201920294093.1
• 申請日: 2019-03-08
• 公開（公告）號: CN209803283U
• 公開（公告）日: 2019-12-17
• 發明（設計）人: 周明
• 申請（專利權）人: 強一半導體(蘇州)有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/073
• 代理公司: 32260 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 王闖

本實用新型公開了一種高同測數的垂直探針卡，其包括PCB板、金屬觸點、第一連接端口、彈簧探針、第二連接端口和懸臂探針。第一連接端口、彈簧探針和第二連接端口的縱向中軸線位于同一條直線上。在PCB板的一個側面上設置有多個金屬觸點，第二連接端口與金屬觸點電連接，彈簧探針與第二連接端口電連接，第一連接端口與彈簧探針電連接。在同一個第一連接端口上的懸臂探針為多個，因而增加了本實用新型的探針卡的同測數。本實用新型的垂直探針卡由于第一連接端口上設置有多個接口部，能夠連接多個懸臂探針，因而在未增加探針卡的面積的情況下增加了垂直探針卡的同測數。

技術領域

本實用新型涉及芯片測試技術領域，具體涉及一種高同測數的垂直探針卡。

背景技術

芯片將電路通過小型化的方式集成于線路板上，目前被廣泛應用于通訊、人工智能及生物等諸多領域。在對芯片進行封裝前需要對其進行電特性檢測，芯片的電特性檢測是通過專用的檢測工具實現的，在進行檢測時，將檢測設備的檢測探針與芯片的電路板相接觸后進行檢測。

垂直探針卡是目前常用的一種芯片檢測工具，主要包括PCB線路板和設置于PCB線路板上的探針，在進行芯片測試時，將探針插入待測芯片的測試孔后即可實現對芯片性能的測定。現有的垂直探針卡的同測數通常不超過8DUT，當需要對更多點進行測定時只得使用更多的垂直探針卡，但是，由于待測芯片的面積通常較小，因而很難實現較高同測數。此外，在使用現有的垂直探針卡進行芯片測定時，為了確保探針與芯片的有效接觸，必須接僅僅將探針壓入待測孔中，因而，在達到一定的使用次數后會造成探針的形變，影響檢測效果。

實用新型內容

為克服上述缺點，本實用新型的目的在于提供一種具有高同測數的垂直探針卡，其包括PCB板、金屬觸點和探針，所述PCB板上設置有至少一個金屬觸點，所述探針與所述金屬觸點電連接，所述探針為懸臂探針，所述懸臂探針包括依次連接的連接部，臂部和檢測部，在每個所述金屬觸點處至少連接有一個懸臂探針，所述懸臂探針與所述金屬觸點之間設置有第一連接端口，所述第一連接端口上設置有至少一個接口部，所述接口部與所述金屬觸點電連接，所述懸臂探針的連接部與所述接口部相匹配連接。由于第一連接端口上設置有多個接口部，因而能夠連接多個懸臂探針，因而在未增加探針卡的面積的情況下增加了垂直探針卡的同測數。

進一步的，還包括緩沖部，所述緩沖部設置于所述金屬觸點與述第一連接端口中間，所述緩沖部分別與所述金屬觸點和所述第一連接端口電連接。通過設置緩沖部能夠防止在將垂直探針卡向芯片按壓時對探針造成形變或損壞。

更進一步的，所述緩沖部與所述金屬觸點之間設置有第二連接端口，所述緩沖部與所述第二連接端口電連接。通過第二連接端口能夠確保緩沖部與金屬觸點的穩定連接。

更進一步的，所述緩沖部為彈簧探針，所述彈簧探針包括設置于一個端部的伸縮接頭和另一個端部的探針連接部以及與所述探針連接部連接的彈簧，所述彈簧探針的伸縮接頭和探針連接部分別與所述第二連接端口和所述第一連接端口連接。因而，在利用本實用新型的探針卡進行檢測時，將伸縮接頭向彈簧一側按壓，隨后與探針連接部相接觸并形成電路通路。

更進一步的，所述彈簧探針的彈簧在處于放松狀態時與所述伸縮接頭不相接觸，所述彈簧的外部設置有保護殼。因而，在不需要進行檢測時，探針卡內的電路處于斷路狀態，增加了使用的安全性。

本實用新型的高同測數的垂直探針卡的所述第一連接端口、所述緩沖部和所述第二連接端口的縱向中軸線位于同一條直線上。

更進一步的，所述懸臂探針的臂部在靠近所述檢測部一端與所述第一連接端口的縱向中軸線的距離大于所述臂部在靠近所述連接部一端與所述第一連接端口的縱向中軸線的距離。由此，連接于同一第一連接端口的懸臂探針能夠保持足夠的間距，避免各個懸臂探針在工作時造成相互干擾。

更進一步的，設置于同一所述第一連接端口上的所述懸臂探針的連接部呈與所述第一連接端口垂直設置。