[實用新型]雙離子束共濺射納米膜設備有效
| 申請號: | 201920031842.1 | 申請日: | 2019-01-09 |
| 公開(公告)號: | CN209619442U | 公開(公告)日: | 2019-11-12 |
| 發明(設計)人: | 不公告發明人 | 申請(專利權)人: | 偉業智芯(北京)科技有限公司 |
| 主分類號: | C23C14/46 | 分類號: | C23C14/46 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 102101 北京市延慶區*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 雙離子束 共濺射 納米膜 靶臺 致密 本實用新型 膜厚測量儀 薄膜制備 抽氣系統 鍍膜工件 多層薄膜 工件組件 均勻性好 連續濺射 吸附能力 離子源 真空室 靶材 濺射 膜質 主源 制備 薄膜 清洗 剝離 | ||
1.一種雙離子束共濺射納米膜設備,其特征在于,包括:
真空室(1),一種金屬殼體,本底真空不低于1×10-5Pa;
左側離子源(3)和右側離子源(2),分別安裝在所述真空室(1)的左右上方,是一種聚焦離子源,可產生聚焦的左側離子束(31)和右側離子束(21);
工件組件(4),安裝在所述真空室(1)的正上方,由電機驅動旋轉軸(41),實現安裝在所述旋轉軸(41)下部的鍍膜工件(42)行星旋轉;
左側靶臺(5)和右側靶臺(6),分別安裝在所述真空室(1)的左右中部位置,所述左側離子束(31)和右側離子束(21)正好聚焦在左側靶臺(5)和右側靶臺(6)上表面;
輔源(7),安裝在所述真空室(1)的正后下方,能發射平行或發散輔源離子束(71),對準鍍膜工件(42)進行原位剝離清洗;
膜厚測量儀(9),安裝在鍍膜工件(42)位置的側位,對沉積在所述鍍膜工件(42)上表面的薄膜進行膜厚測量;
抽氣系統(8),安裝在所述真空室(1)的正下方,并與所述真空室(1)連通,對真空室(1)抽真空。
2.根據權利要求1所述的雙離子束共濺射納米膜設備,其特征在于,所述左側靶臺(5)和右側靶臺(6)是水冷靶臺。
3.根據權利要求1所述的雙離子束共濺射納米膜設備,其特征在于,所述抽氣系統(8)由分子泵(81)、機械泵(82)、插板閥(83)、管路(84)組成。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于偉業智芯(北京)科技有限公司,未經偉業智芯(北京)科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201920031842.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種卷繞式真空鍍膜機
- 下一篇:離子束設備用雙燈絲中和器
- 同類專利
- 專利分類





