[實用新型]一種掃描模組、測距裝置及可移動平臺

有效

• 申請號: 201920266246.1
• 申請日: 2019-03-01
• 公開（公告）號: CN210199305U
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發明（設計）人: 陳亞林;董帥;洪小平
• 申請（專利權）人: 深圳市大疆創新科技有限公司
• 主分類號: G01S7/481
• 分類號: G01S7/481;G01S17/08
• 代理公司: 北京市磐華律師事務所 11336
• 代理人: 董巍;高偉

1.一種掃描模組，所述掃描模組包括至少一個光學元件和至少一個驅動器，至少一個所述光學元件用于改變由測距模組發射的光束的傳播方向，至少一個所述驅動器用于驅動至少一個所述光學元件中的目標光學元件進行運動，其特征在于，至少一個所述光學元件包括第一光學元件，所述第一光學元件相對于至少一個所述光學元件中的其它光學元件靠近所述光束進入所述掃描模組的位置，且所述第一光學元件用于準直所述光束以及改變準直后的光束的傳播方向。

2.如權利要求1所述的掃描模組，其特征在于，所述第一光學元件包含曲面和第一斜面，所述曲面為所述第一光學元件針對所述光束的入光面，所述第一斜面為所述第一光學元件針對所述準直后的光束的出光面。

3.如權利要求1或2所述的掃描模組，其特征在于，至少一個所述光學元件還包括第二光學元件，所述第二光學元件用于改變所述第一光學元件的輸出光束的傳播方向。

4.如權利要求3所述的掃描模組，其特征在于，所述第二光學元件包括相對的非平行的一對表面，所述第二光學元件的厚度沿至少一個徑向變化。

5.如權利要求4所述的掃描模組，其特征在于，所述第二光學元件包含平面和第二斜面；

其中，所述第二斜面為所述第二光學元件中靠近所述第一光學元件的面，所述平面為所述第二光學元件中遠離所述第一光學元件的面，或者，所述平面為所述第二光學元件中靠近所述第一光學元件的面，所述第二斜面為所述第二光學元件遠離所述第一光學元件的面。

6.如權利要求2所述的掃描模組，其特征在于，所述曲面包括球面或非球面。

7.如權利要求6所述的掃描模組，其特征在于，所述球面包括凸球面或凹球面。

8.一種測距裝置，其特征在于，包括：

如權利要求1-7中任一項所述的掃描模組；

測距模組，所述測距模組用于向所述掃描模組發射光束，所述掃描模組用于改變所述光束的傳播方向后出射，經探測物反射回的光束經過所述掃描模組后入射至所述測距模組，所述測距模組用于根據反射回的光束確定所述探測物與所述測距裝置之間的距離。

9.如權利要求8所述的測距裝置，其特征在于，所述測距模組包括發射器，所述發射器用于發射所述光束；

所述掃描模組中的第一光學元件設置于所述發射器的出射光路上，用于準直從所述發射器發射的光束。

10.如權利要求8所述的測距裝置，其特征在于，所述測距模組包括發射器和第三光學元件，所述發射器用于發射所述光束；

所述第三光學元件設置于所述發射器的出射光路上，用于準直從所述發射器發射的光束；

所述第一光學元件設置在所述第三光學元件的出射光路上，用于準直所述第三光學元件輸出的光束。

11.如權利要求10所述的測距裝置，其特征在于，所述第三光學元件包括相對的非平行的一對表面，所述第三光學元件的一對表面包含至少一個曲面。

12.一種測距裝置，包括掃描模組和測距模組，所述測距模組用于向所述掃描模組發射光束，經探測物反射回的光束經過所述掃描模組后入射至所述測距模組，所述測距模組用于根據反射回的光束確定所述探測物與所述測距裝置之間的距離，其特征在于，所述測距裝置還包括一光學元件，所述光學元件用于準直所述測距模組發射的所述光束以及改變準直后的光束的傳播方向，所述光學元件設于所述掃描模組或所述測距模組中。

13.如權利要求12所述的測距裝置，其特征在于，所述光學元件包含曲面和斜面，所述曲面為所述光學元件針對所述光束的入光面，所述斜面為所述光學元件針對所述準直后的光束的出光面。

14.一種可移動平臺，其特征在于，包括：

平臺本體；以及

如權利要求8-11任一所述的測距裝置或如權利要求12-13任一項所述的測距裝置，安裝在所述平臺本體上。