[實用新型]全自動光學檢測裝置

有效

• 申請號: 201920258449.6
• 申請日: 2019-02-28
• 公開（公告）號: CN209690192U
• 公開（公告）日: 2019-11-26
• 發明（設計）人: 李偉;陳志光;馮偉農;曾惠思
• 申請（專利權）人: 廣東銀寶山新科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/01
• 代理公司: 11371 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 聞盼盼<國際申請>=<國際公布>=<進入

本實用新型公開了一種全自動光學檢測裝置，包括旋轉工作臺及環布于所述旋轉工作臺周側外部的上下料機構、劃痕檢測站、圖形檢測站與銀環檢測站，所述旋轉工作臺上設置至少一個工件治具，所述工件治具隨所述旋轉工作臺旋轉經過所述上下料機構、所述劃痕檢測站、所述圖形檢測站與所述銀環檢測站。該全自動光學檢測裝置設置多個檢測工位，各檢測工位之間由旋轉工作臺實現串聯，使圖像采集與產品運動相互獨立并協同動作，有效地提高精密塑膠產品的光學檢測作業的集成性、連續性與自動化程度，具有突出的作業效率與檢測精度，適應于精密塑膠件的大規模自動化生產，集成度高、結構緊湊、空間占用小，減少注塑生產廠商的采購成本、場地租金與布局困難。

技術領域

本實用新型屬于光學檢測技術領域，具體地來說，是一種全自動光學檢測裝置。

背景技術

全自動光學檢測設備(Automatic Optic Inspection，簡稱AOI)，是指在計算機程序驅動下，透過攝像鏡頭對檢測物進行自動掃描與圖像采集，并將圖像與數據庫中的合格參數進行比較分析，經過圖樣處理后檢測出檢測物上的缺陷，并通過顯示器或者自動標志把缺陷顯示或者標示出來，區別出良品與NG產品，以供維修人員修整。這種全自動光學檢測設備已應用于各種產業的檢測作業上，如半導體(IC)、平面顯示器(FDP)、印刷電路板(PCB)、印刷電路板組裝(PCBA)等應用領域中。

在消費電子的精密塑膠件的生產中，需要對精密塑膠件表面的劃痕、異物以及logo的完整性缺陷等缺陷進行分類檢測，不良現象種類多、模型復雜。然而現有的光學檢測設備功能單一，只能針對單一的、簡單的產品缺陷進行檢測處理，其檢測的精度、效率和設備的智能程度均不能滿足生產的需求，極大地增加了注塑生產廠商的經濟負擔。

實用新型內容

為了克服現有技術的不足，本實用新型提供了一種全自動光學檢測裝置，可實現對精密塑膠件表面缺陷的自動連續檢測，協同性好、效率突出、檢測精度優異。

本實用新型的目的通過以下技術方案來實現：

一種全自動光學檢測裝置，包括旋轉工作臺及環布于所述旋轉工作臺周側外部的上下料機構、劃痕檢測站、圖形檢測站與銀環檢測站，所述旋轉工作臺上設置至少一個工件治具，所述工件治具隨所述旋轉工作臺旋轉經過所述上下料機構、所述劃痕檢測站、所述圖形檢測站與所述銀環檢測站。

作為上述技術方案的改進，所述劃痕檢測站包括第一圖像采集器與無影光源，所述無影光源位于所述第一圖像采集器與所述工件治具之間，所述第一圖像采集器可于水平面內自由移動，所述無影光源相對所述工件治具可進行鉛垂升降運動。

作為上述技術方案的進一步改進，所述劃痕檢測站包括劃痕第一水平進給軸、劃痕第二水平進給軸與劃痕鉛垂進給軸，所述劃痕第二水平進給軸設置于所述劃痕第一水平進給軸上且二者于水平面內垂直分布，所述第一圖像采集器設置于所述劃痕第二水平進給軸上，所述無影光源設置于所述劃痕鉛垂進給軸上。

作為上述技術方案的進一步改進，所述圖形檢測站包括第二圖像采集器、環形光源與背光源，所述環形光源位于所述第二圖像采集器與所述工件治具之間，所述背光源位于所述工件治具遠離所述環形光源的一側，所述第二圖像采集器與所述環形光源可于水平面內自由移動，所述第二圖像采集器相對所述工件治具可進行鉛垂升降運動。

作為上述技術方案的進一步改進，所述圖形檢測站包括圖形第一水平進給軸、圖形第二水平進給軸與圖形鉛垂進給軸，所述圖形第二水平進給軸設置于所述圖形第一水平進給軸上且二者于水平面內垂直分布，所述環形光源與所述圖形鉛垂進給軸分別設置于所述第二水平進給軸上，所述第二圖像采集器設置于所述圖形鉛垂進給軸上。

作為上述技術方案的進一步改進，所述銀環檢測站包括第三圖像采集器與同軸光源，所述同軸光源設置于所述第三圖像采集器與所述工件治具之間，所述第三圖像采集器可于水平面內自由移動。