[發(fā)明專利]磁共振成像方法、裝置、存儲介質(zhì)及計(jì)算機(jī)設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911419364.2 | 申請日: | 2019-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN111157935B | 公開(公告)日: | 2022-04-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 呂旭陽;廖術(shù) | 申請(專利權(quán))人: | 上海聯(lián)影智能醫(yī)療科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R33/561 | 分類號: | G01R33/561;G06F17/14 |
| 代理公司: | 北京華進(jìn)京聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11606 | 代理人: | 任少瑞 |
| 地址: | 200232 上海市徐*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 磁共振 成像 方法 裝置 存儲 介質(zhì) 計(jì)算機(jī) 設(shè)備 | ||
1.一種磁共振成像方法,其特征在于,包括:
獲取通過對K空間數(shù)據(jù)進(jìn)行逆傅里葉變換得到的重建數(shù)據(jù),所述K空間數(shù)據(jù)通過欠采樣采集得到,所述重建數(shù)據(jù)包括實(shí)部欠采樣數(shù)據(jù)以及虛部欠采樣數(shù)據(jù);
將所述實(shí)部欠采樣數(shù)據(jù)以及所述虛部欠采樣數(shù)據(jù)輸入預(yù)先訓(xùn)練的數(shù)據(jù)恢復(fù)網(wǎng)絡(luò),得到所述實(shí)部欠采樣數(shù)據(jù)對應(yīng)的實(shí)部全采樣數(shù)據(jù)以及所述虛部欠采樣數(shù)據(jù)對應(yīng)的虛部全采樣數(shù)據(jù);所述數(shù)據(jù)恢復(fù)網(wǎng)絡(luò)包括數(shù)據(jù)生成網(wǎng)絡(luò);
根據(jù)所述實(shí)部全采樣數(shù)據(jù)以及所述虛部全采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行圖像重建,得到磁共振圖像;
所述數(shù)據(jù)生成網(wǎng)絡(luò)的訓(xùn)練過程包括:
獲取欠采樣重建數(shù)據(jù)以及對應(yīng)的全采樣重建數(shù)據(jù),所述欠采樣重建數(shù)據(jù)為通過對欠采樣K空間數(shù)據(jù)進(jìn)行逆傅里葉變換得到,所述全采樣重建數(shù)據(jù)為通過對所述欠采樣K空間數(shù)據(jù)對應(yīng)的全采樣K空間數(shù)據(jù)進(jìn)行逆傅里葉變換得到;
將所述欠采樣重建數(shù)據(jù)輸入所述數(shù)據(jù)生成網(wǎng)絡(luò),通過所述數(shù)據(jù)生成網(wǎng)絡(luò)得到生成數(shù)據(jù);
將所述生成數(shù)據(jù)以及所述全采樣重建數(shù)據(jù)輸入數(shù)據(jù)鑒別網(wǎng)絡(luò),通過所述數(shù)據(jù)鑒別網(wǎng)絡(luò)鑒別所述生成數(shù)據(jù)是否與所述全采樣重建數(shù)據(jù)相同;
基于鑒別結(jié)果對所述數(shù)據(jù)生成網(wǎng)絡(luò)以及所述數(shù)據(jù)鑒別網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行優(yōu)化,得到所述數(shù)據(jù)恢復(fù)網(wǎng)絡(luò);
所述通過所述數(shù)據(jù)生成網(wǎng)絡(luò)得到生成數(shù)據(jù)包括:
確定欠采樣重建數(shù)據(jù)為當(dāng)前初始數(shù)據(jù),并獲取當(dāng)前數(shù)據(jù)恢復(fù)參數(shù);
根據(jù)所述當(dāng)前初始數(shù)據(jù)以及所述當(dāng)前數(shù)據(jù)恢復(fù)參數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)恢復(fù),得到初始生成數(shù)據(jù);
基于所述初始生成數(shù)據(jù)以及所述全采樣重建數(shù)據(jù)得到損失熱力圖,所述損失熱力圖表征所述初始生成數(shù)據(jù)與所述全采樣重建數(shù)據(jù)在單個(gè)像素點(diǎn)上的差異;
根據(jù)所述損失熱力圖調(diào)整當(dāng)前數(shù)據(jù)恢復(fù)參數(shù),確定所述初始生成數(shù)據(jù)為新的當(dāng)前初始數(shù)據(jù),并確定調(diào)整后的數(shù)據(jù)恢復(fù)參數(shù)為新的當(dāng)前數(shù)據(jù)恢復(fù)參數(shù);
返回所述根據(jù)所述當(dāng)前初始數(shù)據(jù)以及所述當(dāng)前數(shù)據(jù)恢復(fù)參數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)恢復(fù)的步驟,直至數(shù)據(jù)恢復(fù)次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)次數(shù),得到所述生成數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述K空間數(shù)據(jù)包括多線圈通道的欠采樣數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述損失熱力圖調(diào)整當(dāng)前數(shù)據(jù)恢復(fù)參數(shù)包括:
基于所述損失熱力圖確定目標(biāo)像素點(diǎn),調(diào)整所述目標(biāo)像素點(diǎn)對應(yīng)的數(shù)據(jù)恢復(fù)權(quán)重。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取欠采樣重建數(shù)據(jù)以及對應(yīng)的全采樣重建數(shù)據(jù)包括:
獲取通過全采樣模式得到的全采樣K空間數(shù)據(jù);
對所述全采樣K空間數(shù)據(jù)進(jìn)行欠采樣,得到所述全采樣K空間數(shù)據(jù)對應(yīng)的欠采樣K空間數(shù)據(jù);
對所述全采樣K空間數(shù)據(jù)以及所述欠采樣K空間數(shù)據(jù)進(jìn)行逆傅里葉變換,得到所述全采樣重建數(shù)據(jù)以及所述欠采樣重建數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述實(shí)部全采樣數(shù)據(jù)以及所述虛部全采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行圖像重建,得到磁共振圖像包括:
當(dāng)所述實(shí)部全采樣數(shù)據(jù)以及所述虛部全采樣數(shù)據(jù)為單通道數(shù)據(jù)時(shí),對所述實(shí)部全采樣數(shù)據(jù)以及所述虛部全采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行取模處理,得到所述磁共振圖像;
當(dāng)所述實(shí)部全采樣數(shù)據(jù)以及所述虛部全采樣數(shù)據(jù)為多通道數(shù)據(jù)時(shí),對所述實(shí)部全采樣數(shù)據(jù)以及所述虛部全采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行取模以及通道合并處理,得到所述磁共振圖像。
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