[實用新型]帶有全塑屏蔽USB插頭的老化測試連接器

有效

• 申請號: 201920245974.4
• 申請日: 2019-02-27
• 公開（公告）號: CN209707551U
• 公開（公告）日: 2019-11-29
• 發明（設計）人: 王志艷
• 申請（專利權）人: 深圳市金豐達電子有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;H01R12/72;H01R13/02;H01R13/405;H01R13/504
• 代理公司: 44519 深圳余梅專利代理事務所(特殊普通合伙)
• 代理人: 井杰<國際申請>=<國際公布>=<進入國

1.帶有全塑屏蔽USB插頭的老化測試連接器，其特征在于，其包括基體及USB插頭，所述基體包括電路板，所述電路板正面的一側邊的中間位置設有觸點A1至A12，所述電路板背面的對應位置設有觸點B1至B12；所述觸點A1至A12及觸點B1至B12用于焊接并電連接USB插頭；所述電路板的中間設有兩排可插入銅柱的對稱的觸點孔，所述觸點孔貫穿電路板正面與背面并連通電路板正面與背面；兩排觸點孔下方還對稱設有兩個次觸點孔，分別連接觸點A8和觸點B8，插入于兩個次觸點孔的銅柱外露于所述連接器之外，所述觸點A8和觸點B8用于偵測或寫入產品ID；所述USB插頭包括塑膠外殼以及由若干金屬端子組成的端子組，所述外殼包括一體成型的插頭殼和后殼，所述插頭殼的外表面嵌入有一個用于高頻屏蔽的金屬套筒，所述金屬端子前端設有用于連接待測試設備接頭的觸點，所述金屬端子尾端用于點焊在電路板上，所述金屬端子前端嵌入到插頭殼內。

2.如權利要求1所述的老化測試連接器，其特征在于，所述金屬套筒長度處于插頭殼外表面上的長度小于插頭殼長度，所述插頭殼最外端與金屬套筒最外端之間留有防刮部。

3.如權利要求1所述的老化測試連接器，其特征在于，所述金屬套筒的外表面與插頭殼外表面齊平。

4.如權利要求1所述的老化測試連接器，其特征在于，所述金屬套筒的末端設有兩塊垂直于金屬套筒長度方向的豎板，兩塊所述豎板分別設在金屬套筒末端的兩條長邊上。

5.如權利要求1所述的老化測試連接器，其特征在于，所述金屬套筒上設置有多個圓孔，所述外殼為注塑成型制成，所述外殼在金屬套筒的圓孔中形成圓臺。

6.如權利要求1所述的老化測試連接器，其特征在于，所述金屬套筒的末端設有沿著金屬套筒長度方向延伸的插條，所述插條用于焊接在電路板上以加強固定。

7.如權利要求1-6任一所述的老化測試連接器，其特征在于，所述電路板設置觸點A1至A12的側邊位置設有沿著觸點A1至A12排布方向延伸的凸臺，凸臺延伸長度大于觸點A1至A12的距離，凸臺的凸起方向垂直于電路板的側邊；所述凸臺與電路板的側邊連接處的內角設為圓角。

8.如權利要求1-6任一所述的老化測試連接器，其特征在于，所述基體還包括蓋板和底板，所述電路板夾在蓋板與底板之間，電路板正面朝向于蓋板，電路板背面朝向于底板，所述電路板上插接的銅柱均貫穿蓋板并外露于蓋板之外。

9.如權利要求8所述的老化測試連接器，其特征在于，所述蓋板上對應觸點A1至A12的位置上設有讓位槽；所述底板上對應觸點B1至B12的位置上同樣設有讓位槽。

10.如權利要求8所述的老化測試連接器，其特征在于，兩個次觸點孔之間的位置穿入一個主螺釘和一個等高銅套，所述主螺釘穿入等高銅套中，所述等高銅套貫穿蓋板、電路板和底板，所述主螺釘末端外露于底板之外。