[實用新型]一種矽晶體的檢測裝置

有效

• 申請號: 201920116616.3
• 申請日: 2019-01-23
• 公開（公告）號: CN209452331U
• 公開（公告）日: 2019-10-01
• 發明（設計）人: 范群意
• 申請（專利權）人: 佛山市南海益晶科技有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342
• 代理公司: 武漢明正專利代理事務所(普通合伙) 42241
• 代理人: 張伶俐

1.一種矽晶體的檢測裝置，其特征在于：包括工作臺(1)、第一龍門架(2)、支架(3)、轉軸(4)、彈簧(5)、凹形板(6)、動力組件(7)、第一傳送帶(8)、電磁鐵(9)、磁鐵(10)、光波接收器(11)、第二龍門架(12)、第一滑槽(13)、第二滑槽(14)、第二傳送帶(15)、第一接料盒(16)、第二接料盒(17)和控制器，所述支架(3)、所述第一龍門架(2)與所述第二龍門架(12)均固定設置在所述工作臺(1)上，所述凹形板(6)通過所述轉軸(4)旋轉固定于所述支架(3)上，所述凹形板(6)穿過所述第一龍門架(2)與所述第二龍門架(12)之間，所述電磁鐵(9)固定設置在所述凹形板(6)上，所述磁鐵(10)固定設置在所述第二龍門架(12)的底部，所述電磁鐵(9)位于所述磁鐵(10)的下方，所述凹形板(6)通過所述彈簧(5)與所述工作臺(1)固定連接；

所述第一傳送帶(8)通過所述動力組件(7)升降式的固定在所述凹形板(6)的凹形槽內，所述凹形板(6)的頂部與所述第二龍門架(12)的底部相互抵接，所述光波接收器(11)、所述第一滑槽(13)與所述第二滑槽(14)分別固定設置在所述第二龍門架(12)上，所述第一滑槽(13)與所述第二滑槽(14)分別位于所述第一傳送帶(8)的出料口處，所述第二傳送帶(15)固定設置在所述工作臺(1)上，所述第二傳送帶(15)的進料口位于所述第一滑槽(13)的出料口處，所述第一接料盒(16)與所述第二接料盒(17)分別固定設置在所述工作臺(1)上，所述第一接料盒(16)位于所述第二滑槽(14)的出料口處，所述第二接料盒(17)位于所述第二傳送帶(15)的出料口處；

所述光波接收器(11)和所述動力組件(7)均與所述控制器電性連接。

2.根據權利要求1所述的一種矽晶體的檢測裝置，其特征在于：所述動力組件(7)為氣缸(18)。

3.根據權利要求2所述的一種矽晶體的檢測裝置，其特征在于：所述氣缸(18)為兩個，兩個所述氣缸(18)分別位于所述第一傳送帶(8)的首部和尾部。

4.根據權利要求1所述的一種矽晶體的檢測裝置，其特征在于：所述第一傳送帶(8)、所述第一滑槽(13)、所述第二傳送帶(15)與所述第二滑槽(14)的邊緣處均固定設有擋板。

5.根據權利要求1所述的一種矽晶體的檢測裝置，其特征在于：所述光波接收器(11)與所述第二龍門架(12)的頂部之間呈17°的夾角。

6.根據權利要求1所述的一種矽晶體的檢測裝置，其特征在于：還包括限位板(19)，所述限位板(19)固定設置在所述凹形板(6)的凹形槽內，所述限位板(19)位于所述第一傳送帶(8)的上方。