[實用新型]母板控制裝置及老煉母板

有效

• 申請號: 201920245631.8
• 申請日: 2019-02-26
• 公開（公告）號: CN210005637U
• 公開（公告）日: 2020-01-31
• 發明（設計）人: 劉軍;吳揚;鄧雅娉;張永強;劉雄劍
• 申請（專利權）人: 長沙南道電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 11270 北京派特恩知識產權代理有限公司
• 代理人: 吳薇薇;張穎玲

本申請實施例公開了一種母板控制裝置及老煉母板，母板控制裝置包括：控制電路板，用于安裝于母板電路板上且與母板電路板電連接；控制器，設置于控制電路板上，用于發送控制信息給對應的老煉子板并接收老煉子板對應的檢測信息。設置于母板電路板上的一塊或者多塊老煉子板由母板控制裝置控制，且母板控制裝置具有單獨的控制電路板，從而簡化了母板電路板上的布線設計，減少了走線對信號傳輸的干擾，且能夠通過對老煉子板的單獨控制，滿足了同一塊老煉母板能提供不同溫度且同時老煉不同芯片的測試需求。

技術領域

本申請涉及芯片老煉測試，具體涉及一種母板控制裝置及老煉母板。

背景技術

芯片在出廠之前，一般需要進行老煉測試。老煉測試是指高溫條件下對芯片施加電力應力與溫度應力，加速導致早期失效機理發生的可靠性試驗。通過加速電路失效的發生使良品盡早的進入其可靠性使用周期即浴盆曲線中部的偶然失效期，避免在使用早期發生故障。老煉測試是一種非破壞性的試驗，只是對有潛在缺陷的電路起到誘發作用，而不引起電路整體篩選后的新失效機理或改變它的失效分布。且如果不經過老煉測試，很多半導體成品由于器件與制造工藝缺陷等原因在使用過程中會出現很多問題。因此，需要通過老煉系統對芯片做高溫加速壽命試驗，從而篩選出穩定可靠的芯片。

相關技術中，將多塊待測試芯片放置于同一老煉板上，且將多塊老煉板放在老煉溫箱中統一加熱，通過耐高溫接插件、耐高溫導線與老煉溫箱外的電源與功能電路連接。當一塊老煉板上放置多塊芯片時，測試電路間的導線連接關系復雜、不穩定、極易出錯，對信號傳輸有干擾，且針對不同的待測試芯片，無法滿足單獨控制的需求，兼容性差。

實用新型內容

有鑒于此，本申請實施例提供了一種母板控制裝置及老煉母板，旨在實現對老煉母板上的老煉子板進行老煉測試，簡化老煉母板上的導線設計。

本申請實施例的技術方案是這樣實現的：

第一方面，本申請實施例提供一種母板控制裝置，用于對設置于母板電路板上的至少一塊老煉子板進行控制，所述母板控制裝置包括：控制電路板，用于安裝于所述母板電路板上且與所述母板電路板電連接；控制器，設置于所述控制電路板上，用于發送控制信息給對應的所述老煉子板并接收所述老煉子板對應的檢測信息。

第二方面，本申請實施例提供一種老煉母板，包括母板電路板，所述母板電路板上設置前述實施例所述的母板控制裝置。

本申請實施例提供的技術方案中，設置于母板電路板上的一塊或者多塊老煉子板由母板控制裝置控制，且母板控制裝置具有單獨的控制電路板，從而簡化了母板電路板上的布線設計，減少了走線對信號傳輸的干擾，且能夠通過對老煉子板的單獨控制，滿足了同一塊老煉母板能提供不同溫度且同時老煉不同芯片的測試需求。

附圖說明

圖1為本申請一實施例中母板電路板的結構示意圖；

圖2為本申請一實施例中母板控制裝置的結構示意圖；

圖3為本申請一實施例中老煉母板的結構示意圖。

具體實施方式

以下結合說明書附圖及具體實施例對本申請技術方案做進一步的詳細闡述。應當理解，此處所提供的實施例僅僅用以解釋本申請，并不用于限定本申請。另外，以下所提供的實施例是用于實施本申請的部分實施例，而非提供實施本申請的全部實施例，在不沖突的情況下，本申請實施例記載的技術方案可以任意組合的方式實施。

除非另有定義，本文所使用的所有的技術和科學術語與屬于本申請的技術領域的技術人員通常理解的含義相同。本文中在本申請的說明書中所使用的術語只是為了描述具體的實施例的目的，不是旨在于限制本申請。本文所使用的術語“和/或”包括一個或多個相關的所列項目的任意的和所有的組合。