[實用新型]一種雙轉盤多相機電子陶瓷檢測剔除同步系統

有效

• 申請號: 201920091446.8
• 申請日: 2019-01-21
• 公開（公告）號: CN209829623U
• 公開（公告）日: 2019-12-24
• 發明（設計）人: 楊軍;張劍
• 申請（專利權）人: 蘇州小孔成像光電科技有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;G01N21/892
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型涉及一種雙轉盤多相機電子陶瓷檢測剔除同步系統，包括：機架；上料機構；設置在所述機架上用于檢測電子陶瓷的正面、內側壁和外側壁的第一檢測裝置；設置在所述機架上且位于所述第一檢測裝置一側、用于檢測電子陶瓷背面的第二檢測裝置；以及，設置在所述第一檢測裝置和所述第二檢測裝置之間的翻轉機構。進行產品檢測時，將待檢測電子陶瓷導入上料機構中，通過上料機構將待檢測電子陶瓷排列整理好后送入到第一檢測裝置，對電子陶瓷的正面外觀進行檢測，再經過翻轉機構對電子陶瓷進行翻轉，將電子陶瓷的背面翻轉到上方并輸送至第二檢測裝置，對電子陶瓷的背面進行檢測，完成對環形電子陶瓷的外觀檢測。

技術領域

本實用新型涉及電子陶瓷檢測設備技術領域，特別涉及一種雙轉盤多相機電子陶瓷檢測剔除同步系統。

背景技術

電子陶瓷產品一般需要通過特有的檢測成像設備進行外觀檢測，而針對環形電子陶瓷產品需要對其正面、反面、內環壁和外環壁的外觀均進行檢測，而目前的檢測設備由于檢測功能單一，可檢測的維度較低，難以滿足環形電子陶瓷產品外觀檢測的需求。

實用新型內容

為解決上述技術問題，本實用新型提供了一種雙轉盤多相機電子陶瓷檢測剔除同步系統，具有可檢測環形電子陶瓷片的外觀的優點。

為達到上述目的，本實用新型的技術方案如下：

一種雙轉盤多相機電子陶瓷檢測剔除同步系統，包括：

機架；

設置于所述機架的一側、用于對待檢測電子陶瓷進行整理和排列的上料機構；

設置在所述機架上用于檢測電子陶瓷的正面、內側壁和外側壁的第一檢測裝置；

設置在所述機架上且位于所述第一檢測裝置一側、用于檢測電子陶瓷背面的第二檢測裝置；以及，

設置在所述第一檢測裝置和所述第二檢測裝置之間、用于將所述第一檢測裝置檢測完成的電子陶瓷翻轉移動至所述第二檢測裝置的翻轉機構；

其中，所述第一檢測裝置包括：承載于所述機架的第一轉盤機構、設置在所述第一轉盤機構的一側用于將自所述上料機構的出料端排入到所述第一轉盤機構上的電子陶瓷置于所述第一轉盤機構的預定位置處的第一擋料機構、設置在所述第一轉盤機構的一側用于對電子陶瓷的正面進行拍攝的第一拍攝機構、設置在所述第一轉盤機構用于對電子陶瓷的內側壁和外側壁進行拍攝的第二拍攝機構、以及設置于所述第一轉盤機構的一側用于將存在缺陷的電子陶瓷排出的第一廢品收集機構；

所述第一檢測裝置包括：承載于所述機架且位于所述第一轉盤機構一側的第二轉盤機構、設置在所述第二轉盤機構的一側用于將自所述翻轉機構翻轉后排入到所述第二轉盤機構上的電子陶瓷置于所述第二轉盤機構的預定位置處的第二擋料機構、設置在所述第二轉盤機構的一側用于對電子陶瓷的正面進行拍攝的第三拍攝機構、設置于所述第二轉盤機構的一側用于將存在缺陷的電子陶瓷排出的第二廢品收集機構、以及設置于所述第二廢品收集機構的一側用于將檢測通過的電子陶瓷排出的成品收集機構。