[實用新型]一種測距裝置及移動平臺

有效

• 申請號: 201920021445.6
• 申請日: 2019-01-07
• 公開（公告）號: CN209979845U
• 公開（公告）日: 2020-01-21
• 發明（設計）人: 董帥;洪小平
• 申請（專利權）人: 深圳市大疆創新科技有限公司
• 主分類號: G01S17/08
• 分類號: G01S17/08;G01S7/481
• 代理公司: 11336 北京市磐華律師事務所
• 代理人: 高偉;翟海青

1.一種測距裝置，其特征在于，所述測距裝置包括：

發射器，用于發射光脈沖序列；

準直元件，所述準直元件位于所述發射器的發射光路上，用于將所述發射器發射的光脈沖序列準直后出射；

會聚元件，所述會聚元件用于將經物體反射的回光的至少一部分匯聚至探測器；

所述探測器用于接收所述回光的至少一部分并轉換為電信號，以及根據所述電信號確定所述物體與所述測距裝置的距離和/或方位；

第一預整形元件和/或第二預整形元件，所述第一預整形元件設置在所述準直元件和所述發射器的出光面之間的所述發射光路上，所述第二預整形元件設置在所述會聚元件和所述探測器的感光面之間的所述回光的接收光路上；

其中，所述準直元件的有效口徑大于所述第一預整形元件的有效口徑，所述會聚元件的有效口徑大于所述第二預整形元件的有效口徑，所述第一預整形元件是非球面透鏡，所述準直元件是球面透鏡。

2.如權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，所述準直元件的有效焦距大于或等于所述第一預整形元件的10倍有效焦距，和/或，所述會聚元件的有效焦距大于或等于所述第二預整形元件的10倍有效焦距。

3.如權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，所述發射器的出射光軸、所述第一預整形元件的光軸、所述準直元件的光軸中的至少兩項同軸，所述發射器的出光面與所述第一預整形元件的距離小于所述第一預整形元件的焦距。

4.如權利要求3所述的測距裝置，其特征在于，所述發射器的出光面位于所述準直元件的后向焦點和所述第一預整形元件之間。

5.如權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，第一光學系統包括所述準直元件和所述第一預整形元件，所述發射器的出光面位于所述第一光學系統的焦平面處；

和/或，

第二光學系統包括所述會聚元件和所述第二預整形元件，所述探測器包括感光面，所述感光面位于所述第二光學系統的焦平面處。

6.如權利要求5所述的測距裝置，其特征在于，所述發射器發射的所述光脈沖序列的有效發散角小于或等于180×D/(π×f)，其中，D為所述準直元件的有效口徑，f為所述第一光學系統的焦距。

7.如權利要求5所述的測距裝置，其特征在于，所述探測器的有效接收角α滿足以下公式：

α≤180×D/(π×f)，

其中，D為所述會聚元件的有效口徑，f為所述第二光學系統的焦距。

8.如權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，所述發射器發射的光脈沖序列的有效發散角小于所述探測器的有效接收角。

9.如權利要求5所述的測距裝置，其特征在于，所述探測器的有效感光尺寸大于或等于2倍的所述第二光學系統的艾里斑的尺寸。

10.如權利要求9所述的測距裝置，其特征在于，所述探測器的有效感光尺寸大于或等于2倍的所述第二光學系統的艾里斑的直徑。

11.如權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，所述探測器的有效感光尺寸大于所述發射器的有效發光尺寸。

12.如權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，所述探測器的感光面的形狀包括圓形、橢圓形或長方形。

13.如權利要求5所述的測距裝置，其特征在于，所述第一光學系統的有效焦距范圍在20mm～200mm之間，和/或，所述第二光學系統的有效焦距范圍在20mm～200mm之間。

14.如權利要求5所述的測距裝置，其特征在于，所述發射器的出光面放置于所述第一光學系統的后焦平面處。