[發(fā)明專利]一種發(fā)光二極管芯片及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911425195.3 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111106214A | 公開(公告)日: | 2020-05-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊凱;李有群;楊明濤;林洪劍;甄炯炯;張振龍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廈門士蘭明鎵化合物半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L33/12 | 分類號(hào): | H01L33/12;H01L33/22;H01L33/38;H01L33/40;H01L33/00 |
| 代理公司: | 北京成創(chuàng)同維知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡純;張靖琳 |
| 地址: | 361012 福建省廈門市中國(福建)自由貿(mào)易試*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 發(fā)光二極管 芯片 及其 制備 方法 | ||
1.一種發(fā)光二極管芯片,包括:
轉(zhuǎn)移基板和依次層疊在所述轉(zhuǎn)移基板上的粘合層,介質(zhì)膜層,P型歐姆接觸層,P型電流擴(kuò)展層,P型限制層,有源層,N型限制層,N型粗化層,N型歐姆接觸層;以及,
上電極,位于所述N型歐姆接觸層上;
下電極,位于所述轉(zhuǎn)移基板下;
其中,所述N型粗化層與所述N型限制層之間還設(shè)置有應(yīng)力漸變層,所述應(yīng)力漸變層中鋁元素的組分小于所述N型粗化層中鋁元素的組分。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管芯片,其中,
所述N型粗化層的材質(zhì)為鋁鎵銦磷化合物(AlxGa(1-x))0.5In0.5P;
所述N型限制層的材質(zhì)為鋁銦磷化合物AlInP;
所述應(yīng)力漸變層的材質(zhì)為鋁鎵銦磷化合物(AlyGa(1-y))0.5In0.5P。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的發(fā)光二極管芯片,其中,
所述N型粗化層包括組分滿足0.4x0.9的鋁。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管芯片,其中,
所述應(yīng)力漸變層包括組分滿足0.4yx的鋁。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管芯片,其中,所述上電極半徑大于30微米。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管芯片,其中,
所述上電極包括多層金屬層。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的發(fā)光二極管芯片,其中,
所述上電極包括依次堆疊設(shè)置的第一金層、金鍺鎳合金層、第二金層、鉑層以及鋁層,所述第一金層與所述N型歐姆接觸層接觸。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管芯片,其中,
所述發(fā)光二極管芯片為磷化鋁鎵銦發(fā)光二極管芯片。
9.一種發(fā)光二極管芯片的制備方法,其中,包括:
提供基板和轉(zhuǎn)移基板;
在基板上依次形成腐蝕停止層、N型歐姆接觸層、N型粗化層、N型限制層、有源層、P型限制層、P型電流擴(kuò)展層、P型歐姆接觸層;
其中,在形成N型限制層之前,還在N型粗化層之上形成應(yīng)力漸變層。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的發(fā)光二極管芯片的制備方法,其中,
所述N型粗化層的材質(zhì)鋁鎵銦磷化合物為(AlxGa(1-x))0.5In0.5P,鋁的組分滿足0.4x0.9,并用硅離子或碲離子摻雜;
所述N型限制層的材質(zhì)鋁銦磷化合物為AlInP;
所述應(yīng)力漸變層的材質(zhì)為鋁鎵銦磷化合物(AlyGa(1-y))0.5In0.5P,鋁的組分滿足0.4yx。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的發(fā)光二極管芯片的制備方法,其中,還包括:
在所述P型歐姆接觸層上依次形成介質(zhì)膜層以及第一金屬層,并依次對(duì)所述介質(zhì)膜層和所述第一金屬層進(jìn)行退火;
在轉(zhuǎn)移基板上形成第二金屬層;
將所述介質(zhì)膜層上的所述第一金屬層與所述轉(zhuǎn)移基板上的第二金屬層鍵合,形成粘合層;
去除所述基板和所述腐蝕停止層暴露出所述N型歐姆接觸層,在所述N型歐姆接觸層上制作上電極并對(duì)上電極進(jìn)行退火;
在所述轉(zhuǎn)移基板下制作下電極并對(duì)所述下電極進(jìn)行退火。
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