[發(fā)明專(zhuān)利]超大尺寸集成電路金錫合金密封過(guò)程中的空洞控制方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911420219.6 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111128761A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-05-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 田愛(ài)民;趙鶴然 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/50 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/50;H01L21/56 |
| 代理公司: | 沈陽(yáng)科苑專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 21002 | 代理人: | 于曉波 |
| 地址: | 110032 遼*** | 國(guó)省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 超大 尺寸 集成電路 合金 密封 過(guò)程 中的 空洞 控制 方法 | ||
1.一種超大尺寸集成電路金錫合金密封過(guò)程中的空洞控制方法,其特征在于:該方法是在將蓋板、焊料環(huán)和管殼進(jìn)行裝配和密封過(guò)程中進(jìn)行空洞控制,其中管殼上與焊料環(huán)接觸的區(qū)域?yàn)楣軞っ芊鈪^(qū);該方法包括如下步驟:
(1)獲取管殼密封區(qū)尺寸;
(2)按比例關(guān)系設(shè)計(jì)蓋板和焊料環(huán)尺寸;
(3)將設(shè)計(jì)好的焊料環(huán)點(diǎn)焊固定在蓋板上,并將蓋板置于管殼密封區(qū)上形成裝配體;
(4)將所述裝配體用壓力源固定后,放入低溫?zé)Y(jié)爐中進(jìn)行燒結(jié)處理,形成密封結(jié)構(gòu)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超大尺寸集成電路金錫合金密封過(guò)程中的空洞控制方法,其特征在于:步驟(1)中,所述管殼密封區(qū)表面依次鍍有鎳層和金層,金在表層,鎳層厚度1.3-8.9um,金層厚度1.3-5.7μm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超大尺寸集成電路金錫合金密封過(guò)程中的空洞控制方法,其特征在于:所述蓋板為圓角矩形板狀結(jié)構(gòu),蓋板的外邊緣尺寸與焊料環(huán)的外環(huán)尺寸完全一致。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超大尺寸集成電路金錫合金密封過(guò)程中的空洞控制方法,其特征在于:所述蓋板為4J42合金或4J29合金,蓋板表面依次覆鍍鎳和金層,蓋板厚度0.38mm;所述的焊料環(huán)為AuSn合金,AuSn合金中Au含量為80wt.%,Sn含量為20wt.%;焊料環(huán)厚度50μm。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的超大尺寸集成電路金錫合金密封過(guò)程中的空洞控制方法,其特征在于:步驟(4)中,所述壓力源采用不銹鋼彈簧夾,共4只,每只彈簧夾向蓋板施加的壓力值均為2.0磅,施力位置為蓋板四角位置。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超大尺寸集成電路金錫合金密封過(guò)程中的空洞控制方法,其特征在于:步驟(1)中,所述管殼密封區(qū)為環(huán)形結(jié)構(gòu),外環(huán)與內(nèi)環(huán)均為圓角矩形,管殼密封區(qū)各部分尺寸定義如下:
密封區(qū)外環(huán)長(zhǎng)度=A;
密封區(qū)內(nèi)環(huán)長(zhǎng)度=B;
密封區(qū)外環(huán)圓角半徑=C;
密封區(qū)內(nèi)環(huán)圓角半徑=D。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的超大尺寸集成電路金錫合金密封過(guò)程中的空洞控制方法,其特征在于:所述焊料環(huán)為環(huán)狀結(jié)構(gòu),外環(huán)與內(nèi)環(huán)都為圓角矩形,該焊料環(huán)的各部分尺寸定義如下:
焊料環(huán)外環(huán)長(zhǎng)度=A’;
焊料環(huán)內(nèi)環(huán)長(zhǎng)度=B’;
焊料環(huán)外環(huán)圓角半徑=C’;
焊料環(huán)內(nèi)環(huán)圓角半徑=D’。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的超大尺寸集成電路金錫合金密封過(guò)程中的空洞控制方法,其特征在于:所述焊料環(huán)的尺寸與所述管殼密封區(qū)尺寸的比例關(guān)系如公式(1):
公式(1)中:λ+ε+η=100%,且ε=2η,λ∈(63%,67%)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超大尺寸集成電路金錫合金密封過(guò)程中的空洞控制方法,其特征在于:所述燒結(jié)處理過(guò)程中,低溫爐內(nèi)充入純度大于99.999%的高純氮?dú)猓瑹Y(jié)溫度333±5℃。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超大尺寸集成電路金錫合金密封過(guò)程中的空洞控制方法,其特征在于:該密封方法將密封區(qū)周長(zhǎng)大于90mm的超大尺寸集成電路空洞檢驗(yàn)合格率提升到95%以上,且空洞檢查標(biāo)準(zhǔn)為空洞不連續(xù)要小于設(shè)計(jì)寬度的25%。
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