[發(fā)明專利]一種非接觸式測量圓柱度儀器及測量方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911418385.2 | 申請日： | 2019-12-31 |
| 公開（公告）號： | CN111089546A | 公開（公告）日： | 2020-05-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 郝衛(wèi)東;王瑞卿;楊道國;顏京森;曹冬旺;譚朝全;靳晶森 | 申請（專利權(quán)）人： | 桂林電子科技大學(xué) |
| 主分類號： | G01B11/24 | 分類號： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京金智普華知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11401 | 代理人： | 楊采良 |
| 地址： | 541004 廣西*** | 國省代碼： | 廣西;45 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 接觸 測量 圓柱 儀器 測量方法 | ||
1.一種非接觸式測量圓柱度儀器的測量方法，其特征在于，所述非接觸式測量圓柱度儀器的測量方法包括以下步驟：
步驟一，激光位移傳感器測量工件表面與測量框架的距離，通過1號步進電機旋轉(zhuǎn)帶動同步帶進而帶動激光位移傳感器沿直線導(dǎo)軌移動；并同步記錄激光位移傳感器的激光位移數(shù)據(jù)，對記錄的激光位移傳感器的數(shù)據(jù)進行融合出第一測量點的截面輪廓點云；
步驟二，2號步進電機旋轉(zhuǎn)帶動同步帶進而帶動測量架移動到第二測量點，重復(fù)步驟一上述測量動作得出第二測量點的截面輪廓點云；
步驟三，移動測量架到第三測量點重復(fù)步驟二測量動作得出第三測量點的截面輪廓點云；
步驟四，在測量完第一測量點、第二測量點、第三測量點后，將三個截面的點云連線，判斷三點是否在一條直線上，不在一條直線判斷誤差是否大于0.5mm，若大于則舍棄，小于則進行擬合。
2.如權(quán)利要求1所述的非接觸式測量圓柱度儀器的測量方法，其特征在于，步驟一中，通過1號步進電機帶動直線導(dǎo)軌的滑塊，使四個激光位移傳感器進行直線運動，并同步記錄四個激光位移的數(shù)據(jù)，對記錄的四個激光位移數(shù)據(jù)進行點云合成，得到第一測量點圓柱體的截面圖形。
3.如權(quán)利要求1所述的非接觸式測量圓柱度儀器的測量方法，其特征在于，步驟三中，第一測量點～第三測量點的間距最小2mm。
4.如權(quán)利要求1所述的非接觸式測量圓柱度儀器的測量方法，其特征在于，步驟四中，三個界面的點云連接完成后得到測量模型，對所述測量模型其中一條直線的中點進行做法面，將模型沿法面截開得出的輪廓點云，為被測工件的準確截面，對得到的截面輪廓進行求圓柱度得到工件的圓柱度。
5.一種存儲在計算機可讀介質(zhì)上的計算機程序產(chǎn)品，包括計算機可讀程序，供于電子裝置上執(zhí)行時，提供用戶輸入接口以實施如權(quán)利要求1～4任意一項所述非接觸式測量圓柱度儀器的測量方法。
6.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，儲存有指令，當所述指令在計算機上運行時，使得計算機執(zhí)行如權(quán)利要求1～4任意一項所述非接觸式測量圓柱度儀器的測量方法。
7.一種實現(xiàn)權(quán)利要求1所述非接觸式測量圓柱度儀器的測量方法的非接觸式測量圓柱度儀器，其特征在于，所述非接觸式測量圓柱度儀器設(shè)置有由直線導(dǎo)軌組成的測量架；
導(dǎo)軌滑塊，活動安裝在所述測量架的直線導(dǎo)軌上；
激光位移傳感器，固定安裝在所述導(dǎo)軌滑塊上。
8.如權(quán)利要求7所述非接觸式測量圓柱度儀器，其特征在于，所述測量架的框內(nèi)位置放置有被測工件。
9.如權(quán)利要求7所述非接觸式測量圓柱度儀器，其特征在于，所述測量架上設(shè)置有位置不同的第一測量點、第二測量點和第三測量點。
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