[實用新型]電信號檢測電路

有效

• 申請號: 201920199664.3
• 申請日: 2019-02-13
• 公開（公告）號: CN209728118U
• 公開（公告）日: 2019-12-03
• 發明（設計）人: 李加鵬;李文昌;王鴻志;王彥虎
• 申請（專利權）人: 中國科學院半導體研究所
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 11021 中科專利商標代理有限責任公司
• 代理人: 周天宇<國際申請>=<國際公布>=<進入

一種電信號檢測電路，應用于電子電路技術領域，包括：解碼控制電路的輸出端與電壓測量電路和電流測量電路的輸入端相連，解碼控制電路用于產生時序信號，以控制電壓測量電路和電流測量電路，電壓測量電路的輸入端連接被測電壓信號，電壓測量電路用于接入被測電壓信號，并根據時序信號控制電壓測量電路，以檢測被測電壓信號，電流測量電路的輸入端連接被測電流信號，電流測量電路用于接入被測電流信號，并根據時序信號控制電流測量電路，以檢測被測電流信號，避免使用探針對測試造成的影響。

技術領域

本實用新型涉及電子電路技術領域，尤其涉及一種電信號檢測電路。

背景技術

從集成電路的誕生開始，可靠性的研究測試就成為芯片設計、制造和生產中的重要部分。芯片的失效分析即查找失效的原因并進行修正設計，以預防類似失效情況的再次發生。對于提高產品的可靠性而言，芯片的失效分析至關重要。

其中，關于芯片失效位置的定位，目前常用的方法是采用信號尋跡法，即在芯片內部的關鍵節點設計probe探測點，用機械探針探測關鍵節點的電壓信號，根據機械探針的測試結果來定位失效位置。由于機械探針必須通過接觸芯片才能進行測試，因此被測芯片必須去掉鈍化層，測試方法復雜，并且機械探針引入的電容負載會影響測試結果，機械探針的移動也有可能劃斷芯片內的金屬連接線，干擾失效位置判斷。

另一方面，有些集成電路內部設計有校準電路，可通過修調校準電路實現性能參數的提升。而修調的參考為集成電路內部的關鍵節點，目前常用的修調方法為晶圓級在線校準方法，校準后再通過機械探針測試關鍵節點的信號是否滿足要求，但是該方法忽略了封裝對產品性能參數精度的影響。

實用新型內容

本實用新型的主要目的在于提供一種電信號檢測電路，可檢測電路內部的電信號，避免使用探針對測試造成的影響。

為實現上述目的，本實用新型實施例第一方面提供一種電信號檢測電路，包括：

解碼控制電路、電壓測量電路和電流測量電路；

所述解碼控制電路的輸出端與所述電壓測量電路和所述電流測量電路的輸入端相連，所述解碼控制電路用于產生時序信號，以控制所述電壓測量電路和所述電流測量電路；

所述電壓測量電路的輸入端連接被測電壓信號，所述電壓測量電路用于接入所述被測電壓信號，并根據所述時序信號控制所述電壓測量電路，以檢測所述被測電壓信號；

所述電流測量電路的輸入端連接被測電流信號，所述電流測量電路用于接入所述被測電流信號，并根據所述時序信號控制所述電流測量電路，以檢測所述被測電流信號。

從上述本實用新型實施例可知，本實用新型提供的電信號檢測電路，解碼控制電路的輸出端與電壓測量電路和電流測量電路的輸入端相連，解碼控制電路用于產生時序信號，以控制電壓測量電路和電流測量電路，電壓測量電路的輸入端連接被測電壓信號，電壓測量電路用于接入被測電壓信號，并根據時序信號控制電壓測量電路，以檢測被測電壓信號，電流測量電路的輸入端連接被測電流信號，電流測量電路用于接入被測電流信號，并根據時序信號控制電流測量電路，以檢測被測電流信號，可檢測電路內部的電信號，避免使用探針對測試造成的影響。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本實用新型一實施例提供的電信號檢測電路的結構示意圖；

圖2為本實用新型另一實施例提供的電信號檢測電路的電路示意圖；

圖3為本實用新型另一實施例提供的另一電信號檢測電路的電路示意圖。