[發明專利]一種異質結太陽能電池成膜生產工藝在審
| 申請號: | 201911420457.7 | 申請日: | 2019-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN111312853A | 公開(公告)日: | 2020-06-19 |
| 發明(設計)人: | 鮑少娟;白焱輝;王繼磊;張娟;黃金 | 申請(專利權)人: | 晉能光伏技術有限責任公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0747;H01L21/205 |
| 代理公司: | 鎮江京科專利商標代理有限公司 32107 | 代理人: | 朱坤保 |
| 地址: | 030600 山西省晉*** | 國省代碼: | 山西;14 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 異質結 太陽能電池 生產工藝 | ||
1.一種異質結太陽能電池成膜生產工藝,其特征在于,具體工藝為:先將制絨清洗后、待成膜的單晶硅片裝至基板上,并至少在一個成膜單元對基板上的單晶硅片采用等離子體處理后再直接對單晶硅片進行一次i型非晶硅成膜和n型非晶硅成膜或單獨進行i型非晶硅成膜;還采用另外一個或多個成膜單元對單晶硅片進行另外一面的非晶硅成膜;最后將完成工藝處理的承載單晶硅片的基板移出沉積系統外,冷卻,卸載硅片。
2.按照權利要求1所述的異質結太陽能電池成膜生產工藝,其特征在于,包括以下步驟:
A、將制絨清洗后、待成膜的單晶硅片裝至第一基板上;
B、第一基板被傳送入第一成膜單元,對基板上的單晶硅片采用等離子體處理;在第一成膜單元內對單晶硅片進行第一次i型非晶硅成膜并繼續在第一成膜單元沉積n型非晶硅;
C、將第一基板從第一成膜單元中傳出,將單晶硅片翻面,放在另外一塊第二基板上;
D、第二基板被傳送入第二成膜單元,對基板上的單晶硅片采用等離子體處理;在第二成膜單元內完成單晶硅片另一面的i型非晶硅成膜;
E、將第二基板從第二成膜單元中傳出,傳送至第三成膜單元并在第三成膜單元內進行第四次p型非晶硅成膜;
F、將完成工藝處理的承載單晶硅片的基板移出沉積系統外,冷卻,卸載硅片。
3.按照權利要求1所述的異質結太陽能電池成膜生產工藝,其特征在于,包括以下步驟:
A、將制絨清洗后、待成膜的單晶硅片裝至第一基板上;
B、第一基板被傳送入第一成膜單元,對基板上的單晶硅片采用等離子體處理;在第一成膜單元內對單晶硅片進行第一次i型非晶硅成膜;
C、將第一基板從第一成膜單元中傳出,繼續被傳送入第二成膜單元,在第二成膜單元內對單晶硅片完成沉積p型非晶硅;
D、將第二基板從第二成膜單元中傳出,將單晶硅片翻面,放在另外一塊第二基板上,傳送至第三成膜單元采用等離子體處理單晶硅片;在第三成膜單元內對硅基板沉積另外一面i型非晶硅和n型非晶硅;
E、將完成工藝處理的承載單晶硅片的基板移出沉積系統外,冷卻,卸載硅片。
4.按照權利要求1所述的異質結太陽能電池成膜生產工藝,其特征在于,包括以下步驟:
A、將制絨清洗后、待成膜的單晶硅片裝至第一基板上;
B、第一基板被傳送入第一成膜單元,對基板上的單晶硅片采用等離子體處理;在第一成膜單元內對單晶硅片進行第一次i型非晶硅成膜并繼續在第一成膜單元沉積n型非晶硅;
C、將第一基板從第一成膜單元中傳出,將單晶硅片翻面,放在另外一塊第二基板上;第二基板被再次傳送入第一成膜單元,對基板上的單晶硅片采用等離子體處理;在第一成膜單元內完成硅片另一面的i型非晶硅成膜;
D、將第二基板從第一成膜單元中傳出,繼續傳送至第二成膜單元,在第二成膜單元內繼續完成硅片另一面的P型非晶硅成膜;
E、將完成工藝處理的承載單晶硅片的基板移出沉積系統外,冷卻,卸載硅片。
5.按照權利要求1所述的異質結太陽能電池成膜生產工藝,其特征在于,包括以下步驟:
A、將制絨清洗后、待成膜的單晶硅片裝至第一基板上;
B、第一基板被傳送入第一成膜單元,對基板上的單晶硅片采用等離子體處理;在第一成膜單元內對單晶硅片進行第一次i型非晶硅成膜并繼續在第一成膜單元沉積n型非晶硅;
C、將第一基板從第一成膜單元中傳出,將單晶硅片翻面,放在另外一塊第二基板上;
D、第二基板被傳送入第二成膜單元,對基板上的單晶硅片采用等離子體處理;在第二成膜單元內完成單晶硅片另一面的i型非晶硅和p型非晶硅沉積成膜;
E、將完成工藝處理的承載單晶硅片的基板移出沉積系統外,冷卻,卸載硅片。
6.按照權利要求1所述的異質結太陽能電池成膜生產工藝,其特征在于,包括以下步驟:
A、將制絨清洗后、待成膜的單晶硅片裝至第一基板上;
B、第一基板被傳送入第一成膜單元,對基板上的單晶硅片采用等離子體處理;在第一成膜單元內對單晶硅片進行第一次i型非晶硅成膜并繼續在第一成膜單元沉積p型非晶硅;
C、將第一基板從第一成膜單元中傳出,將單晶硅片翻面,放在另外一個第二基板上;
D、第二基板被傳送入第二成膜單元,對基板上的單晶硅片采用等離子體處理;在第二成膜單元內對單晶硅片完成沉積i型非晶硅成膜,并繼續在第二成膜單元沉積n型非晶硅成膜;
E、將完成工藝處理的承載單晶硅片的基板移出沉積系統外,冷卻,卸載硅片。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于晉能光伏技術有限責任公司,未經晉能光伏技術有限責任公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911420457.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:比較器
- 下一篇:一種應用于磨米機精度檢測方法
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





