[發(fā)明專利]一種儀控卡件的可靠性檢測方法

在審

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• 申請日: 2019-12-31
• 公開（公告）號: CN111090037A
• 公開（公告）日: 2020-05-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 康澄杰;秦鳳;錢玉剛;朱桂霞;周田蜜;李艷良
• 申請（專利權(quán)）人: 中核武漢核電運行技術(shù)股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 核工業(yè)專利中心 11007
• 代理人: 李東斌

1.一種儀控卡件的可靠性檢測方法，其特征在于：該方法具體包括如下步驟：

步驟1、根據(jù)待檢測卡件的功能，搭建仿真模型；

步驟2、對待檢測卡件進行拷機測試；

步驟3、輸入與拷機測試相同的工況，并對待檢測卡件進行仿真分析；

步驟4、根據(jù)仿真結(jié)果構(gòu)建案例庫，并通過拷機波形與特征案例波形進行對比進行故障診斷，確定待檢測卡件拷機狀態(tài)和故障位置，完成卡件可靠性檢測。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種儀控卡件的可靠性檢測方法，其特征在于：所述的步驟1中搭建仿真模型的具體步驟為：

步驟1.1、確定待檢測卡件對象，閱讀卡件相關(guān)資料，分析獲得待檢測卡件的功能、作用及輸入輸出；

步驟1.2、獲取待檢測卡件的原理圖，并分解卡件的功能模塊；

步驟1.3、利用仿真軟件繪制待檢測卡件原理圖，并依此搭接仿真模型。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種儀控卡件的可靠性檢測方法，其特征在于：所述的步驟2中對檢測卡件進行拷機測試的具體步驟為：

步驟2.1、對待檢測卡件進行測例空載測試；

步驟2.2、利用小電壓小電流對卡件進行帶載測試；

步驟2.3、對待測卡件輸入不同工況條件下的輸入激勵，調(diào)節(jié)錄波頻率，并獲得各個測點的輸出波形。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或3所述的一種儀控卡件的可靠性檢測方法，其特征在于：對待測卡件進行拷機測試時，對待測卡件進行7*24小時不間斷拷機能力測試，通過不斷調(diào)節(jié)機箱溫度、濕度，模擬卡件的真實工作環(huán)境；通過隨機改變卡件的相關(guān)輸入激勵，模擬卡件的異常工作環(huán)境和正常工作環(huán)境；在2kHz～100kHz范圍內(nèi)選定錄波頻率，采集測試卡件各個測點的輸出波形。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種儀控卡件的可靠性檢測方法，其特征在于：所述的步驟3中對待測試卡件進行仿真的具體步驟為：

步驟3.1、獲取待測卡件在不同工況下的輸入激勵；

步驟3.2、利用仿真模型模擬正常卡件電路，獲得正常卡件在異常工作環(huán)境和/或正常工作環(huán)境下的標(biāo)準(zhǔn)波形；

步驟3.2、利用仿真模型模擬部分電路故障情況，獲得故障卡件在異常工作環(huán)境和/或正常工作環(huán)境下的標(biāo)準(zhǔn)波形；

步驟3.3、利用仿真結(jié)果完善案例庫。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種儀控卡件的可靠性檢測方法，其特征在于：所述的正常卡件標(biāo)準(zhǔn)波形包括正常卡件在輸入異常工況下的相關(guān)輸入激勵所獲得的標(biāo)準(zhǔn)波形，以及正常卡件在輸入正常工況下的相關(guān)輸入激勵所獲得的標(biāo)準(zhǔn)波形；所述的異常卡件標(biāo)準(zhǔn)波形包括異常卡件在輸入異常工況下的相關(guān)輸入激勵所獲得的標(biāo)準(zhǔn)波形，以及異常卡件在輸入正常工況下的相關(guān)輸入激勵所獲得的標(biāo)準(zhǔn)波形。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種儀控卡件的可靠性檢測方法，其特征在于：所述的步驟4中進行故障診斷的具體步驟為：

步驟4.1、利用現(xiàn)有波形對比算法，對待測卡件拷機波形與相應(yīng)特征案例庫波形進行對比；

步驟4.2、獲得Manhattan距離M值的最小波形；

步驟4.3、判斷卡件是否存在故障，若存在故障，則極易故障樹，獲得故障的可能位置。