[實用新型]等級選擇裝置

有效

• 申請號: 201920056463.8
• 申請日: 2019-01-14
• 公開（公告）號: CN209387817U
• 公開（公告）日: 2019-09-13
• 發明（設計）人: 李永勝
• 申請（專利權）人: 上海兆芯集成電路有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

一種等級選擇裝置，包括：一移位寄存器、一高通濾波器、一第一SR鎖存器、一第二SR鎖存器、一鎖相回路、一選擇電路、一隨機圖形產生器、一數字比較器、一分頻器以及多個D型觸發器。移位寄存器用于產生多個位移位。第一SR鎖存器經由高通濾波器接收一初始化信號。鎖相回路用于產生多個頻率信號。選擇電路用于選擇一頻率信號并輸出至隨機圖形產生器和一發射器。數字比較器用于比較發射器的一輸入信號和一接收器的一輸出信號，再據以控制前述D型觸發器來產生多個等級位。第二SR鎖存器用于產生一終止信號。本實用新型可自動進行各種等級的頻率測試，從而有助于最佳化芯片端的操作性能。

技術領域

本實用新型關于一種等級選擇裝置，特別是關于適用于內建自我測試(Built-InSelf-Test，BIST)系統的等級選擇裝置。

背景技術

在集成電路(Integrated Circuit，IC)的芯片進入大量生產之前，必須先經過自動測試設備(Automated Test Equipment，ATE)作一次最后上線前測試。然而，由于自動測試設備的每單位使用時間非常昂貴，設計者通常會找尋其他替代方案。例如，若芯片(Chip)具有內建自我測試(Built-In Self-Test，BIST)系統，即可節省許多自動測試設備的使用時間。然而，現存的內建自我測試系統仍有許多缺陷，有必要提出一種全新的解決方法加以改進。

實用新型內容

在較佳實施例中，本實用新型提供一種等級選擇裝置，設置于芯片中，與發射器和接收器進行互動，該發射器用于接收輸入信號，該接收器用于輸出輸出信號，而該等級選擇裝置包括：第二反相器；移位寄存器，具有時脈端、重設端以及多個輸出端，其中該移位寄存器的該時脈端用于接收分頻位，該移位寄存器的該重設端經由該第二反相器來接收初始化信號，而該移位寄存器的該等輸出端用于輸出第一位移位、第二位移位、第三位移位以及第四位移位，其中該初始化信號用于開始該等級選擇裝置的偵錯程序；高通濾波器；第一SR鎖存器，具有設定端、重設端以及輸出端，其中該第一SR鎖存器的該設定端經由該高通濾波器來接收該初始化信號，該第一SR鎖存器的該重設端用于接收該分頻位，而該第一SR鎖存器的該輸出端用于輸出觸發位；鎖相回路，產生第一頻率信號、第二頻率信號、第三頻率信號以及第四頻率信號；選擇電路，根據該觸發位、該第一位移位、該第二位移位以及該第三位移位來選擇該第一頻率信號、該第二頻率信號、該第三頻率信號以及該第四頻率信號其中之一作為選擇頻率信號；隨機波形產生器，根據該選擇頻率信號來產生該輸入信號；數字比較器，比較該輸入信號和該輸出信號，以產生偵錯位；分頻器，根據該選擇頻率信號來產生該分頻位以設定該輸入信號的時間長度；第一D型觸發器，具有時脈端、數據端以及輸出端，其中該第一D型觸發器的該時脈端用于接收該偵錯位，該第一D型觸發器的該數據端用于接收該第一位移位，而該第一D型觸發器的該輸出端用于輸出第一等級位；第二D型觸發器，具有時脈端、數據端以及輸出端，其中該第二D型觸發器的該時脈端用于接收該偵錯位，該第二D型觸發器的該數據端用于接收該第二位移位，而該第二D型觸發器的該輸出端用于輸出第二等級位；第三D型觸發器，具有時脈端、數據端以及輸出端，其中該第三D型觸發器的該時脈端用于接收該偵錯位，該第三D型觸發器的該數據端用于接收該第三位移位，而該第三D型觸發器的該輸出端用于輸出第三等級位；第三反相器；第四反相器，耦接至該第三反相器；第四D型觸發器，具有時脈端、數據端以及輸出端，其中該第四D型觸發器的該時脈端經由該第三反相器和該第四反相器來接收該第四位移位，該第四D型觸發器的該數據端用于接收該第四位移位，而該第四D型觸發器的該輸出端用于輸出第四等級位，其中該第一等級位、該第二等級位、該第三等級位以及該第四等級位用于指示該芯片的最高操作頻率；或門，具有第一輸入端、第二輸入端以及輸出端，其中該或門的該第一輸入端用于接收該第四位移位，該或門的該第二輸入端用于接收該偵錯位，而該或門的該輸出端用于輸出程序控制位；第五反相器；以及第二SR鎖存器，具有設定端、重設端以及輸出端，其中該第二SR鎖存器的該設定端用于接收該程序控制位，該第二SR鎖存器的該重設端經由該第五反相器來接收該程序控制位，而該第二SR鎖存器的該輸出端用于輸出終止信號，其中該終止信號用于指示該等級選擇裝置的該偵錯程序已完成。