[實用新型]子板控制裝置及老煉子板

有效

• 申請號: 201920245812.0
• 申請日: 2019-02-26
• 公開（公告）號: CN210005638U
• 公開（公告）日: 2020-01-31
• 發明（設計）人: 劉軍;鄧雅娉;吳揚;劉雄劍;張永強
• 申請（專利權）人: 長沙南道電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 11270 北京派特恩知識產權代理有限公司
• 代理人: 黃娟;張穎玲

本申請實施例公開了一種子板控制裝置及老煉子板，該子板控制裝置包括：控制電路板，用于安裝于子板電路板上且與子板電路板電連接；控制器，設置于控制電路板上，用于發送激勵信號給待測試芯片、發送控制信號給溫度供應裝置，并接收子板電路板對應的檢測信號。子板控制裝置能夠獨立地對子板電路板上的待測試芯片進行老煉測試，簡化了子板電路板上的布線設計，減少了走線對信號傳輸的干擾，且通過與不同的子板電路板的組合，能夠滿足對不同的待測試芯片的測試需求。

技術領域

本申請涉及芯片老煉測試，具體涉及一種子板控制裝置及老煉子板。

背景技術

芯片在出廠之前，一般需要進行老煉測試。老煉測試是指高溫條件下對芯片施加電力應力與溫度應力，加速導致早期失效機理發生的可靠性試驗。通過加速電路失效的發生使良品盡早的進入其可靠性使用周期即浴盆曲線中部的偶然失效期，避免在使用早期發生故障。老煉測試是一種非破壞性的試驗，只是對有潛在缺陷的電路起到誘發作用，而不引起電路整體篩選后的新失效機理或改變它的失效分布。且如果不經過老煉測試，很多半導體成品由于器件與制造工藝缺陷等原因在使用過程中會出現很多問題。因此，需要通過老煉系統對芯片做高溫加速壽命試驗，從而篩選出穩定可靠的芯片。

相關技術中，將多塊待測試芯片放置于同一老煉板上，且將多塊老煉板放在老煉溫箱中統一加熱，通過耐高溫接插件、耐高溫導線與老煉溫箱外的電源與功能電路連接。板間導線連接關系復雜、不穩定、極易出錯，對信號傳輸有干擾，且針對不同的待測試芯片，無法滿足單獨控制的需求，兼容性差。

實用新型內容

有鑒于此，本申請實施例提供了一種子板控制裝置及老煉子板，旨在實現對待測試芯片的獨立控制。

本申請實施例的技術方案是這樣實現的：

第一方面，本申請實施例提供一種子板控制裝置，用于對設置于子板電路板上的待測試芯片進行單獨控制，所述子板電路板上設置用于給所述待測試芯片提供老煉溫度環境的溫度供應裝置，所述子板控制裝置包括：控制電路板，用于安裝于所述子板電路板上且與所述子板電路板電連接；控制器，設置于所述控制電路板上，用于發送激勵信號給對應的所述待測試芯片、發送控制信號給所述溫度供應裝置，并接收所述子板電路板發送的對應的檢測信號。

第二方面，本申請實施例提供一種老煉子板，包括：子板電路板，所述子板電路板上設置第一接口電路、第二接口電路，所述第一接口電路用于連接待測試芯片，所述第二接口電路用于連接溫度供應裝置，所述子板電路板上設置前述任一實施例所述的子板控制裝置。

本申請實施例提供的技術方案中，子板控制裝置經控制電路板安裝于子板電路板上，子板控制裝置具有擴展性、通用性、可回收性；子板控制裝置可與不同的子板電路板組合，以滿足對不同的待測試芯片的測試需求；子板控制裝置采用插拔式模塊化設計不僅簡化了子板電路板上的布線設計，減少了走線對信號傳輸的干擾，還能回收反復使用。

附圖說明

圖1為本申請一實施例中子板電路板的結構示意圖；

圖2為本申請一實施例中子板控制裝置的結構示意圖；

圖3為本申請一實施例中老煉子板的結構示意圖。

具體實施方式

以下結合說明書附圖及具體實施例對本申請技術方案做進一步的詳細闡述。應當理解，此處所提供的實施例僅僅用以解釋本申請，并不用于限定本申請。另外，以下所提供的實施例是用于實施本申請的部分實施例，而非提供實施本申請的全部實施例，在不沖突的情況下，本申請實施例記載的技術方案可以任意組合的方式實施。