[發(fā)明專利]一種基于損傷特征參數(shù)提取算法的裂紋損傷監(jiān)測方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911422582.1
• 申請日: 2019-12-31
• 公開（公告）號: CN111044471A
• 公開（公告）日: 2020-04-21
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 金博;張峰;張衛(wèi)方
• 申請（專利權(quán)）人: 中國電子科技集團公司信息科學研究院
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31
• 代理公司: 北京中知法苑知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11226
• 代理人: 李明;趙吉陽

1.一種基于損傷特征參數(shù)提取算法的裂紋損傷監(jiān)測方法，其特征在于，包括如下步驟：

Hilbert變換步驟S110：獲取放置在材料結(jié)構(gòu)損傷監(jiān)測處的光纖光柵傳感器的光譜，對光譜進行Hilbert變換得到該波段內(nèi)包含的主峰數(shù)目，并針對每一傳感器對應(yīng)的反射光譜峰值波長進行分析獲得最大能量或者強度；

有效反射光譜邊界劃分步驟S130：將采集到的光譜區(qū)域依據(jù)光譜能量一半的位置作為光譜邊界進行劃分，提取光譜寬度；

數(shù)據(jù)信息提取步驟S140：在所確認的光譜邊界范圍內(nèi)，提取該區(qū)域?qū)?yīng)的有效光纖光柵光譜數(shù)據(jù)信息。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裂紋損傷監(jiān)測方法，其特征在于：

在步驟S110和S130之間，還具有中心波長求解步驟S120，通過對光纖光柵光譜的求取質(zhì)心來近似求解光纖光柵光譜的中心波長，將波長作為質(zhì)點系的位失，將反射光譜的光功率作為質(zhì)心系中的質(zhì)量，并對每個光譜數(shù)據(jù)分配相應(yīng)的加權(quán)系數(shù)，做所有數(shù)據(jù)的加權(quán)平均值，所述加權(quán)平均值反映整個反射譜上的光功率分布情況，取該加權(quán)平均值的結(jié)果作為光纖光柵反射譜的中心波長。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裂紋損傷監(jiān)測方法，其特征在于：

在進行Hilbert變換前，首先將所獲得的光纖光柵傳感器的光譜進行去噪處理。