[實(shí)用新型]一種基于圓弧形滑軌式的緊縮場(chǎng)天線測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201920046279.5
• 申請(qǐng)日: 2019-01-11
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN210015171U
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-02-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳宇欽;張佳鶯;范勇;袁國(guó)強(qiáng)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海益麥電磁技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01R29/10
• 分類號(hào): G01R29/10;G01R1/04
• 代理公司: 31280 上海申浩律師事務(wù)所
• 代理人: 房平木

一種基于圓弧形滑軌式的緊縮場(chǎng)天線測(cè)試裝置，包括計(jì)算機(jī)、測(cè)量?jī)x表、控制單元、射頻單元、圓弧形滑軌、固定于滑軌上可沿滑軌移動(dòng)的極化轉(zhuǎn)軸、可沿弧形滑軌運(yùn)動(dòng)的平面波產(chǎn)生器(例如金屬反射面)、被測(cè)件、被測(cè)件多軸轉(zhuǎn)臺(tái)；該實(shí)用新型通過(guò)旋轉(zhuǎn)由平面波產(chǎn)生器產(chǎn)生的小型化可旋轉(zhuǎn)緊縮場(chǎng)，在特定的局部區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生測(cè)試所需的平面波，從而實(shí)現(xiàn)有限物理空間內(nèi)的遠(yuǎn)場(chǎng)條件；該裝置與傳統(tǒng)金屬大型反射面具有相同測(cè)試精度，卻大大降低了所需的反射面尺寸，有效地降低測(cè)試場(chǎng)地成本以及后期維護(hù)成本；在測(cè)量多波束天線時(shí)，可以在保證平面波產(chǎn)生器物理穩(wěn)定性的同時(shí)，精準(zhǔn)的對(duì)每一個(gè)波束進(jìn)行測(cè)量，提高了測(cè)試的精度。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種天線測(cè)試裝置，尤其涉及一種基于圓弧形滑軌式的緊縮場(chǎng)天線測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

通常來(lái)說(shuō)天線的幅度等特性需要在遠(yuǎn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)量。隨著5G時(shí)代的到來(lái)，天線、手機(jī)等終端的工作頻率逐漸升高，還有基站天線等大型被測(cè)件的遠(yuǎn)場(chǎng)條件距離變得很長(zhǎng)，如果直接采用遠(yuǎn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)量，意味著要求的微波暗室尺寸變的非常大，會(huì)使得成本大大增加，才可以保證暗室內(nèi)靜區(qū)的性能，因而在微波暗室的實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)場(chǎng)條件變得困難。并且隨著遠(yuǎn)場(chǎng)距離的增加路徑損耗變大，從而導(dǎo)致的測(cè)試精度下降也是不容忽視的問(wèn)題。緊縮場(chǎng)裝置的出現(xiàn)部分解決了上述2個(gè)問(wèn)題。

一般來(lái)說(shuō)，緊縮場(chǎng)裝置可以將饋源產(chǎn)生的球面波在短距離內(nèi)轉(zhuǎn)換成平面波，以獲得極佳暗室靜區(qū)性能，實(shí)現(xiàn)在有限物理空間內(nèi)的無(wú)源 /有源天線的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試；因此緊縮場(chǎng)裝置是5G通信及車載雷達(dá)等產(chǎn)品天線測(cè)量的理想方案；緊縮場(chǎng)裝置可測(cè)試不同種類的天線，例如有源天線裝置、陣列天線、高方向性天線、特別適用于高頻毫米波天線的測(cè)量。也可以測(cè)試不同的指標(biāo)，例如5G基站天線的波束賦形方向圖和EIRP、EVM、占用帶寬、ACLR(Adjacent Channel Leakage Power Ration，相鄰頻道泄漏功率比)、EIS、ACS(AdjacentChannel Selectivity，臨道選擇性)等射頻輻射指標(biāo)。

緊縮場(chǎng)測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)是：相比遠(yuǎn)場(chǎng)大幅縮減了場(chǎng)地尺寸，從而大大降低了場(chǎng)地建設(shè)成本和測(cè)量路徑損耗。得益于路徑損耗的降低，它可以比遠(yuǎn)場(chǎng)方案測(cè)量更多的射頻輻射指標(biāo)。但是對(duì)于大型被測(cè)件，例如基站天線，緊縮場(chǎng)反射面造價(jià)和后期維護(hù)成本較高。解決需要大型反射面場(chǎng)合時(shí)的成本造價(jià)以及加工難度問(wèn)題

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型公開(kāi)了一種基于圓弧形滑軌式的緊縮場(chǎng)天線測(cè)試裝置，該天線測(cè)試裝置使用小型平面波產(chǎn)生器，在短距離內(nèi)產(chǎn)生平面波，應(yīng)用滑軌式結(jié)構(gòu)，配合多軸轉(zhuǎn)臺(tái)以及極化轉(zhuǎn)軸，可以在有限物理空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)理想的遠(yuǎn)場(chǎng)條件。

本實(shí)用新型公開(kāi)了一種基于圓弧形滑軌式的緊縮場(chǎng)天線測(cè)試裝置，包括被測(cè)件、放置被測(cè)件的被測(cè)件轉(zhuǎn)臺(tái)，還包括滑軌、極化轉(zhuǎn)軸和平面波產(chǎn)生器；所述滑軌呈圓形或者圓弧形，所述平面波產(chǎn)生器固定于所述極化轉(zhuǎn)軸上，所述極化轉(zhuǎn)軸固定于滑軌之上且沿滑軌滑動(dòng)，所述極化轉(zhuǎn)軸的軸向指向所述滑軌的圓心，所述被測(cè)件轉(zhuǎn)臺(tái)放置于所述滑軌的圓心。

另外，根據(jù)本實(shí)用新型公開(kāi)的一種基于圓弧形滑軌式的緊縮場(chǎng)天線測(cè)試裝置還具有如下附加技術(shù)特征：

進(jìn)一步地，所述的平面波產(chǎn)生器固定在所述極化轉(zhuǎn)軸上，隨著極化轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)。

進(jìn)一步地，所述平面波產(chǎn)生器包括是帶有饋源的拋物面型金屬反射面緊縮場(chǎng)，或者透鏡式緊縮場(chǎng)，或者基于探頭陣列天線的緊縮場(chǎng)反射器。

進(jìn)一步地，所述平面波產(chǎn)生器包括是帶有饋源的拋物面型金屬反射面緊縮場(chǎng)，或者透鏡式緊縮場(chǎng)，或者基于探頭陣列天線的緊縮場(chǎng)反射器；金屬反射器或者透鏡式緊縮場(chǎng)，是利用金屬反射面或透鏡把位于焦點(diǎn)處的饋源發(fā)出的球面波轉(zhuǎn)換為平面波，從而實(shí)現(xiàn)有限物理空間內(nèi)的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試。對(duì)于基于探頭陣列的緊縮場(chǎng)反射器，該陣列包括多個(gè)寬頻帶天線陣元天線，以一定的間隔呈1維或者2維分布在平面上，通過(guò)調(diào)整相控陣列天線的幅度和相位(即波束賦形網(wǎng)路)形成的基于天線陣列的緊縮場(chǎng)反射器，可在指定區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生測(cè)試所需要的平面波。