[實用新型]一種平動的平板PET分子影像斷層成像系統

有效

• 申請號: 201920162556.9
• 申請日: 2019-01-30
• 公開（公告）號: CN209932781U
• 公開（公告）日: 2020-01-14
• 發明（設計）人: 韓立;熊先華;劉力;劉偉
• 申請（專利權）人: 北京銳視康科技發展有限公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03;A61B6/00
• 代理公司: 11360 北京萬象新悅知識產權代理有限公司
• 代理人: 王巖

1.一種平動的平板PET分子影像斷層成像系統，其特征在于，所述分子影像斷層成像系統包括：成像托架、成像支架、一對平板探測器、平移電機和計算機；其中，成像樣本位于成像托架上；所述一對平板探測器連接至平移電機；所述平移電機連接至計算機；所述一對平板探測器還連接至計算機；所述一對平板探測器分別安裝在成像托架的上方和下方，圓柱形三維的成像區域FOV位于一對平板探測器之間，一對平板探測器距成像區域的中心軸的距離相等；成像樣本的中心軸位于成像區域的中心軸上，成像區域的中心軸平行于成像托架的軸向方向；平板探測器的長度方向垂直于中心軸，寬度方向平行于中心軸；一對平板探測器能夠分別做相反方向的水平錯位直線平移運動，水平錯位直線平移運動的方向為所在水平面內垂直于中心軸且沿平板探測器的長度方向；一對平板探測器的允許采樣角度由平板探測器的長度L、一對平板探測器之間的垂直距離D、FOV的半徑r和平板探測器的平移距離確定。

2.如權利要求1所述的分子影像斷層成像系統，其特征在于，在初始位置即第一平移位置，一對平板探測器相對放置，即第一平移距離Δ₁為0，最大允許采樣角度為α₁，一對平板探測器在最大允許采樣角度±α₁內對成像區域進行第一次連續角度采樣。

3.如權利要求2所述的分子影像斷層成像系統，其特征在于，在初始位置即第一平移位置，最大允許采樣角度為α₁：

4.如權利要求1所述的分子影像斷層成像系統，其特征在于，在第i平移位置，即經過(i-1)次平移后平板探測器的平移距離為Δ_i，第i平移位置的最大允許采樣角度為α_i，最小允許采樣角度為β_i，滿足|β_i|≤|α_i-1|，第i平移距離Δ_i為相對于初始位置的第i平移位置的距離，一對平板探測器在最大與最小允許采樣角度內對成像區域進行第i次連續角度采樣。

5.如權利要求4所述的分子影像斷層成像系統，其特征在于，第i平移位置的最大允許采樣角度為α_i：

其中，L′＝L+2Δ_i。

6.如權利要求4所述的分子影像斷層成像系統，其特征在于，第i平移位置的最小允許采樣角度為β_i：

7.如權利要求1所述的分子影像斷層成像系統，其特征在于，所述平板探測器的長度L大于FOV的直徑2r。