[實用新型]一種多通道光纖衰減測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201920242164.3
• 申請日: 2019-02-26
• 公開（公告）號: CN209390072U
• 公開（公告）日: 2019-09-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 梁松;鄒錦華;劉家健
• 申請（專利權(quán)）人: 廣東清實檢驗技術(shù)有限公司
• 主分類號: H04B10/071
• 分類號: H04B10/071
• 代理公司: 廣州越華專利代理事務(wù)所(普通合伙) 44523
• 代理人: 楊艷珊

本實用新型涉及一種多通道光纖衰減測試裝置，裝置包括內(nèi)部具有容納腔的箱體，箱體的容納腔中安裝有激光脈沖發(fā)生器、光纖耦合器、光子探測計數(shù)器、多路光開關(guān)，光纖耦合器分別與激光脈沖發(fā)生器、光子探測計數(shù)器、多路光開關(guān)連接，箱體左右兩側(cè)的側(cè)壁上分別固定安裝有多個繞線盤，每個繞線盤上纏繞一根用于與待測光纖連接的標準光纖，標準光纖的一端與多路光開關(guān)的光纖接口連接，標準光纖的另一端連接有光纖適配器。本實用新型的有益效果是：在遇到待測光纖端部位置并不都聚集在一起時，將光纖適配器從卡盒中取出，將標準光纖從繞線盤上松開，使光纖適配器移動到待測光纖端部與待測光纖連接，從而滿足對于待測光纖端部距離相隔較遠時的測試需求。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及光纖檢測設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及一種多通道光纖衰減測試裝置。

背景技術(shù)

光時域反射儀是通過對測量曲線的分析，了解光纖的均勻性、缺陷、斷裂、接頭耦合等若干性能的儀器。它根據(jù)光的后向散射與菲涅耳反向原理制作，利用光在光纖中傳播時產(chǎn)生的后向散射光來獲取衰減的信息，可用于測量光纖衰減、接頭損耗、光纖故障點定位以及了解光纖沿長度的損耗分布情況等，是光纜施工、維護及監(jiān)測中必不可少的工具。

但現(xiàn)有的光時域反射儀主要是手持式的，只能單通道檢測。

申請?zhí)枮?01720780795.1，專利名稱為一種實現(xiàn)多路光纖測試的光時域反射測試裝置的現(xiàn)有技術(shù)1，其中采用多路光開關(guān)實現(xiàn)多通道檢測。但由于待測光纖端部位置并不都聚集在一起，因此對于待測光纖端部距離相隔較遠時，現(xiàn)有技術(shù)不能滿足測試需求。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)存在的以上問題，提供一種多通道光纖衰減測試裝置。

為實現(xiàn)上述技術(shù)目的，達到上述技術(shù)效果，本實用新型通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)：

一種多通道光纖衰減測試裝置，所述裝置包括內(nèi)部具有容納腔的箱體，所述箱體的容納腔中安裝有激光脈沖發(fā)生器、光纖耦合器、光子探測計數(shù)器、多路光開關(guān)，所述光纖耦合器分別與激光脈沖發(fā)生器、光子探測計數(shù)器、多路光開關(guān)連接，所述箱體左右兩側(cè)的側(cè)壁上分別固定安裝有多個繞線盤，每個繞線盤上纏繞一根用于與待測光纖連接的標準光纖，所述標準光纖的一端與多路光開關(guān)的光纖接口連接，所述標準光纖的另一端連接有光纖適配器。

進一步的，所述箱體的前端頂部通過一字型阻尼鉸鏈連接有可上下調(diào)節(jié)傾斜角度的顯示器，所述箱體的容納腔中還安裝有與光子探測計數(shù)器連接的信號發(fā)生器，所述信號發(fā)生器與顯示器連接。

進一步的，所述箱體左右兩側(cè)的側(cè)壁上位于每個繞線盤的后方設(shè)有一個用于裝卡光纖適配器的卡盒，所述卡盒的后端與箱體的后端平齊，所述光纖適配器裝卡在卡盒中時，光纖適配器與待測光纖連接的一端突出在箱體的后方。

進一步的，所述卡盒包括具有光纖卡槽的光纖卡板和兩塊上下對稱的光纖適配器卡板，所述光纖卡板固接在兩塊光纖適配器卡板的前端，兩塊所述光纖適配器卡板相對的一側(cè)設(shè)有將光纖適配器卡住的卡塊。

進一步的，所述繞線盤上的繞線槽寬度等于標準光纖的直徑。

進一步的，所述箱體的頂部安裝有U型把手。

進一步的，所述箱體中安裝有連接在激光脈沖發(fā)生器與光纖耦合器之間的激光驅(qū)動器。

進一步的，所述箱體中安裝有連接在光子探測計數(shù)器與光纖耦合器之間的單光子探測器，所述單光子探測器還與激光脈沖發(fā)生器連接。

進一步的，所述多路光開關(guān)的光纖接口數(shù)為4、8或16。

本實用新型的有益效果是：在遇到待測光纖端部位置并不都聚集在一起時，將光纖適配器從卡盒中取出，將標準光纖從繞線盤上松開，使光纖適配器移動到待測光纖端部與待測光纖連接，從而滿足對于待測光纖端部距離相隔較遠時的測試需求。

附圖說明