[實用新型]寶石元件球面凹槽中細微孔長度的測量針

有效

• 申請號: 201920175854.1
• 申請日: 2019-02-01
• 公開（公告）號: CN209399897U
• 公開（公告）日: 2019-09-17
• 發明（設計）人: 陳鋒;李杰英
• 申請（專利權）人: 重慶川儀自動化股份有限公司
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 重慶志合專利事務所(普通合伙) 50210
• 代理人: 徐傳智

一種寶石元件球面凹槽中細微孔長度的測量針，包括針桿和圓球測量頭，所述針桿為圓柱體，該圓柱體的一端設有一圓柱凸臺，該圓柱凸臺的直徑小于所述針桿的直徑，針桿端面與圓柱凸臺之間形成定位軸肩,所述圓球測量頭設有一切平面，該切平面中心設有一圓柱盲孔，該圓柱盲孔的直徑與圓柱凸臺的直徑吻合，所述圓球測量頭通過圓柱盲孔套在圓柱凸臺上且粘接固定。

技術領域

本實用新型涉及測量領域，具體涉及一種寶石元件球面凹槽中細微孔長度的測量針。

背景技術

在設有球面凹槽的寶石元件中，很多寶石元件的球面凹槽設置有豎直的細微孔，通常這種細微孔的孔徑≤0.10mm。在加工過程中，這種細微孔的直孔段長度公差≤0.01mm，測量精度≤0.001mm，由此常常會遇見帶球面凹槽的寶石元件直孔段長度的精確測量問題。如采用50倍臥式投影儀檢測，測量精度為0.01mm左右，無法達到測量精度為0.001mm直孔段長度檢測的要求，且不適合生產現場批量檢測。又如采用數顯投影儀檢測,由于設備本身精度、檢驗人員變化和視覺習慣等因素影響,測量誤差在0.003mm，也無法達到測量精度為0.001mm直孔段長度檢測的要求，且不適合批量檢測。也有采用千分表測針來測量直孔段長度，但是千分表測針為一體結構，其測量端頭在測量寶石元件時，磨損較快，嚴重影響測量精度，測量端頭一旦磨損，就只能將整個測量針報廢，造成企業檢測成本增大。并且由于一體結構的千分表測針對測量頭的加工難度較大，難于保證測量頭的表面粗糙度和尺寸的一致性，每批次測量針檢測精度都會受到嚴重影響，不利于寶石元件加工的質量檢測。

發明內容

本實用新型的目的是針對現有技術對應的不足，提供一種寶石元件球面凹槽中細微孔長度的測量針，既能達到測量要求，又可以節省材料，易于生產，而且還便于安裝的。

本實用新型的目的是采用下述方案實現的：一種寶石元件球面凹槽中細微孔長度的測量針，包括針桿和圓球測量頭，所述針桿為圓柱體，該圓柱體的一端設有一圓柱凸臺，該圓柱凸臺的直徑小于所述針桿的直徑，針桿端面與圓柱凸臺之間形成定位軸肩,所述圓球測量頭設有一切平面，該切平面中心設有一圓柱盲孔，該圓柱盲孔的直徑與圓柱凸臺的直徑吻合，所述圓球測量頭通過圓柱盲孔套在圓柱凸臺上且粘接固定。

所述圓球測量頭的球半徑小于球面凹槽的球半徑，且大于細微孔的半徑。

所述圓球測量頭套在圓柱凸臺上，圓柱凸臺與圓球測量頭的配合間隙為0.01~0.02mm。

所述圓球測量頭的精度等級至少為G10級。

所述圓柱盲孔的深度大于所述圓柱凸臺的長度。

所述圓柱凸臺頂端設置有倒角。

由于采用了上述技術，所述針桿為圓柱體，該圓柱體的一端設有一圓柱凸臺，該圓柱凸臺的直徑小于所述針桿的直徑，針桿端面與圓柱凸臺之間形成定位軸肩,所述圓球測量頭設有一切平面，該切平面中心設有一圓柱盲孔，該圓柱盲孔的直徑與圓柱凸臺的直徑吻合，所述圓球測量頭通過圓柱盲孔套在圓柱凸臺上且粘接固定，當因為圓球測量頭磨損導致測試精度達不到要求的時候，不需要將整個測量針替換掉，只需要換上全新的圓球測量頭，便可以繼續進行測量工作，不但方便快捷，便于安裝， 還大大節省了檢測成本，甚至可以針對不同直徑的細微孔，換上不同型號的圓球測量頭來進行檢測。

所述圓球測量頭的球半徑小于球面凹槽的球半徑，且大于細微孔的半徑，保證所述圓球測量頭既能夠抵達球面凹槽底部，又不至于會穿到細微孔內部去。

所述圓球測量頭套在圓柱凸臺上，圓柱凸臺與圓球測量頭的配合間隙為0.01~0.02mm，保證圓柱凸臺與圓球測量頭能夠緊密粘接固定在一起。

所述圓球測量頭的精度等級至少為G10級，保證測量針具有足夠的測試精度。